对ＳＰＩ控制芯片进行测试的方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及芯片测试技术领域，公开了一种对ＳＰＩ控制芯片进行测试的方法及装置，所述方法包括：选择ＰＣ机并口的三个不同打印输出端分别作为ＳＰＩ控制芯片的时钟端、片选端和数据输入端，并选择ＰＣ机并口的一个打印输入端作为ＳＰＩ控制芯片的数据输出端；利用选择的ＰＣ机并口的上述输入端和输出端模拟ＳＰＩ，对所述ＳＰＩ控制芯片进行测试。利用本发明专利技术，可以大大降低硬件成本，并提高应用的灵活性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及芯片测试
，具体涉及一种对SPI(Serial Peripherallnterface，串行外设接口)控制芯片进行测试的方法及装置。
技术介绍
SPI是一种串行同步通讯协议接口，由一个主设备和一个或多个从设备组成，主设 备启动一个与从设备的同步通讯，从而完成数据的交换。SPI包括SDI (串行数据输入)、 SDO (串行数据输出)、SCK(串行移位时钟)、CS (从使能信号)四种信号，其中，CS决定了唯 一的与主设备通信的从设备。通讯时，数据在时钟的上升或下降沿由SDO输出，在紧接着的 下降或上升沿由SDI输入，这样经过一定次数时钟的改变，完成相应数据长度数据的传输。 在SPI传输中，数据是同步进行发送和接收的。数据传输的时钟基于来自主处理器的时钟 脉冲。对SPI控制芯片进行功能测试时，需要将芯片置于实验板上，通过SPI控制验证芯 片功能。在现有技术中，对被测芯片进行功能测试时，一般是将PC机应用软件通过单片机 的串行口向单片机发送读写指令与数据。PC机上的应用软件使用Visual Studio, DELPHI 等IDE (Integrated Development，集成开发环境)工具开发，或者使用Labview工具开发， 通常是通过固定的界面+若干选项列表来改变软件的配置。相应地，单片机对SPI总线操作，写入控制信息，读取被测芯片的信息，发送到PC 机分析处理。一般通过单片机的片内外设SPI控制器对SPI总线进行操作，对于不带片内 外设SPI控制器单片机的单片机，如MCS51系列单片机，可以使用单片机软件来模拟SPI的 操作，包括串行时钟、数据输入和数据输出。如图1所示，是MCS51系列单片机与存储器X25F008 (E2PR0M)的硬件连接图。其中，P1.0模拟MCU(MicroControllerUnit，微控制单元)的SPI数据输出端， Pl. 1模拟SPI的SCK输出端，Pl. 2模拟SPI的CS端，Pl. 3模拟SPI的数据输入端。在实现本专利技术的过程中，专利技术人发现采用这种测试方式，至少存在以下缺点(1)需要使用单片机作SPI总线的控制器，需要单片机电路板，硬件成本高，发生 故障的概率也大。(2)PC机软件内芯片配置信息的修改受到局限，修改寄存器的配置需要修改软件， 重新生成，因此，应用上不够灵活方便。
技术实现思路
本专利技术实施例提供一种对SPI控制芯片进行测试的方法及装置，降低硬件成本， 并提高应用的灵活性。为此，本专利技术实施例提供如下技术方案一种对SPI控制芯片进行测试的方法，包括选择PC机并口的三个不同打印输出端分别作为SPI控制芯片的时钟端、片选端和 数据输入端，并选择PC机并口的一个打印输入端作为SPI控制芯片的数据输出端；利用选择的PC机并口的上述输入端和输出端模拟SPI，对所述SPI控制芯片进行 测试。优选地，所述方法还包括获取所述SPI控制芯片的寄存器描述信息；解析所述寄存器描述信息，得到各寄存器的相关参数，所述相关参数包括名称、 位段起始和结束地址、读写属性；所述对所述SPI控制芯片进行测试包括根据所述相关参数，对各寄存器进行初始化；对各寄存器进行读写操作；根据读写操作的结果验证所述SPI控制芯片的功能。优选地，所述寄存器描述信息为txt格式文件。优选地，所述方法还包括对所述输入端和输出端的状态进行监测，并显示其状态。可选地，所述PC机并口的工作方式为以下任意一种标准方式、ECP方式、EPP方式。优选地，所述方法还包括利用转接电路对所述输入端进行保护，以去除干扰和毛刺。