存储器测试系统及测试方法技术方案

本发明专利技术提供一种存储器测试系统及测试方法，存储器测试系统包括向量发生器、测试板和存储器测试仪，向量发生器用于生成至少一个测试向量，并将测试向量发送至测试板，测试板用于接收测试向量，并将测试向量发送至存储器测试仪；存储器测试仪用于执行测试向量以对待测存储器进行相应的测试。即，向量发生器与存储器测试仪通过测试板来实现联动，由此可以增加所生成的测试向量的深度和行数，从而生成待测存储器所需的测试向量，进而满足待测存储器的测试需求。测试需求。测试需求。

【技术实现步骤摘要】
存储器测试系统及测试方法


[0001]本专利技术涉及半导体存储器测试
，特别涉及一种存储器测试系统及测试方法。

技术介绍

[0002]随着技术的发展和进步，存储器在各类电子设备中的应用越来越广泛。在存储器的生产和制造过程中，为了降低存储器故障率和次品率，往往需要对存储器进行测试。存储器测试包括参数测试和功能测试。在功能测试时需要使用到测试向量，随着集成电路规模化越来越大，集成度越来越高，为了覆盖到尽可能多的可行性，测试向量也越来越大。然而，现有的存储器测试系统通常采用单一的存储器测试仪来对存储器进行测试，单一的测试仪能写入的测试向量的深度和行数有限，无法满足存储器的测试需求。

