利用试验数据获取单粒子效应器件敏感截面的方法及装置制造方法及图纸

技术编号:14984685 阅读:189 留言:0更新日期:2017-04-03 16:14
本发明专利技术提供一种利用试验数据获取单粒子效应器件敏感截面的方法及装置,采用预定辐射源进行地面模拟实验,获取敏感器件敏感截面的观测值σ观测,并监测实验中敏感器件的单粒子效应错误个数Nend;将采用美国Los Alamos实验室中子辐射源获得的敏感器件敏感截面的观测值σLANSC与敏感器件敏感截面的观测值σ观测进行除运算,得到第一辅助因子;将采用Rosetta真实环境试验获得的敏感器件敏感截面值σRosetta与敏感器件敏感截面的观测值σ观测进行除运算,得到第二辅助因子;根据第一辅助因子、第二辅助因子计算以及单粒子效应错误个数计算修正因子的值;利用修正因子对敏感器件敏感截面的观测值σ预设修正,获得真实环境大气中子单粒子效应敏感器件的敏感截面,为机载电子设备的防护与评价提供重要依据。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及微电子
,尤其涉及一种利用试验数据获取单粒子效应器件敏感截面的方法及装置
技术介绍
自然空间环境中存在1MeV~1000MeV的高能大气中子,带有存储结构复杂微电子器件的机载电子设备在飞行高度为3000~20000米的自然空间环境中必然会遭遇大约每小时每平方厘米300~18000个1MeV~1000MeV的高能大气中子,产生单粒子效应,从而影响电子设备的可靠性。国际上用敏感截面来表征器件在中子环境中的单粒子效应敏感特性。但是,目前国内还没有真实环境下的敏感截面数据,并且飞行试验成本较高。因此,通过地面模拟试验成为有效的评价器件大气中子单粒子效应敏感特性方法之一。国内,可用于开展地面模拟试验的试验源为14MeV中子辐射源,但是,由于该中子源为单能中子源,而真实环境下中子的能量并不是单能的,因此,利用现有的14MeV中子辐射源进行的模拟试验所得敏感器件的敏感截面与真实环境敏感器件的敏感截面还是存在一定的误差的,并不能直接用于表征敏感器件在真实环境下的敏感特性,进而导致无法准确地对机载电子设备中敏感器件进行安全性分析。
技术实现思路
为解决上述技术问题,本专利技术提出了一种利用试验数据获取单粒子效应器件敏感截面的方法及装置,通过修正预定辐射源的试验数据,获得真实环境下大气中子单粒子效应敏感器件的敏感截面,进而实现对机载电子设备在自然空间环境中遭遇高能中子进行针对性防r>护与评价。本专利技术提供了一种利用试验数据获取单粒子效应器件敏感截面的方法,该方法包括:采用预定辐射源进行地面模拟实验,获取在预定辐射源辐射下敏感器件敏感截面的观测值σ观测,并监测所述模拟实验中敏感器件的单粒子效应错误个数Nend;将采用美国LosAlamos实验室中子辐射源获得的敏感器件敏感截面的观测值σLANSC与所述在预定辐射源辐射下敏感器件敏感截面的观测值σ观测进行除运算,得到第一辅助因子;将采用Rosetta真实环境试验获得的敏感器件敏感截面值σRosetta与所述在预定辐射源辐射下敏感器件敏感截面的观测值σ观测进行除运算,得到第二辅助因子;根据所述第一辅助因子、第二辅助因子以及所述单粒子效应错误个数计算修正因子的值;根据所述修正因子的值对所述在预定辐射源辐射下敏感器件敏感截面的观测值σ观测进行修正。优选地,所述将采用美国LosAlamos实验室中子辐射源获得的敏感器件敏感截面的观测值σLANSC与所述在预定辐射源辐射下敏感器件敏感截面的观测值σ观测进行除运算,得到第一辅助因子,具体包括:获取预先设置的所述采用美国LosAlamos实验室中子辐射源获得的敏感器件敏感截面的观测值σLANSC;计算所述采用美国LosAlamos实验室中子辐射源获得的敏感器件敏感截面的观测值σLANSC与所述在预定辐射源辐射下敏感器件敏感截面的观测值σ观测的比值,作为第一辅助因子。