校准电路制造技术

一种校准电路

【技术实现步骤摘要】
校准电路、校准装置、测试系统及校准方法


[0001]本专利技术涉及半导体测试领域，特别涉及一种校准电路
、
校准装置
、
测试系统及校准方法
。

技术介绍

[0002]目前，自动测试机台
(Automatic Test Equipment
，
ATE)
测试资源机时紧张且成本很高，对众多企业，特别是中小企业来说，如何降低嵌入式闪存
(Embedded Flash
，
Eflash)
测试成本成为业界难题
。
其中，影响测试成本最重要的指标是测试流程消耗时间
。
以目前的测试流程来看，最优化的测试时间减少
(Test Time Reduction
，
TTR)
方式都会比理想条件下的测试时间多
10
％
‑
20
％
。
实际测试时间和理想测试时间产生差异的最主要因素是，
Eflash
和<br/>ATE...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种校准电路，适于与自动测试设备匹配，其特征在于，所述自动测试设备，适于提供基准电压和校准指令，所述校准指令携带有待测信息，所述待测信息包括：所述待测电路所属的器件类型，以及所述待测电路需进行的校准项；所述校准电路包括：比较单元
、
逻辑单元和待测电路；所述比较单元，适于比较所述基准电压和所述待测电路提供的反馈电压，以输出比较结果至所述逻辑单元；所述逻辑单元保存有至少一类校准代码，一类校准代码包括至少一组校准代码，一组校准代码包括至少一个校准代码；其中，一个器件类型对应一类校准代码，一个校准项对应一组校准代码，一个校准代码对应一个测试电压；所述逻辑单元，适于根据所述校准指令和所述比较单元输出的比较结果，有序发送或停止发送校准代码至所述待测电路，所述逻辑单元发送的校准代码与所述待测信息相对应；所述待测电路，适于根据所述逻辑单元发送的校准代码，将测试电压匹配至所述待测电路需进行的校准项，并输出反馈电压至所述比较单元，所述测试电压与所述逻辑单元发送的校准代码相对应
。2.
如权利要求1所述的校准电路，其特征在于，所述逻辑单元，还适于在接收到所述校准指令之后，发送测试指令至所述待测电路，所述测试指令携带有所述待测电路需进行的校准项；所述待测电路，适于根据所述测试指令，确定与所述待测电路需进行的校准项对应的初始电压，并将所述初始电压作为反馈电压发送至所述比较单元
。3.
如权利要求1所述的校准电路，其特征在于，所述比较单元包括：分压电路和比较器；所述逻辑单元，还适于输出使所述分压电路处于使能或失能状态的第一使能信号；所述分压电路，适于在使能状态下，对所述反馈电压进行分压以产生分压信号；所述比较器，适于在所述分压电路处于使能状态下，比较所述基准电压和分压信号以输出比较结果至所述逻辑单元；在所述分压电路处于失能状态下，比较所述基准电压和所述反馈电压以输出比较结果至所述逻辑单元
。4.
如权利要求1所述的校准电路，其特征在于，所述逻辑单元，适于在每组校准代码中，根据测试电压的大小将对应的校准代码进行排列，并按照所述排列次序有序发送校准代码
。5.
如权利要求1所述的校准电路，其特征在于，所述逻辑单元，适于在第
N
个校准代码对应的比较结果与第
N+1
个校准代码对应的比较结果相同时，发送第
N+2
个校准代码至所述待测电路，
N≥1
；在第
N
个校准代码对应的比较结果与第
N+1
个校准代码对应的比较结果不相同时，停止发送校准代码至所述待测电路，并将所述第
N+1
个校准代码作为最终的校准代码
。6.
如权利要求1所述的校准电路，其特征在于，所述基准电压包括：第一基准电压和第二基准电压，所述第一基准电压小于第二基准电压；所述自动测试设备，适于先提供所述第一基准电压和第二基准电压中的一个至所述比较单元，然后在所述逻辑单元停止发送校准代码时，再提供所述第一基准电压和第二基准
电压中的另一个至所述比较单元；所述比较单元，适于比较所述第一基准电压和所述待测电路提供的反馈电压以输出第一比较结果至所述逻辑单元，或者，比较所述第二基准电压和所述待测电路提供的反馈电压以输出第二比较结果至所述逻辑单元；所述逻辑单元，适于在第
M
个校准代码对应的第一比较结果与第
M+1
个校准代码对应的第一比较结果相同时，发送第
M+2
个校准代码至所述待测电路，
M≥1
，所述第
M
个校准代码对应的测试电压小于所述第
M+1
个校准代码对应的测试电压；在第
M
个校准代码对应的第一比较结果与第
M+1
个校准代码对应的第一比较结果不相同时，停止发送校准代码至所述待测电路，并将所述第
M+1
个校准代码作为第一校准代码；所述逻辑单元，还适于在第
K
个校准代码对应的第二比较结果与第
K+1
个校准代码对应的第二比较结果相同时，发送第
K+2
个校准代码至所述待测电路，
K≥1
，所述第
K
个校准代码对应的测试电压大于所述第
K+1
个校准代码对应的测试电压；在第
K
个校准代码对应的第二比较结果与第
K+1
个校准代码对应的第二比较结果不相同时，停止发送校准代码至所述待测电路，并将所述第
K+1
个校准代码作为第二校准代码；所述逻辑单元，还适于确定所述第一校准代码对应的测试电压和第二校准代码对应的测试电压的中心值，并将所述中心值对应的校准代码作为最终的校准代码
。7.
一种校准装置，其特征在于，包括：
BIST
电路和权利要求1至6中任一权利要求所述的校准电路，所述校准电路中的逻辑单元集成在所述
BIST
电路中，所述比较单元设于所述
BIST
电路外
。8.
如权利要求7所述的校准装置，其特征在于，所述
BIST
电路包括内部连接器和功能控制器；所述逻辑单元将校准代码输入至所述内部连接器，再由所述内部连接器发送至所述功能控制器，然后由功能控制器将校准代码发送至所述待测电路
。9.
一种测试系统，其特征在于，包括权利要求...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘琦，庞厚民，王本艳，
申请(专利权)人：中芯国际集成电路制造，
类型：发明
国别省市：