一种便于定位的集成电路检测用检测镜制造技术

本实用新型专利技术公开了一种便于定位的集成电路检测用检测镜，包括放置板、支柱、探测杆和定位块，放置板的顶部与支柱的底部固定连接，支柱套设于探测杆的表面，支柱的顶部与定位块的底部固定连接，定位块的内部开设有定位腔。本实用新型专利技术通过设置放置板、支柱、探测杆、定位块、调节机构和定位机构的配合使用，达到了现有的检测设备调节高度时，是通过螺栓进行旋转固定，然而通过螺栓固定长时间使用会出现松动的情况，导致探测杆落下，损坏设备的同时会对电路板造成损坏，为了可以稳定固定探测杆，从而提出一种便于定位的集成电路检测用检测镜，在对探测杆进行安装固定时，便于工作人员进行操作和使用，防止探测杆掉落的效果。防止探测杆掉落的效果。防止探测杆掉落的效果。

【技术实现步骤摘要】
一种便于定位的集成电路检测用检测镜


[0001]本技术属于检测设备
，尤其涉及一种便于定位的集成电路检测用检测镜。

技术介绍

[0002]检测设备是一种对零件进行生产加工检测的一种设备，保证生产的合格性，通过对电路板进行放大观察外观检测完整性，根据不用规格的零件可对检测仪的检测高度随时进行调整，然而现有的检测设备调节高度时，是通过螺栓进行旋转固定，然而通过螺栓固定长时间使用会出现松动的情况，导致探测杆落下，损坏设备的同时会对电路板造成损坏，为了可以稳定固定探测杆，从而提出一种便于定位的集成电路检测用检测镜，在对探测杆进行安装固定时，便于工作人员进行操作和使用，防止探测杆掉落。

