【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及脉冲激光模拟单粒子效应的实验系统，特别是基于光纤探针的脉冲激 光模拟单粒子效应实验系统。
技术介绍
单粒子效应是指空间中的高能粒子入射到运行中的微电子器件或电路，使之产生 逻辑错误、功能异常乃至器件损毁的现象。航天器上使用了大量的微电子器件和集成电路， 航天器的安全可靠运行依赖于这些器件和电路的正常工作，而在轨运行的航天器又时刻处 在宇宙射线和地球辐射带高能粒子的辐射中，一旦发生单粒子效应，有可能对航天器造成 致命的损害。因此，研究集成电路的单粒子效应、寻找抗单粒子效应的措施，对国家航天事 业的发展具有十分重要的意义。为了掌握集成电路中单粒子效应的特征，评估抗单粒子效应措施的效果，在地面 上进行单粒子效应的模拟实验必不可少。主要的地面模拟实验方法有加速器模拟方法、天 然放射源模拟方法和脉冲激光模拟方法。专利号为00261443. X的中国专利公开了单粒子 效应加速器地面模拟装置，该装置以真空靶室为主体，在真空靶室入口处设有降能片更换 装置和光栏，在真空靶室内设有直射注量探测器、散射注量探测器、能量探测器、均勻度探 测器、待测器件支架等部件。该装置既...
【技术保护点】
一种基于光纤探针的脉冲激光模拟单粒子效应实验系统，其特征在于该系统由脉冲激光器（８）、光纤探针（７）和探针台（３）组成，脉冲激光器（８）产生脉冲激光，并使脉冲激光耦合进入光纤探针（７），脉冲激光器（８）产生的单个激光脉冲波长在５００ｎｍ至２０００ｎｍ之间，单个激光脉冲能量在１ｐＪ至１ｕＪ之间，单个激光脉冲长度在１ｆｓ至１００ｎｓ之间；光纤探针（７）的输出端为锥形，锥尖孔径为１０ｎｍ至１ｕｍ之间；光纤探针（７）的输入端连接脉冲激光器（８），光纤探针（７）靠近输出端的一段光纤固定在探针台（３）的探针夹（６）中，光纤探针（７）的输出端接触被测集成电路芯片（１）的被测位置，光纤探针...
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：池雅庆，梁斌，何益百，刘必慰，陈书明，孙永节，
申请(专利权)人：中国人民解放军国防科学技术大学，
类型：发明
国别省市：43[中国|湖南]
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