一种对SPI控制芯片进行测试的装置，包括带用并口的PC机，所述PC机并口的三个不同打印输出端分别连接SPI控制芯片 的时钟端、片选端和数据输入端，以及一个打印输入端连接SPI控制芯片的数据输出端，对 所述SPI控制芯片进行测试。 优选地，所述PC机还包括存储器，用于存储所述SPI控制芯片的寄存器描述信息；处理器，用于获取并解析所述寄存器描述信息，得到各寄存器的相关参数，所述相 关参数包括名称、位段起始和结束地址、读写属性；并根据所述相关参数，对各寄存器进 行初始化；对各寄存器进行读写操作，根据读写操作的结果验证所述SPI控制芯片的功能。优选地，所述装置还包括显示单元，用于显示所述输入端和输出端的状态。优选地，所述装置还包括转接电路，用于对所述输入端进行保护，以去除干扰和毛刺。本专利技术实施例对SPI控制芯片进行测试的方法及装置，利用PC机的并口模拟SPI 串行接口，实现对SPI控制芯片的测试，从而可以大大降低硬件成本，提高应用的灵活性和安全性。附图说明图1是现有的一种SPI总线接口示意图；图2是本专利技术实施例对SPI控制芯片进行测试的方法的流程图3是本专利技术实施例对SPI控制芯片进行测试的装置的结构示意图；图4是本专利技术实施例对SPI控制芯片进行测试的装置中PC机并口管脚与转接电路的一种连接示意图；图5是本专利技术实施例对SPI控制芯片进行测试的装置中PC机并口管脚与转接电 路的另一种连接示意图。具体实施例方式为了使本
的人员更好地理解本专利技术实施例的方案，下面结合附图和实施 方式对本专利技术实施例作进一步的详细说明。本专利技术实施例对SPI控制芯片进行测试的方法及装置，针对现有技术对SPI控制 芯片进行测试时，使用单片机作为SPI总线的控制器，从而使得硬件成本高，应用不够灵活 的问题，利用PC机的并口模拟SPI串行接口，实现对SPI控制芯片的测试，从而可以大大降 低硬件成本，提高应用的灵活性和安全性。如图2所示，是本专利技术实施例对SPI控制芯片进行测试的方法的流程图，包括以下 步骤步骤201，选择PC机并口的三个不同打印输出端分别作为SPI控制芯片的时钟端、 片选端和数据输入端，并选择PC机并口的一个打印输入端作为SPI控制芯片的数据输出端。比如，使用并口打印输出线中的第2脚作SPI的时钟端SCK，第3脚作SPI的片选 端，即CS，第4脚作SPI的数据输入端SDI，使用打印输入线的第12脚做SPI的数据输出端 SDO。当然，各端口的选择并不限于上述这种方式，也可以选择PC机并口的其他打印输 出端和打印输入端来模拟SPI串行接口，在此不再一一举例。需要说明的是，在实际应用中，可以选择PC机的任意一个并口，比如LPTl或LPT2， 其工作方式可以是以下任意一种标准方式、ECP (ExtendedCapabilities Ports，扩展功能 端口 )方式、EPP (Enhanced Parallel Ports，增强并行口 )方式。 步骤202，利用选择的PC机并口的上述输入端和输出端模拟SPI，对所述SPI控制 芯片进行测试。对SPI控制芯片的测试主要包括对所述芯片中各寄存器的读写测试，为此，可以 预先建立寄存器描述信息，并将其按一定方式进行保存，比如可以将其保存为txt格式文 件，并与PC机的应用软件存放在同一目录下。在对SPI控制芯片进行测试时，可以首先获取所述SPI控制芯片的寄存器描述信 息，然后解析所述寄存器描述信息，得到各寄存器的相关参数，所述相关参数包括名称、位 段起始和结束地址、读写属性等信息。这样，就可以根据所述相关参数，对各寄存器进行初始化，并对各寄存器进行读写 操作，根据读写操作的本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种对ＳＰＩ控制芯片进行测试的方法，其特征在于，包括：选择ＰＣ机并口的三个不同打印输出端分别作为ＳＰＩ控制芯片的时钟端、片选端和数据输入端，并选择ＰＣ机并口的一个打印输入端作为ＳＰＩ控制芯片的数据输出端；利用选择的ＰＣ机并口的上述输入端和输出端模拟ＳＰＩ，对所述ＳＰＩ控制芯片进行测试。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：李俊鸿，郑卫国，叶晖，
申请(专利权)人：广州市广晟微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：81[中国|广州]