产品表面缺陷检测方法技术

本申请提供一种上述的产品表面缺陷检测方法

【技术实现步骤摘要】
产品表面缺陷检测方法、装置、存储介质和电子设备


[0001]本申请涉及缺陷检测
，尤其涉及一种产品表面缺陷检测方法
、
装置
、
存储介质和电子设备
。

技术介绍

[0002]电子设备
、
汽车零部件
、
机械制品等产品在出厂前需要进行表面缺陷检测
。
这些产品的表面缺陷主要包括凹陷
、
凸起
、
划痕
、
气泡
、
裂纹等缺陷
。
[0003]目前的产品表面缺陷检测大多数都是采用机器视觉结合人工智能来进行检测
。
传统的产品表面缺陷检测过程中，在采集到产品表面信息之后，会基于该表面信息对缺陷进行初步定位，识别出产品表面中疑似存在缺陷的区域，从该区域中提取出缺陷的形状
、
尺寸等特征信息，当该特征信息与产品所规定的缺陷所具备的特征相匹配时，才能确定该区域中确实存在缺陷
。
[0004]但受限于产品表面的复杂性和几何变化等因素的影响，传统技术难以精确捕捉产品表面的缺陷特征，导致容易造成缺陷检测结果的误判
。
因此需要研发一种可靠的产品表面缺陷检测方法，以提高产品表面缺陷检测的准确性和稳定性，从而满足现代制造业对产品质量控制的要求
。

