一种交叉散射信号校正装置和方法制造方法及图纸

技术编号:3910272 阅读:243 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术公开了一种交叉散射信号校正方法,该方法包括以下步骤:获取多组扫描参数以及与每一组扫描参数对应的交叉散射信号分布信息;存储每组扫描参数与交叉散射信号分布信息之间的对应关系;获取当前扫描的一组扫描参数;查找与当前扫描的一组扫描参数对应的交叉散射信号分布信息;根据查找到的交叉散射信号分布信息对当前扫描信号进行校正。同时,本发明专利技术还公开了一种交叉散射信号校正装置。采用该方法和装置,提高了交叉散射信号的校正精度。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种交叉散射信号校正装置,该装置包括:一个扫描参数获取单元(201)、一个交叉散射信号分布信息获取单元(202)、一个数据库单元(203)、一个当前扫描参数获取单元(204)、一个查询单元(205)和一个校正单元(206),其中,所述扫描参数获取单元(201),用于获取多组扫描参数;所述交叉散射信号分布信息获取单元(202),用于获取与每一组扫描参数对应的交叉散射信号分布信息;所述数据库单元(203),用于存储每组扫描参数与交叉散射信号分布信息之间的对应关系;所述当前扫描参数获取单元(204),用于获取当前扫描的一组扫描参数;所述查询单元(205),用于在数据库中查找与当前扫描的一组扫描参数对应的交叉散射信号分布信息;所述校正单元(206),用于根据查找到的交叉散射信号分布信息对当前扫描信号进行校正。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:田毅
申请(专利权)人:上海西门子医疗器械有限公司
类型:发明
国别省市:31[中国|上海]

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