本申请涉及一种配合传感器检测的辅助结构以及检测装置。配合传感器检测的辅助结构包括结构主体，结构主体设有第一通光孔以及至少两个不同孔径的第二通光孔，第二通光孔围绕第一通光孔设置，这样可以第一通光孔为中心旋转结构主体，选用不同孔径的第二通光孔进行检测，以满足不同检测精度的要求，例如当对检测精度要求较高时，选用孔径较小的第二通光孔进行检测；当对检测精度要求较低时，选用孔径较大的第二通光孔进行检测。如此，在不改变传感器位置的情况下，仅旋转结构主体，便可切换不同孔径的第二通光孔，达到调整传感器检测精度的目的，这样简化了检测精度的调整，有利于提高检测精度调整的效率。高检测精度调整的效率。高检测精度调整的效率。
【技术实现步骤摘要】
配合传感器检测的辅助结构以及检测装置
[0001]本申请涉及传感器检测
，特别是涉及一种配合传感器检测的辅助结构以及检测装置。
技术介绍
[0002]随着工业自动化的发展，光电传感器被用于物体定位，即当物体经过光电传感器时，光电传感器的发射端发出的检测光束，经物体反射或者透射后被接收端接收，接收端将信息发送至控制系统，控制系统根据所接收的信息判断物体是否到位，以控制其他执行机构按照预设程序进行下一步动作。
[0003]常见的光电传感器多采用可见光作为光源光，当检测孔径较小且存在一定柔软度易变形的物体时，因物体的边缘形状不规则导致其遮挡足够的检测光束，以使接收端接收到的检测光强度超过预设阈值的位置不可能每次都保持一致，因此无法保证该光电传感器的检测精度。为了解决这一问题，在光电传感器的前方放置传感器盖，沿传感器盖的周向或者长度方向开设有不同孔径的发射孔和反射孔。然而，采用这种传感器盖配合传感器进行检测，存在调整检测精度效率低的问题。
技术实现思路
[0004]基于此，有必要提供一种配合传感器检测的辅助结构以及检测装置，能够提高检测精度调整的效率。
[0005]一种配合传感器检测的辅助结构，所述配合传感器检测的辅助结构包括结构主体，所述结构主体设有第一通光孔以及至少两个不同孔径的第二通光孔，所述第一通光孔用于供所述传感器发出的检测光束通过，所述第二通光孔用于供反射或者透射后的部分所述检测光束通过，所有所述第二通光孔围绕所述第一通光孔设置。
[0006]在其中一个实施例中，所述第一通光孔设于所述结构主体的中心，所述第二通光孔设于所述第一通光孔的孔壁和所述结构主体的边缘围成的区域内。
[0007]在其中一个实施例中，所述第二通光孔的孔径沿所述第一通光孔的周向逐渐增大或者减小。
[0008]在其中一个实施例中，所述第二通光孔设有多个，多个所述第二通光孔布置成至少两个径向孔组，每个所述径向孔组均包括至少两个所述第二通光孔，在每个所述径向孔组中，所述第二通光孔沿所述第一通光孔的径向朝远离所述第一通光孔的方向间隔设置。
[0009]在其中一个实施例中，在同一个所述径向孔组中，所有所述第二通光孔的孔径均相同。
[0010]在其中一个实施例中，在同一个所述径向孔组中，所述第二通光孔设有多个，相邻两个所述第二通光孔之间的间隔相等。
[0011]在其中一个实施例中，所有所述第二通光孔围绕所述第一通光孔11呈圆形向远离所述第一通光孔的方向发散布置。
[0012]在其中一个实施例中，所有所述径向孔组围绕所述第一通光孔等夹角布置。
[0013]在其中一个实施例中，所述配合传感器检测的辅助结构还包括固定座，所述结构主体安装于所述固定座；所述结构主体设有第一固定孔，所述固定座设有第二固定孔，所述配合传感器检测的辅助结构还包括固定件，所述固定件插设于所述第一固定孔和所述第二固定孔；所述第一固定孔设有多个，多个所述第一固定孔围绕所述第一通光孔设于所述结构主体的边缘。
[0014]一种检测装置，所述检测装置包括传感器以及上述的配合传感器检测的辅助结构，所述传感器包括发射端以及接收端，所述发射端与所述第一通光孔相对设置，所述接收端与所述第二通光孔相对设置。
[0015]上述配合传感器检测的辅助结构以及检测装置，通过在结构主体设置第一通光孔和第二通光孔，可控制检测光束穿过第一通光孔和第二通光孔后在一定距离内的光斑大小，这样检测光束在返回传感器时保持较小的光斑大小并落在传感器指定的区域内，从而缩小待检测物体对传感器的有效触发区域，达到提高传感器检测精度的目的。由于结构主体设有至少两个不同孔径的第二通光孔，所有第二通光孔围绕第一通光孔设置，这样可以第一通光孔为中心旋转结构主体，选用不同孔径的第二通光孔进行检测，以满足不同检测精度的要求，例如当对检测精度要求较高时，选用孔径较小的第二通光孔进行检测；当对检测精度要求较低时，选用孔径较大的第二通光孔进行检测。如此，在不改变传感器位置的情况下，仅旋转结构主体，便可切换不同孔径的第二通光孔，达到调整传感器检测精度的目的，这样简化了检测精度的调整，有利于提高检测精度调整的效率。