优选地,所述将采用Rosetta真实环境试验获得的敏感器件敏感截面值σRosetta与所述在预定辐射源辐射下敏感器件敏感截面的观测值σ观测进行除运算,得到第二辅助因子,具体包括:获取预先设置的所述采用Rosetta真实环境试验获得的敏感器件敏感截面值σRosetta;计算所述采用Rosetta真实环境试验获得的敏感器件敏感截面值σRosetta与所述在预定辐射源辐射下敏感器件敏感截面的观测值σ观测的比值,作为第二辅助因子。优选地,所述根据所述第一辅助因子、第二辅助因子以及所述单粒子效应错误个数计算修正因子的值,具体包括:根据敏感截面的测量精度计算模型计算精度因子a;计算所述第一辅助因子和第二辅助因子计算的比值,得到加速因子Aβ;根据所述加速因子Aβ、精度因子a以及所述单粒子效应错误个数计算修正因子A,公式如下:A=Aβ±aNend.]]>优选地,所述精度因子a为1.96。优选地,所述根据所述修正因子的值对所述在预定辐射源辐射下敏感器件敏感截面的观测值σ观测进行修正,具体为:计算所述修正因子与所述在预定辐射源辐射下敏感器件敏感截面的观测值σ观测的乘积,得到大气中子单粒子效应敏感器件的敏感截面σ0,公式如下:σ0=σ观测×A。相应的,本专利技术还提出了一种利用试验数据获取单粒子效应器件敏感截面的装置,所述装置包括:获取模块,用于采用预定辐射源进行地面模拟实验,获取在预定辐射源辐射下敏感器件敏感截面的观测值σ观测,并获取监测到的所述模拟实验中敏感器件的单粒子效应错误个数Nend;第一计算模块,将采用美国LosAlamos实验室中子辐射源获得的敏感器件敏感截面的观测值σLANSC与所述在预定辐射源辐射下敏感器件敏感截面的观测值σ观测进行除运算,得到第一辅助因子;第二计算模块,用于将采用Rosetta真实环境试验获得的敏感器件敏感截面值σRosetta与所述在预定辐射源辐射下敏感器件敏感截面的观测值σ观测进行除运算,得到第二辅助因子;修正因子获取模块,用于根据所述第一辅助因子、第二辅助因子以及所述单粒子效应错误个数计算修正因子的值;修正模块,用于根据所述修正因子的值对所述在预定辐射源辐射下敏感器件敏感截面的观测值σ观测进行修正。优选地,所述第一计算模块包括:第一获取单元,用于获取预先设置的所述采用美国LosAlamos实验室中子辐射源获得的敏感器件敏感截面的观测值σLANSC;第一计算单元,用于计算所述采用美国LosAlamos实验室中子辐射源获得的敏感器件敏感截面的观测值σLANSC与所述在预定辐射源辐射下敏感器件敏感截面的观测值σ观测的比值,作为第一辅助因子。优选地,所述第二计算模块包括:第二获取单元,用于获取预先设置的所述采用Rosetta真实环境试验获得的敏感器件敏感截面值σRosetta;第二计算单元,用于计算所述采用Rosetta真实环境试验获得的敏感器件敏感截面值σRosetta与所述在预定辐射源辐射下敏感器件敏感截面的观测值σ观测的比值,作为第二辅助因子。优选地,所述修正因子获取模块包括:第三计算单元,用于根据敏感截面的测量精度计算模型计算精度因子a;第四计算单元,用于计算所述第一辅助因子和第二辅助因子计算的比值,得到加速因子Aβ;第五计算单元,用于根据所述加速因子Aβ、精度因子a以及所述单粒子效应错误个本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种利用试验数据获取单粒子效应器件敏感截面的方法,其特征在于,包括:采用预定辐射源进行地面模拟实验,获取在预定辐射源辐射下敏感器件敏感截面的观测值σ观测,并监测所述模拟实验中敏感器件的单粒子效应错误个数Nend;将采用美国Los Alamos实验室中子辐射源获得的敏感器件敏感截面的观测值σLANSC与所述在预定辐射源辐射下敏感器件敏感截面的观测值σ观测进行除运算,得到第一辅助因子;将采用Rosetta真实环境试验获得的敏感器件敏感截面值σRosetta与所述在预定辐射源辐射下敏感器件敏感截面的观测值σ观测进行除运算,得到第二辅助因子;根据所述第一辅助因子、第二辅助因子以及所述单粒子效应错误个数计算修正因子的值;根据所述修正因子的值对所述在预定辐射源辐射下敏感器件敏感截面的观测值σ观测进行修正。

