一种半导体测试程序自动化调用方法和系统技术方案

本发明专利技术提供了一种半导体测试程序自动化调用方法和系统，其通过扫描一个生产批次号，同时自动调用出激光印字测试程序、测试机测试程序、分选机测试程序，提高了效率，同时降低了出错的风险。出错的风险。出错的风险。

【技术实现步骤摘要】
一种半导体测试程序自动化调用方法和系统


[0001]本专利技术涉及半导体测试相关
，具体涉及一种半导体测试程序自动化调用方法和系统。

技术介绍

[0002]现有的半导体测试工序中，需要作业人员根据随工单上的型号、生产日期、印字代码手动键盘输入调用程序，作业人员容易输错或者选错程序并效率低下；或者流程卡上加上程序条码，作业人员使用扫描枪扫描，将程序名输入，再手动调用程序后点击开始，该方法做不到完全自动化，每个程序都需要扫描一次，测试站点较多时效率较低，并且作业人员容易扫错，多次扫描也增大了出错的概率。
[0003]有鉴于上述的缺陷，当前亟需设计一种半导体测试程序自动化调用方法和系统，来满足需求。

技术实现思路

[0004]为了解决上述内容中提到的问题，本专利技术提供了一种半导体测试程序自动化调用方法和系统，其通过扫描一个生产批次号，同时自动调用出多个测试程序，提高了效率，同时降低了出错的风险。
[0005]其技术方案是这样的：
[0006]一种半导体测试程序自动化调用方法，其特征在于：所述方法包括以下步骤：
[0007]步骤S1、根据不同的产品型号和测试站点需求编写对应的测试程序，并存入RMS系统(程序管理系统)，同时与产品型号关联；
[0008]步骤S2、订单在MES系统(生产制造系统)中生成批次号，所述批次号关联产品型号；
[0009]步骤S3、测试开始时，作业人员将批次号发送给EAP系统(设备自动化程序系统)；
[0010]步骤S4、EAP系统将批次号发送给MES系统，MES系统通过批次号查询得到产品型号，然后通过产品型号得到测试程序名并传回给EAP系统；
[0011]步骤S5、EAP系统将测试程序名发送给RMS系统，RMS系统根据测试程序名将测试程序发送给EAP系统；
[0012]步骤S6、EAP系统将测试程序下载到对应的测试站点并自动调用。
[0013]进一步的，步骤S3中作业人员通过掌上电脑扫描录入批次号，并且账上电脑与EAP系统服务器相连接。
[0014]进一步的，所述测试站点包括：激光印字、测试机、分选机。
[0015]进一步的，所述步骤S5中的测试程序包括：激光印字测试程序、测试机测试程序、分选机测试程序。
[0016]基于上述方法，本专利技术还提供了一种半导体测试程序自动化调用系统，其特征在于：
[0017]所述系统包括：批次号输入装置、EAP系统、MES系统、RMS系统和测试站点；所述EAP系统分别与批次号输入装置、MES系统、RMS系统和测试站点相连接。
[0018]进一步的，所述批次号输入装置具体为扫描枪和掌上电脑，所述账上电脑与EAP系统服务器相连接。
[0019]进一步的，所述EAP系统用于根据批次号获取测试程序，并下载给对应的测试站点，所述测试站点再自动调用测试程序；所述MES系统用于生成批次号，并且将所述批次号关联产品型号；所述RMS系统用于保存测试程序，并且将测试程序与产品型号关联。
[0020]本专利技术的有益效果为：
[0021]1、本专利技术通过扫描一个生产批次号，同时自动调用出多个测试程序，提高生产自动化程度，进而提高了效率，人机比由一比三提高到一比五，同时降低了对人的要求，进而降低了出错的风险，保证了产品的质量，并且减少了潜在质量成本与实际人工成本，降低比例30％，提高了生产效益。
[0022]2、本专利技术中的测试程序通过RMS系统后台维护，并且与产品信息做了提前关联，提高了测试程序维护的效率，同时降低了维护的成本。
附图说明
[0023]图1为本专利技术实施例的测试系统架构示意图。
具体实施方式
[0024]下面结合实施例对本专利技术做进一步的描述。
[0025]以下实施例用于说明本专利技术，但不能用来限制本专利技术的保护范围。实施例中的条件可以根据具体条件做进一步的调整，在本专利技术的构思前提下对本专利技术的方法简单改进都属于本专利技术要求保护的范围。
[0026]实施例1、
[0027]如图1所示，本专利技术提供了一种半导体测试程序自动化调用系统，所述系统包括：掌上电脑、EAP系统、MES系统、RMS系统和测试站点(激光印字、测试机、分选机)；所述EAP系统分别与掌上电脑、MES系统、RMS系统和测试站点相连接。基于上述系统的一种半导体测试程序自动化调用方法，所述方法包括以下步骤：
[0028]步骤S1、根据不同的产品型号和测试站点需求编写对应的测试程序，包括激光印字测试程序、测试机测试程序、分选机测试程序，并存入RMS系统(程序管理系统)，同时与产品型号关联。
[0029]步骤S2、订单在MES系统(生产制造系统)中生成批次号，所述批次号关联产品型号。
[0030]步骤S3、测试开始时，作业人员通过掌上电脑扫描录入批次号，并且账上电脑与EAP系统服务器相连接，然后将批次号发送给EAP系统(设备自动化程序系统)。
[0031]步骤S4、EAP系统将批次号发送给MES系统，MES系统通过批次号查询得到产品型号，然后通过产品型号得到测试程序名并传回给EAP系统；
[0032]步骤S5、EAP系统将测试程序名发送给RMS系统，RMS系统根据测试程序名将测试程序(激光印字测试程序、测试机测试程序、分选机测试程序)发送给EAP系统；
[0033]步骤S6、EAP系统将测试程序下载到对应的测试站点，激光印字测试程序发送到激光印字站点，测试机测试程序发送到测试机站点，分选机测试程序发送到分选机站点，然后进行自动调用。
[0034]尽管已经出示和描述了本专利技术的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本专利技术的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本专利技术的范围由所附权利要求及其等同物限定。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种半导体测试程序自动化调用方法，其特征在于：所述方法包括以下步骤：步骤S1、根据不同的产品型号和测试站点需求编写对应的测试程序，并存入RMS系统(程序管理系统)，同时测试程序与产品型号关联；步骤S2、订单在MES系统(生产制造系统)中生成批次号，所述批次号关联产品型号；步骤S3、测试开始时，作业人员将批次号发送给EAP系统(设备自动化程序系统)；步骤S4、EAP系统将批次号发送给MES系统，MES系统通过批次号查询得到产品型号，然后通过产品型号得到测试程序名并传回给EAP系统；步骤S5、EAP系统将测试程序名发送给RMS系统，RMS系统根据测试程序名将测试程序发送给EAP系统；步骤S6、EAP系统将测试程序下载到对应的测试站点并自动调用。2.根据权利要求1所述的一种半导体测试程序自动化调用方法，其特征在于：步骤S3中作业人员通过掌上电脑扫描录入批次号，并且账上电脑与EAP系统服务器相连接。3.根据权利要求1所述的一种半导体测试程序自动化调用方法，其特征在于：所述测试站点包括：激光印字、测试机、分选机。4.根据权利要求3所述的一种半导体测试程序自动化调用方法，其特征在于：所述步骤S5中...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨建，晏长春，任文豪，丁长锋，卢登辉，
申请(专利权)人：江苏捷捷微电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：