一种检测装置制造方法及图纸

本申请涉及电池制作技术领域，特别涉及一种检测装置。该检测装置包括传送组件、第一光源和第二光源，传送组件设有传送面，传送面用于传输待检物料至检测装置的定位检测区；第一光源设于传送组件的背离传送面的一侧，第一光源的光束用于穿透传送面并照射定位检测区；第二光源设于传送面的背离待检物料的一侧，第二光源的光束照射待检物料的局部检测区，局部检测区位于定位检测区之内；局部检测区的光强强于定位检测区的光强。该检测装置通过增设第二光源，在传输面透光率变差之后，第二光源的光波仍然可以穿透传送面，并照射到待检物料的局部检测区，从而保证检测装置能够获取局部检测区的清晰图像，进而提升监测装置检测结果的精准度。准度。准度。

【技术实现步骤摘要】
一种检测装置


[0001]本申请涉及电池制作
，特别涉及一种检测装置。

技术介绍

[0002]在二次电池制造过程中，电池的极片经裁切后，通过传送装置传送至叠片台进行叠片。在传送过程中，可通过自动检测装置对极片位置以及状态信息(例如开裂、弯折等信息)进行检测，以便于后续的自动对位叠片，并可防止不合格的极片流向下道工序。现有的自动检测装置通常利用传送组件将待检极片至定位检测区，并利用图像采集模块获取待检极片的图像信息，根据图像信息判断待检极片的位置以及是否开裂或翻折等。在拍摄图像的过程中，通常需要在送带的背离待测极片的一侧设置光源，以提高背光。
[0003]检测装置工作一段时间之后，极片或环境引入的污垢易沉积于传送装置的传送带表面导致传送带变黑，传送带的透光率变差，甚至光源无法穿透传送带，图像采集模块无法获取极片的清晰图像，从而影响自动检测装置的检测结果，可能出现漏检，导致不合格的极片流向下道工序。

