光强调整方法技术

本申请公开了一种光强调整方法

【技术实现步骤摘要】
光强调整方法、检测装置与系统及计算机可读存储介质


[0001]本申请涉及检测
，更具体而言，涉及一种光强调整方法
、
检测装置
、
检测 系统及非易失性计算机可读存储介质
。

技术介绍

[0002]在面板
AOI(Automated Optical Inspection
，
AOI)
检测领域，
AOI
检测设备的主要 目的是发现面板在生产过程中存在的各种缺陷
(
比如颗粒
、
脏污
、
划伤
、
凸起
、
凹坑
、 短路
、
断路等
)
，所使用的主要手段是通过多个并排排列的扫描
CCD(Charge CoupledDevice
，
CCD)
探头，经过拼接的方式，完整扫描面板，根据拍摄的图像，利用图像处 理算法分析面板上的各类缺陷
。
所拍摄图像的质量直接影响缺陷的检出能力，需要关注 的图像质量包括：图像亮度
、
清晰度
、
空间保真度等等，其中图像亮度指标会因为面板 所处的工艺阶段不同，导致不同的面板待测件需要调整硬件参数，以此达到相似的亮度 结果
。
同时不同的
CCD
探头间，因硬件差异
(
如相机
、
光源
、
光纤等
)
>，同样造成很 难用相同的光源强度适配所有的
CCD
探头，那么如何更快速
、
更准确地找到合适的光 源亮度数值，就显得至关重要
。