附图说明
[0016]图1为本技术一实施例的检测装置的结构示意图。
[0017]图2为图1所示的检测装置的左视图。
[0018]附图标号说明：10、结构主体；11、第一通光孔；12、径向孔组；121、第二通光孔；13、第一固定孔；20、固定座；21、第一竖板；22、第二竖板；23、第一横板；231、第三固定孔；24、第二横板；30、传感器。
具体实施方式
[0019]为使本申请的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本申请的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本申请。但是本申请能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本申请内涵的情况下做类似改进，因此本申请不受下面公开的具体实施例的限制。
[0020]参阅图1和图2，图1示出了本申请一实施例中的检测装置的结构示意图，图2示出了本申请一实施例中的检测装置的左视图。本申请一实施例提供的配合传感器检测的辅助结构。配合传感器检测的辅助结构包括结构主体10，结构主体10设有第一通光孔11以及至少两个不同孔径的第二通光孔121，第一通光孔11用于供传感器30发出的检测光束通过，第二通光孔121用于供反射或者透射后的部分检测光束通过，所有第二通光孔121围绕第一通光孔11设置。
[0021]具体地，第一通光孔11和第二通光孔121均为圆形孔。需要说明的是，第一通光孔
11和第二通光孔121的孔径可根据实际需求进行设置，在此不做具体限定。本实施例中，第一通光孔11的直径为10mm。
[0022]上述配合传感器检测的辅助结构，检测时，将结构主体10放置于传感器30的正前方，传感器30发出检测光束，检测光束穿过第一通光孔11，并经待测物体表面反射或者透射后朝第二通光孔121的方向传播，经结构主体10的遮挡，部分检测光束穿过第二通光孔121到达传感器30，并被传感器30接收。通过在结构主体10设置第一通光孔11和第二通光孔121，可控制检测光束穿过第一通光孔11和第二通光孔121后在一定距离内的光斑大小，这样检测光束在返回传感器30时保持较小的光斑大小并落在传感器30指定的区域内，从而缩小待检测物体对传感器30的有效触发区域，达到提高传感器30检测精度的目的。由于结构主体10设有至少两个不同孔径的第二通光孔121，所有第二通光孔121围绕第一通光孔11设置，这样可以第一通光孔11为中心旋转结构主体10，选用不同孔径的第二通光孔121进行检测，以满足不同检测精度的要求，例如当对检测精度要求较高时，选用孔径较小的第二通光孔121进行检测；当对检测精度要求较低时，选用孔径较大的第二通光孔121进行检测。如此，在不改变传感器位置的情况下，仅旋转结构主体10，便可切换不同孔径的第二通光孔1本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种配合传感器检测的辅助结构，其特征在于，所述配合传感器检测的辅助结构包括结构主体，所述结构主体设有第一通光孔以及至少两个不同孔径的第二通光孔，所述第一通光孔用于供所述传感器发出的检测光束通过，所述第二通光孔用于供反射或者透射后的部分所述检测光束通过，所有所述第二通光孔围绕所述第一通光孔设置。2.根据权利要求1所述的配合传感器检测的辅助结构，其特征在于，所述第一通光孔设于所述结构主体的中心，所述第二通光孔设于所述第一通光孔的孔壁和所述结构主体的边缘围成的区域内。3.根据权利要求1所述的配合传感器检测的辅助结构，其特征在于，所述第二通光孔的孔径沿所述第一通光孔的周向逐渐增大或者减小。4.根据权利要求1所述的配合传感器检测的辅助结构，其特征在于，所述第二通光孔设有多个，多个所述第二通光孔布置成至少两个径向孔组，每个所述径向孔组均包括至少两个所述第二通光孔，在每个所述径向孔组中，所有所述第二通光孔沿所述第一通光孔的径向朝远离所述第一通光孔的方向间隔设置。5.根据权利要求4所述的配合传感器检测的辅助结构，其特征在于，在同一个所述径向孔组中，所有所述第二通光孔的孔径均相...
【专利技术属性】
技术研发人员：黄葆钧，
申请(专利权)人：广州贝晓德智能科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。