技术实现思路

[0004]本申请公开了一种检测装置，用于解决现有传送带透光率变差导致视觉检测系统无法获取清晰图像，从而影响视觉检测系统的检测精准度的问题。
[0005]为达到上述目的，本申请提供以下技术方案：
[0006]一种检测装置包括传送组件、第一光源和第二光源，传送组件设有传送面，传送面用于传输待检物料至检测装置的定位检测区；第一光源设于传送组件的背离传送面的一侧，第一光源的光束用于穿透传送面并照射定位检测区；第二光源设于传送面的背离待检物料的一侧，第二光源的光束照射待检物料的局部检测区，局部检测区位于定位检测区之内；局部检测区的光强强于定位检测区的光强。
[0007]本申请提供的检测装置通过传送面将待检物料传送至定位检测区，在第一光源的照射下，检测装置可获取待检物料的位置信息。由于待检物料的位置信息可借由较弱的光即可获得，因此，即使第一光源的光束在传输面的透过率降低之后，也可使待检物料准确成像并经由边缘轮廓信息获得其位置信息。而通过在定位检测区内的局部设置第二光源，第二光源的光束照射待检物料的局部检测区，从而使局部检测区的光强强于定位检测区的光强，即使第一光源的光束在传输面的透过率降低之后，第二光源的光波仍然可以穿透传送面，并照射到待检物料的局部检测区，从而保证检测装置能够获取待测物料在局部检测区的清晰图像，进而提高对局部检测区检测的准确度。
附图说明
[0008]图1为本申请一种实施例的检测装置的结构示意图；
[0009]图2为本申请一种实施例的检测装置的俯视图；
[0010]图3为本申请一种实施例的检测装置传输电池极片的示意图。
[0011]附图标号：100
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传送组件；110
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工作台；120
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传送带；200
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第二光源；300
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结构梁；400
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电池极片；410
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极片本体；420
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极耳；
[0012]01
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凹槽；02
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腔室；03
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避让口；04
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吸附孔。
具体实施方式
[0013]下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
[0014]图1为本申请一种实施例的检测装置的结构示意图，图2为本申请一种实施例的检测装置的俯视图，请参照图1和图2，该检测装置包括传送组件100、第一光源(图中未示出)和第二光源200，传送组件100设有传送面，传送面用于传输待检物料至检测装置的定位检测区；第一光源设于传送组件100的背离传送面的一侧，第一光源的光束用于穿透传送组件100并照射定位检测区；第二光源200设于传送面的背离待检物料的一侧，第二光源200的光束照射待检物料的局部检测区，局部检测区位于定位检测区之内；局部检测区的光强强于定位检测区的光强。
[0015]其中，为了进一步提高局部检测区的光照强度，第二光源200的光强强于第一光源的光强。
[0016]需要说明的是，局部检测区可以对应待检物料的部分区域，也可以对应物料的全部区域，具体根据实际检测需要进行设定。
[0017]本实施例的可选方案中，传送组件100包括工作台110和设于工作台110表面的传送带120，传送带120的背离工作台110的表面为传送面，传送带120为透光传送带120，从而使第一光源或者第二光源200的光波能够穿透传送带120，并照射待检物料。
[0018]其中，第一光源设于工作台的背离传送带的一侧。可以理解的是，本申请中不对第一光源与工作台之间的距离进行限定，只要第一光源的光波能够为定位检测区提供背光即可。
[0019]可以理解是，本申请中不对第一光源的类型进行限定。具体地，第一光源可为灯泡或者LED光源。
[0020]其中，为了保证第一光源能够均匀发光，第一光源优选为发光板，且发光板的照射面积大于等于定位检测区的面积，从而使发光板能为定位检测区提供均匀光强的背光。
[0021]其中，第二光源200设于传送带120的背离待检物料的一侧。可以理解的是，本申请中不对第二光源200与传送带120之间的距离进行限定，只要第二光源200的光波能够穿透传送带120并照射待检物料的局部检测区即可。
[0022]可以理解是，本申请中不对第二光源的类型进行限定。具体地，第二光源可为灯泡或者LED光源。
[0023]其中，为了保证第二光源能够均匀发光，第二光源优选为发光板，且发光板的照射面积大于等于局部检测区的面积，从而使发光板能为局部检测区提供均匀光强的背光。
[0024]可以理解的是，第一光源照射定位检测区，第二光源照射局部检测区，且局部检测
区位于定位检测区之内，当第一光源和第二光源都为均匀发光的发光板时，第一光源的照射面积大于第二光源的照射面积，又因为第二光源的光强强于第一光源的光强，从而既能保证光源能够照射待检物料的局部检测区，又避免将第一光源设为强光源，进而降低制造成本。
[0025]继续参照图1，在一些可选的实施例中，工作台110的朝向传送带120的一侧设有凹槽01，传送带120覆盖在凹槽01的开口并与凹槽01形成腔室02，第二光源200设于凹槽01内。
[0026]其中，自工作台110至传送带120方向，第二光源200能够在凹槽01内移动，从而使第二光源200靠近或者远离传送带120。可以理解的是，第二光源200和传送带120之间的距离越小，第二光源200发射的光波到达传送带120处的光强度越强，从而保证第二光源200的光波能够穿透传送带120并照射到待检物料的局部检测区。
[0027]可以理解的是，本申请中本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种检测装置，其特征在于，包括：传送组件，所述传送组件设有传送面，所述传送面用于传输待检物料至所述检测装置的定位检测区；第一光源，设于所述传送组件的背离所述传送面的一侧，所述第一光源的光束用于穿透所述传送面并照射所述定位检测区；第二光源，设于所述传送面的背离所述待检物料的一侧，所述第二光源的光束照射所述待检物料的局部检测区，所述局部检测区位于所述定位检测区之内；所述局部检测区的光强强于所述定位检测区的光强。2.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述第二光源的光强强于所述第一光源的光强。3.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述传送组件包括工作台和设于所述工作台表面的传送带，所述传送带的背离所述工作台的表面为所述传送面，所述传送带为透光传送带。4.根据权利要求3所述的检测装置，其特征在于，所述工作台的朝向所述传送带的一侧设有凹槽，所述传送带覆盖在所述凹槽的开口并与所述凹槽形成腔室，所述第二光源设于所述凹槽内；自所述工作台至所述传送带方向，所述第二光源能够在所述凹槽内移动。5.根据权利要求4所述的检测装置，其特征在于，所述凹槽设有多个，任一所述凹槽均沿所述待检物料的...

【专利技术属性】
技术研发人员：邓兴强，许东广，戎永欣，王中建，
申请(专利权)人：中创新航科技江苏有限公司，
类型：新型
国别省市：