技术实现思路

[0003]本申请实施方式提供一种光强调整方法
、
检测装置
、
检测系统及非易失性计算机可 读存储介质
。
[0004]本申请实施方式的光强调整方法包括：在预设光强下扫描待测件，所述待测件包括 第一区和第二区，所述第一区的反射率小于所述第二区的反射率；获取所述第一区的第 一检出值及所述第二区的第二检出值；获取光强调整边界及目标光强，所述目标光强包 括第一目标值及第二目标值，所述光强调整边界包括光强的上限值和下限值，所述第一 目标值是满足所述第一区的合格检测条件的检出值，所述第二目标值是满足所述第二区 的合格检测条件的检出值；根据所述光强调整边界及所述预设光强获取光强调整区间； 根据所述调整区间
、
所述第一检出值
、
所述第二检出值
、
所述第一目标值
、
及所述第二 目标值调整所述预设光强；及通过调整后的所述预设光强对所述待测件进行检测
。
[0005]本申请实施方式的工件检测装置包括照射模块
、
第一获取模块
、
第二获取模块
、
第 三获取模块
、
调整模块及检测模块
。
所述照射模块用于在预设光强下扫描待测件，所述 待测件包括第一区和第二区，所述第一区的反射率小于所述第二区的反射率；所述照射 模块还用于采用调整后的所述预设光强照射所述待测件
。
所述第一获取模块用于获取所 述第一区的第一检出值及所述第二区的第二检出值
。
所述第二获取模块用于获取光强调 整边界及目标光强，所述目标光强包括第一目标值及第二目标值，所述光强调整边界包 括光强的上限值和下限值，所述第一目标值是满足所述第一区的合格检测的条件检出 值，所述第二目标值是满足所述第二区的合格检测条件的检出值
。
所述第三获取模块用 于根据所述光强调整边界及所述预设光强获取光强调整区间，所述调整区间包括多个等 级的光强
。
所述调整模块用于根据所述调整区间
、
所述第一检出值
、
所述第二检出值
、 所述第一目标值
、
及所述第二目标值调整所述预设光强
。
所述检测模块用于通过调整后 的所述预设光强对所述待测件进行检测
。
[0006]本申请实施方式的检测系统包括承载装置
、
光源
、
检测探头及控制器
。
所述承载装 置用于承载待测件
。
所述光源用于照射所述待测件
。
所述检测探头用于采集所述待测件 的图像
。
所述控制器用于：控制所述检测探头在预设光强下扫描所述待测件，所述待测 件包括第一区和第二区，所述第一区的反射率小于所述第二区的反射率；获取所述第一 区的第一检出值及所述第二区的第二检出值；获取光强调整边界
、
第一目标值
、
及第二 目标值，所述光强调整边界包括光强的上限值和下限值，所述第一目标值是满足所述第 一区的合格检测的条件的检出值，所述第二目标值是满足所述第二区的合格检测的条件 的检出检出值；根据所述光强调整边界及所述预设光强获取光强调整区间，所述调整区 间包括多个等级的光强；根据所述调整区间
、
所述第一检出值
、
所述第二检出值
、
所述 第一目标值
、
及所述第二目标值调整所述预设光强；及控制所述检测探头通过调整后的 所述预设光强对所述待测件进行检测
。
[0007]本申请实施方式的非易失性计算机可读存储介质，所述非易失性计算机可读存储介 质包含计算机程序，当所述计算机程序被一个或多个处理器执行时，使得所述处理器执 行如下调整方法：在预设光强下扫描待测件，所述待测件包括第一区和第二区，所述第 一区的反射率小于所述第二区的反射率；获取所述第一区的第一检出值及所述第二区的 第二检出值；获取光强调整边界及目标光强，所述目标光强包括第一目标值及第二目标 值，所述光强调整边界包括光强的上限值和下限值，所述第一目标值是满足所述第一区 的合格检测条件的检出值，所述第二目标值是满足所述第二区的合格检测条件的检出 值；根据所述光强调整边界及所述预设光强获取光强调整区间；根据所述调整区间
、
所 述第一检出值
、
所述第二检出值
、
所述第一目标值
、
及所述第二目标值调整所述预设光 强；及通过调整后的所述预设光强对所述待测件进行检测
。
[0008]本申请实施方式的光强调整方法
、
检测装置
、
检测系统及非易失性计算机可读存储 介质能够分别获取待测件不同反射率的第一区和第二区的检出值，根据第一区的第一检 出值
、
第二区的第二检出值
、
以及光强适配情况下对应的目标检出值获取调整区间以及 结合调整区间调整光强，从而兼顾检测探头对第一区和第二区的需求调整光强，使调整 后本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种光强调整方法，其特征在于，包括：在预设光强下扫描待测件，所述待测件包括第一区和第二区，所述第一区的反射率小于所述第二区的反射率；获取所述第一区的第一检出值及所述第二区的第二检出值；获取光强调整边界及目标光强，所述目标光强包括第一目标值及第二目标值，所述光强调整边界包括光强的上限值和下限值，所述第一目标值是满足所述第一区的合格检测条件的检出值，所述第二目标值是满足所述第二区的合格检测条件的检出值；根据所述光强调整边界及所述预设光强获取光强调整区间；根据所述调整区间
、
所述第一检出值
、
所述第二检出值
、
所述第一目标值
、
及所述第二目标值调整所述预设光强；及通过调整后的所述预设光强对所述待测件进行检测
。2.
根据权利要求1所述的调整方法，其特征在于，多个所述待测件排列成多条队列，每条所述队列包括多个所述待测件，所述在预设光强下扫描待测件，包括：在预设光强下扫描所述队列的每个所述待测件，所述采用调整后的所述预设光强照射所述待测件，包括：在完成一个所述队列的每个所述待测件的扫描的情况下，采用调整后的所述预设光强照射所述待测件
。3.
根据权利要求1所述的调整方法，其特征在于，所述获取所述第一区的第一检出值及所述第二区的第二检出值，包括：获取所述待测件的第一区的第一扫描图和第二区的第二扫描图；及对所述第一扫描图和所述第二扫描图做二值化处理，获取所述第一扫描图的所述第一检出值和所述第二扫描图的所述第二检出值
。4.
根据权利要求1所述的调整方法，其特征在于，所述根据所述光强调整边界及所述预设光强获取光强调整区间，包括：根据所述上限值和所述预设光强确定所述调整区间的右边界；根据所述下限值和所述预设光强确定所述调整区间的左边界；及根据所述右边界和所述左边界确定所述光强调整区间的范围
。5.
根据权利要求1所述的调整方法，其特征在于，所述根据所述调整区间
、
所述第一检出值
、
所述第二检出值
、
所述第一目标值
、
及所述第二目标值调整所述预设光强，包括：获取光强调整值，所述光强调整值包括光强增大值
、
光强减小值
、
及光强不变值；根据所述调整区间
、
所述第一检出值
、
所述第二检出值
、
所述第一目标值
、
及所述第二目标值选择所述光强调整值；及根据所述光强调整值调整所述预设光强
。6.
根据权利要求5所述的调整方法，其特征在于，获取光强调整值，包括：根据所述预设光强及所述调整区间的右边界确定所述光强增大值；根据所述预设光强及所述调整区间的左边界确定所述光强减小值；及将所述预设光强作为所述光强不变值
。7.
根据权利要求5所述的调整方法，其特征在于，所述根据所述调整区间
、
所述第一检出值
、
所述第二检出值
、
所述第一目标值
、
及所述第二目标值选择所述光强调整值，包括：
根据所述第一目标值获取第一接受区间，及根据所述第二目标值获取第二接受区间；在所述第一检出值在所述第一接受区间内且所述第二检出值在所述第二接受区间内的情况下，选择所述光强不变值；在所述第一检出值大于所述第一目标值且所述第二检出值大于所述第二目标值的情况下，选择所述光强减小值；在所述第一检出值小于所述第一目标值且所述第二检出值小于所述第二目标值的情况下，选择所述光强增大值；及在所述第一检出值大于所述第一目标值且所述第二检出值小于所述第二目标值的情况下，以...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈鲁，王天民，张嵩，
申请(专利权)人：深圳中科飞测科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：