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本发明提供了一种半导体测试程序自动化调用方法和系统，其通过扫描一个生产批次号，同时自动调用出激光印字测试程序、测试机测试程序、分选机测试程序，提高了效率，同时降低了出错的风险。出错的风险。出错的风险。
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该专利属于江苏捷捷微电子股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过江苏捷捷微电子股份有限公司授权不得商用。

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