技术实现思路

[0005]本申请的目的在于提供一种产品表面缺陷检测方法
、
装置
、
存储介质和电子设备，以解决上述至少一种问题
。
[0006]本申请第一方面，提供了一种产品表面缺陷检测方法，所述方法包括：获取待测产品表面的高度图像；从所述高度图像中识别出各个疑似缺陷的缺陷区域；从每个缺陷区域中选取一个缺陷区域作为待识别区域，根据所述每个缺陷区域在所述高度图像中所处的位置对所述待识别区域进行膨胀处理，得到缺陷膨胀区域，使得所述缺陷膨胀区域中不与除所述待识别区域外的其他缺陷区域重叠；从所述缺陷膨胀区域中解析出所述待识别区域对应的基准面信息；基于所述基准面信息计算出所述待识别区域的高度信息；根据所述高度信息确定所述待识别区域是否存在产品表面缺陷
。
[0007]本申请第二方面，提供了一种产品表面缺陷检测装置，所述装置包括：图像获取模块，用于获取待测产品表面的高度图像；缺陷识别模块，用于从所述高度图像中识别出各个疑似缺陷的缺陷区域；缺陷特征计算模块，用于从每个缺陷区域中选取一个缺陷区域作为待识别区域，根据所述每个缺陷区域在所述高度图像中所处的位置对所述待识别区域进行膨胀处理，得到缺陷膨胀区域，使得所述缺陷膨胀区域中不与除所述待识别区域外的其他缺陷区域重叠；从所述缺陷膨胀区域中解析出所述待识别区域对应的基准面信息；基于所述基准面信
息计算出所述待识别区域的高度信息；缺陷确认模块，用于根据所述高度信息确定所述待识别区域是否存在产品表面缺陷
。
[0008]本申请第三方面，提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有可执行指令，所述可执行指令被处理器执行时使所述处理器执行本申请任一项所述的方法
。
[0009]本申请第四方面，提供了一种电子设备，包括：一个或多个处理器；存储器，用于存储一个或多个程序，当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行时，使得所述一个或多个处理器执行本申请任一项所述的方法上述的产品表面缺陷检测方法
、
装置
、
存储介质和电子设备，通过进行缺陷区域识别，再根据产品中各个缺陷区域来对待识别区域进行膨胀处理，得到缺陷膨胀区域，以确保缺陷膨胀区域不与其他缺陷区域重叠，从而确保了缺陷膨胀区域不被其他缺陷区域所影响，进而提高了待识别区域的基准面信息和高度信息计算的准确性，从而最终提高了产品的表面缺陷检测的准确性
。
附图说明
[0010]为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本申请的某些实施例，因此不应被看作是对本申请范围的限定
。
[0011]图1为一个实施例中产品表面缺陷检测方法的流程示意图；图
2A
为一个实施例中待测产品的部分表面的高度图像示意图；图
2B
为一个实施例中图
2A
中的缺陷区域的识别结果图像示意图；图
2C
为一个实施例中图
2A
中的第一个缺陷区域进行膨胀处理的示意图；图
2D
为一个实施例中图
2A
中的第二个缺陷区域进行膨胀处理的示意图；图
2E
为一个实施例中图
2A
中的第三个缺陷区域进行膨胀处理的示意图；图3为另一个实施例中待测产品的部分表面的高度图像示意图；图4为另一个实施例中产品表面缺陷检测方法的流程示意图；图5为又一个实施例中待测产品的部分表面的高度图像示意图；图6为一个实施例中产品表面缺陷检测装置的结构框图
。
具体实施方式
[0012]为了使本申请的目的
、
技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明
。
应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请
。
[0013]本申请所使用的所有术语（包括技术和科学术语）具有本领域技术人员通常所理解的含义，除非另外定义
。
应注意，这里使用的术语应解释为具有与本说明书的上下文相一致的含义，而不应以理想化或过于刻板的方式来解释
。
[0014]比如本申请所使用的术语“第一”、“第二”等可在本文中用于描述各种元件，但这些元件不受这些术语限制
。
这些术语仅用于将第一个元件与另一个元件区分
。
举例来说，在
不脱离本申请的范围的情况下，可以将第一数量阈值称为第二数量阈值，且类似地，可将第二数量阈值称为第一数量阈值
。
第一数量阈值和第二数量阈值两者都是数量阈值，但其不是同一个数量阈值
。
[0015]再比如本申请所使用的术语“包括”、“包含”等表明了特征
、
步骤
、
操作和
/
或部件的存在，但是并不排除存在或添加一个或多个其他特征
、
步骤
、
操作或部件
。
[0016]在一个实施例中，如图1所示，提供了一种产品表面缺陷检测方法，该方法包括：步骤
102
：获取待测产品表面的高度图像
。
[0017]本实施例中，待测产品可为在出厂前需要进行表面缺陷检测的任意产品，该产品可为电子设备
、
汽车零部件
、
机械制品
、
玻璃制品
、
金属制品
、本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.
一种产品表面缺陷检测方法，其特征在于，所述方法包括：获取待测产品表面的高度图像；从所述高度图像中识别出各个疑似缺陷的缺陷区域；从每个缺陷区域中选取一个缺陷区域作为待识别区域，根据所述每个缺陷区域在所述高度图像中所处的位置对所述待识别区域进行膨胀处理，得到缺陷膨胀区域，使得所述缺陷膨胀区域中不与除所述待识别区域外的其他缺陷区域重叠；从所述缺陷膨胀区域中解析出所述待识别区域对应的基准面信息；基于所述基准面信息计算出所述待识别区域的高度信息；根据所述高度信息确定所述待识别区域是否存在产品表面缺陷
。2.
根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述每个缺陷区域在所述高度图像中所处的位置对所述待识别区域进行膨胀处理，得到缺陷膨胀区域，包括：基于所述高度图像对所述缺陷区域进行初始膨胀处理，得到缺陷初始膨胀区域；检测所述缺陷初始膨胀区域中是否与所述其他缺陷区域重叠，若是，则去除所述缺陷初始膨胀区域中的重叠区域，形成所述缺陷膨胀区域
。3.
根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述每个缺陷区域在所述高度图像中所处的位置对所述待识别区域进行膨胀处理，得到缺陷膨胀区域，包括：获取与所述待识别区域相邻的每个缺陷区域与所述待识别区域的最小距离；基于所述最小距离和所述相邻的每个缺陷区域与所述待识别区域的位置关系确定对所述待识别区域的膨胀大小；基于所述膨胀大小对所述待识别区域进行膨胀处理，得到缺陷膨胀区域
。4.
根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述基准面信息计算出所述待识别区域的高度信息，包括：根据所述基准面信息计算出所述待识别区域的初始高度；当存在与所述待识别区域相接的缺陷区域时，根据所述相接的缺陷区域对所述初始高度进行矫正，将矫正后的高度作为所述待识别区域的高度信息
。5.
根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述从所述高度图像中识别出各个疑似缺陷的缺陷区域之后，还包括：检测是否存在多个相接的缺陷区域，若存在，则将所述多个相接的缺陷...

【专利技术属性】
技术研发人员：韩旭，陈彦龙，
申请(专利权)人：东声苏州智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：