【技术特征摘要】
1.一种利用试验数据获取单粒子效应器件敏感截面的方法,其
特征在于,包括:
采用预定辐射源进行地面模拟实验,获取在预定辐射源辐射下敏
感器件敏感截面的观测值σ观测,并监测所述模拟实验中敏感器件的
单粒子效应错误个数Nend;
将采用美国LosAlamos实验室中子辐射源获得的敏感器件敏感
截面的观测值σLANSC与所述在预定辐射源辐射下敏感器件敏感截面
的观测值σ观测进行除运算,得到第一辅助因子;
将采用Rosetta真实环境试验获得的敏感器件敏感截面值σRosetta与所述在预定辐射源辐射下敏感器件敏感截面的观测值σ观测进行
除运算,得到第二辅助因子;
根据所述第一辅助因子、第二辅助因子以及所述单粒子效应错误
个数计算修正因子的值;
根据所述修正因子的值对所述在预定辐射源辐射下敏感器件敏
感截面的观测值σ观测进行修正。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述将采用美国
LosAlamos实验室中子辐射源获得的敏感器件敏感截面的观测值
σLANSC与所述在预定辐射源辐射下敏感器件敏感截面的观测值
σ观测进行除运算,得到第一辅助因子,具体包括:
获取预先设置的所述采用美国LosAlamos实验室中子辐射源获
得的敏感器件敏感截面的观测值σLANSC;
计算所述采用美国LosAlamos实验室中子辐射源获得的敏感器
件敏感截面的观测值σLANSC与所述在预定辐射源辐射下敏感器件敏
感截面的观测值σ观测的比值,作为第一辅助因子。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述将采用Rosetta
真实环境试验获得的敏感器件敏感截面值σRosetta与所述在预定辐射

\t源辐射下敏感器件敏感截面的观测值σ观测进行除运算,得到第二辅
助因子,具体包括:
获取预先设置的所述采用Rosetta真实环境试验获得的敏感器件
敏感截面值σRosetta;
计算所述采用Rosetta真实环境试验获得的敏感器件敏感截面值
σRosetta与所述在预定辐射源辐射下敏感器件敏感截面的观测值
σ观测的比值,作为第二辅助因子。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述第
一辅助因子、第二辅助因子以及所述单粒子效应错误个数计算修正
因子的值,具体包括:
根据敏感截面的测量精度计算模型计算精度因子a;
计算所述第一辅助因子和第二辅助因子计算的比值,得到加速
因子Aβ;
根据所述加速因子Aβ、精度因子a以及所述单粒子效应错误个
数计算修正因子A,公式如下:
A=Aβ±aNend.]]>5.根据权利要求1-4任一所述的方法,其特征在于,所述精度
因子a为1.96。
6.根据权利要求1-4任一所述的方法,其特征在于...

【专利技术属性】
技术研发人员:王群勇薛海红陈冬梅陈宇
申请(专利权)人:北京圣涛平试验工程技术研究院有限责任公司
类型:发明
国别省市:北京;11

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