技术实现思路

[0003]针对现有技术存在的问题，本技术提供了一种便于定位的集成电路检测用检测镜，具备对探测杆稳定固定的优点，解决了现有现有的检测设备调节高度时，是通过螺栓进行旋转固定，然而通过螺栓固定长时间使用会出现松动的情况，导致探测杆落下，损坏设备的同时会对电路板造成损坏，为了可以稳定固定探测杆，从而提出一种便于定位的集成电路检测用检测镜，在对探测杆进行安装固定时，便于工作人员进行操作和使用，防止探测杆掉落的问题。
[0004]本技术是这样实现的，一种便于定位的集成电路检测用检测镜，包括放置板、支柱、探测杆和定位块，所述放置板的顶部与支柱的底部固定连接，所述支柱套设于探测杆的表面，所述支柱的顶部与定位块的底部固定连接，所述定位块的内部开设有定位腔，所述定位腔的内部设有调节机构和定位机构，所述调节机构的右侧贯穿至定位块的右侧，所述定位机构与探测杆配合使用。
[0005]作为本技术优选的，所述调节机构包括移动杆、固定柱、弯杆和横杆，所述移动杆的右侧贯穿至定位块的右侧，所述移动杆的左侧贯穿至定位块的内部，所述移动杆的顶部与固定柱的底部固定连接，所述固定柱的顶部贯穿至弯杆的顶部，所述弯杆通过转轴活动连接于定位腔的内部，所述弯杆与横杆配合使用，所述横杆通过第一转轴活动连接于定位腔的内部，所述横杆与定位机构配合使用，通过设置调节机构，能够使在对其探测杆进行调节时，便于工作人员进行操作，增加其便利性。
[0006]作为本技术优选的，所述定位机构包括移动柱、连接杆、定位杆和拉簧，所述移动柱的顶部贯穿至横杆的顶部，所述移动柱的底部与连接杆的顶部固定连接，所述连接杆的后侧与拉簧的前侧固定连接，所述拉簧的后侧与定位腔的内壁固定连接，所述连接杆的后侧与定位杆的前侧固定连接，所述定位杆的后侧贯穿至探测杆的内部，通过设置定位机构，能够使在对探测杆进行调节固定时，使其稳定固定在支柱的表面，防止在使用时掉落。
[0007]作为本技术优选的，所述探测杆的表面开设有固定槽，所述固定槽的数量为若干且均匀分布在探测杆的表面，通过设置固定槽，能够使定位杆在进行插接固定时，准确的插入到固定槽的内部。
[0008]作为本技术优选的，所述定位腔的内部开设有限制槽，所述限制槽与连接杆配合使用，通过设置限制槽，能够使连接杆按照限制槽提供的移动轨迹进行移动。
[0009]作为本技术优选的，所述横杆的顶部开设有行程槽，所述行程槽与移动柱配合使用，通过设置行程槽，能够限制移动柱的移动方向及行程，保证结构的正常使用。
[0010]作为本技术优选的，所述弯杆的顶部开设有滑动槽，所述滑动槽与固定柱配合使用，通过设置滑动槽，能够使固定柱在移动时，限制其移动方向及行程，防止超出行程造成结构损坏。
[0011]与现有技术相比，本技术的有益效果如下：
[0012]1、本技术通过设置放置板、支柱、探测杆、定位块、调节机构和定位机构的配合使用，通过对调节机构和定位机构的调整，在对探测杆进行调整时，便于工作人员进行操作和使用，防止在使用时掉落造成零件损坏，达到了现有的检测设备调节高度时，是通过螺栓进行旋转固定，然而通过螺栓固定长时间使用会出现松动的情况，导致探测杆落下，损坏设备的同时会对电路板造成损坏，为了可以稳定固定探测杆，从而提出一种便于定位的集成电路检测用检测镜，在对探测杆进行安装固定时，便于工作人员进行操作和使用，防止探测杆掉落的效果。
[0013]2、本技术通过设置调节机构和定位机构，能够使在对探测杆进行调整固定时，方便工作人员进行操作，可根据零件大小随时对探测杆进行调整。
附图说明
[0014]图1是本技术实施例提供的结构示意图；
[0015]图2是本技术实施例提供调节机构和定位机构的立体示意图；
[0016]图3是本技术实施例提供定位块的立体示意图；
[0017]图4是本技术实施例提供探测杆的立体示意图。
[0018]图中：1、放置板；2、支柱；3、探测杆；4、定位块；5、定位腔；6、调节机构；601、移动杆；602、固定柱；603、弯杆；604、横杆；7、定位机构；701、移动柱；702、连接杆；703、定位杆；704、拉簧；8、固定槽；9、限制槽；10、行程槽；11、滑动槽。
具体实施方式
[0019]为能进一步了解本技术的
技术实现思路
、特点及功效，兹例举以下实施例，并配合附图详细说明如下。
[0020]下面结合附图对本技术的结构作详细的描述。
[0021]如图1至图4所示，本技术实施例提供的一种便于定位的集成电路检测用检测镜，包括放置板1、支柱2、探测杆3、定位块4、定位腔5、调节机构6、移动杆601、固定柱602、弯杆603、横杆604、定位机构7、移动柱701、连接杆702、定位杆703、拉簧704、固定槽8、限制槽9、行程槽10和滑动槽11的配合使用，放置板1、支柱2、探测杆3和定位块4，放置板1的顶部与支柱2的底部固定连接，支柱2套设于探测杆3的表面，支柱2的顶部与定位块4的底部固定连
接，定位块4的内部开设有定位腔5，定位腔5的内部设有调节机构6和定位机构7，调节机构6的右侧贯穿至定位块4的右侧，定位机构7与探测杆3配合使用。
[0022]参考图2，调节机构6包括移动杆601、固定柱602、弯杆603和横杆604，移动杆601的右侧贯穿至定位块4的右侧，移动杆601的左侧贯穿至定位块4的内部，移动杆601的顶部与固定柱602的底部固定连接，固定柱602的顶部贯穿至弯杆603的顶部，弯杆603通过转轴活动连接于定位腔5的内部，弯杆603与横杆604配合使用，横杆604通过第一转轴活动连接于定位腔5的内部，横杆604与定位机构7配合使用。
[0023]采用上述方案：通过设置调节机构6，能够使在对其探测杆3进行调节时，便于工作人员进行操作，增加其便利性。
[0024]参考图2，定位机构7包括移动柱701、连接杆702、定位杆703和拉簧704，移动柱701的顶部贯穿至横杆604的顶部，移动柱701的底部与连接杆702的顶部固定连接，连接杆702的后侧与拉簧704的前侧固定连接，拉簧704的后侧与定位腔5的内壁固定连接，连接杆702的后侧与本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种便于定位的集成电路检测用检测镜，包括放置板(1)、支柱(2)、探测杆(3)和定位块(4)，其特征在于：所述放置板(1)的顶部与支柱(2)的底部固定连接，所述支柱(2)套设于探测杆(3)的表面，所述支柱(2)的顶部与定位块(4)的底部固定连接，所述定位块(4)的内部开设有定位腔(5)，所述定位腔(5)的内部设有调节机构(6)和定位机构(7)，所述调节机构(6)的右侧贯穿至定位块(4)的右侧，所述定位机构(7)与探测杆(3)配合使用。2.如权利要求1所述的一种便于定位的集成电路检测用检测镜，其特征在于：所述调节机构(6)包括移动杆(601)、固定柱(602)、弯杆(603)和横杆(604)，所述移动杆(601)的右侧贯穿至定位块(4)的右侧，所述移动杆(601)的左侧贯穿至定位块(4)的内部，所述移动杆(601)的顶部与固定柱(602)的底部固定连接，所述固定柱(602)的顶部贯穿至弯杆(603)的顶部，所述弯杆(603)通过转轴活动连接于定位腔(5)的内部，所述弯杆(603)与横杆(604)配合使用，所述横杆(604)通过第一转轴活动连接于定位腔(5)的内部，所述横杆(604)与定位机构(7)配合使用。3.如权利要求2所述的一种便于定位的集成电路检测用检测镜，其特征在于：...

【专利技术属性】
技术研发人员：向国清，
申请(专利权)人：深圳市芯远半导体有限公司，
类型：新型
国别省市：