技术实现思路

[0003]本专利技术的目的在于提供一种存储器测试系统及测试方法，以增加测试向量的深度和行数从而满足存储器的测试需求。
[0004]为实现上述目的，本专利技术提供一种存储器测试系统，包括向量发生器、测试板和存储器测试仪：
[0005]所述向量发生器用于生成至少一个测试向量，并将所述测试向量发送至测试板；
[0006]所述测试板用于接收所述测试向量，并将所述测试向量发送至存储器测试仪；
[0007]所述存储器测试仪用于执行所述测试向量以对待测存储器进行相应的测试，并在完成与当前的所述测试向量相应的测试后通过所述测试板向所述向量发生器发送测试完成信号。
[0008]可选的，在所述的存储器测试系统中，所述向量发生器还用于向所述存储器测试仪发送触发信号，所述触发信号用于触发所述存储器测试仪来执行所述测试向量。
[0009]可选的，在所述的存储器测试系统中，所述向量发生器通过所述测试板向所述存储器测试仪发送触发信号。
[0010]可选的，在所述的存储器测试系统中，所述触发信号包括执行完所述测试向量所需的周期数、时间、电压、频率和待测存储器中的预定管脚的电位。
[0011]可选的，在所述的存储器测试系统中，对所述待测存储器进行一个测试向量的测试时，所述向量发生器接收到与当前的所述测试向量相对应的测试完成信号后，测试结束；
[0012]对所述待测存储器进行两个以上的测试向量的测试时，所述向量发生器接收到与当前的所述测试向量相对应的测试完成信号后，向所述测试板发送另一个测试向量和触发信号，测试板接收到向量发生器发送的另一个所述测试向量和触发信号后，将另一个所述测试向量和触发信号发送至存储器测试仪，以通过所述触发信号触发存储器测试仪执行另一个所述测试向量以对待测存储器进行相应的测试，并在完成另一个所述测试向量相应的测试后向测试板发送测试完成信号，测试板接收所述测试完成信号并将所述测试完成信号
提供给向量发生器，如此循环，直至待测存储器的所有测试向量测试结束。
[0013]可选的，在所述的存储器测试系统中，所述向量发生器包括第一公用测试通道，所述存储器测试包括第二共用测试通道，所述测试板包括共用测试通道接口，所述第一公用测试通道通过所述测试通道接口与所述第二共用测试通道连接。
[0014]基于同一专利技术构思，本专利技术还提供一种存储器测试方法，包括：
[0015]通过向量发生器生成至少一个测试向量，并将所述测试向量发送至测试板；
[0016]接收所述测试向量，并通过所述测试板将所述测试向量发送至存储器测试仪；以及，
[0017]通过所述存储器测试仪执行所述测试向量以对待测存储器进行相应的测试，并在完成与当前的所述测试向量相应的测试后通过所述测试板向所述向量发生器发送测试完成信号。
[0018]可选的，在所述的存储器测试方法中，在将所述测试向量发送至测试板之后，所述存储器测试方法还包括:
[0019]向所述存储器测试仪发送触发信号，所述触发信号用于触发所述存储器测试仪来执行所述测试向量。
[0020]可选的，在所述的存储器测试方法中，所述触发信号包括执行完所述测试向量所需的周期数、时间、电压、频率和待测存储器中的预定管脚的电位。
[0021]可选的，在所述的存储器测试方法中，对所述待测存储器进行一个测试向量的测试时，所述向量发生器接收到与当前的所述测试向量相对应的测试完成信号后，测试结束；
[0022]对所述待测存储器进行两个以上的测试向量的测试时，所述向量发生器接收到与当前的所述测试向量相对应的测试完成信号后，向所述测试板发送另一个测试向量和触发信号，测试板接收到向量发生器发送的另一个所述测试向量和触发信号后，将另一个所述测试向量和触发信号发送至存储器测试仪，以通过所述触发信号触发存储器测试执行另一个所述测试向量以对待测存储器进行相应的测试，并在完成另一个所述测试向量相应的测试后向测试板发送测试完成信号，测试板接收所述测试完成信号并将所述测试完成信号提供给向量发生器，如此循环，直至待测存储器的所有测试向量测试结束。
[0023]在本专利技术提供的存储器测试系统中，存储器测试系统包括向量发生器、测试板和存储器测试仪，向量发生器用于生成至少一个测试向量，并将所述测试向量发送至测试板，所述测试板用于接收所述测试向量，并将所述测试向量发送至存储器测试仪；所述存储器测试仪用于执行所述测试向量以对待测存储器进行相应的测试。即，向量发生器与存储器测试仪通过测试板来实现联动，由此可以增加所生成的测试向量的深度和行数，从而生成待测存储器所需的测试向量，进而满足待测存储器的测试需求。
附图说明
[0024]图1是本专利技术实施例的存储器测试系统的框图；
[0025]图2是本专利技术实施例的存储器测试方法的流程示意图；
[0026]其中，附图标记说明如下：
[0027]10
‑
向量发生器；20
‑
存储器测试仪；30
‑
测试板；40
‑
待测存储器；50
‑
示波器。
具体实施方式
[0028]以下结合附图和具体实施例对本专利技术提出的存储器测试系统及测试方法作进一步详细说明。根据下面说明，本专利技术的优点和特征将更清楚。需说明的是，附图均采用非常简化的形式且均使用非精准的比例，仅用以方便、明晰地辅助说明本专利技术实施例的目的。
[0029]如在本专利技术中所使用的，单数形式“一”、“一个”以及“该”包括复数对象，术语“或”通常是以包括“和/或”的含义而进行使用的，术语“若干”通常是以包括“至少一个”的含义而进行使用的，术语“至少两个”通常是以包括“两个或两个以上”的含义而进行使用的，此外，术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本专利技术中的具体含义。
[0030]图1是本专利技术实施例的存储器测试系统的框图。如图1所示，本实施例提供一种存储器测试系统，包括向量发生器10、测试板30和存储器测试仪20；所述向量发生器10用于生成至少一个测试向量，并将所述测试向量发送至测试板30；所本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种存储器测试系统，其特征在于，包括向量发生器、测试板和存储器测试仪：所述向量发生器用于生成至少一个测试向量，并将所述测试向量发送至测试板；所述测试板用于接收所述测试向量，并将所述测试向量发送至存储器测试仪；所述存储器测试仪用于执行所述测试向量以对待测存储器进行相应的测试，并在完成与当前的所述测试向量相应的测试后通过所述测试板向所述向量发生器发送测试完成信号。2.如权利要求1所述的存储器测试系统，其特征在于，所述向量发生器还用于向所述存储器测试仪发送触发信号，所述触发信号用于触发所述存储器测试仪来执行所述测试向量。3.如权利要求2所述的存储器测试系统，其特征在于，所述向量发生器通过所述测试板向所述存储器测试仪发送触发信号。4.如权利要求3所述的存储器测试系统，其特征在于，所述触发信号包括执行完所述测试向量所需的周期数、时间、电压、频率和待测存储器中的预定管脚的电位。5.如权利要求1所述的存储器测试系统，其特征在于，对所述待测存储器进行一个测试向量的测试时，所述向量发生器接收到与当前的所述测试向量相对应的测试完成信号后，测试结束；对所述待测存储器进行两个以上的测试向量的测试时，所述向量发生器接收到与当前的所述测试向量相对应的测试完成信号后，向所述测试板发送另一个测试向量和触发信号，测试板接收到向量发生器发送的另一个所述测试向量和触发信号后，将另一个所述测试向量和触发信号发送至存储器测试仪，以通过所述触发信号触发存储器测试执行另一个所述测试向量以对待测存储器进行相应的测试，并在完成另一个所述测试向量相应的测试后向测试板发送测试完成信号，测试板接收所述测试完成信号并将所述测试完成信号提供给向量发生器，如此循环，直至待测存储器的所有测试向量测试结束。6.如权利要求1所述的存储器测试系统，其特征在于，所述向量发生器包括第一公用...

【专利技术属性】
技术研发人员：任开元，林晓敏，魏文，蔡恩静，高金德，
申请(专利权)人：上海华力微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：