一种高重用率SSD验证盘片及其应用方法技术

本发明专利技术提供一种高重用率SSD验证盘片及其应用方法，所述高重用率SSD验证盘片包括SSD控制器底板和多个NAND颗粒小卡；所述NAND颗粒小卡插拔连接在SSD控制器底板上。本发明专利技术通过SSD控制器底板与NAND颗粒小卡的可拆卸设计，能够解决跨版本间小批量验证的SSD验证盘片物料无法重用的问题，节省研发成本和人力投入。节省研发成本和人力投入。节省研发成本和人力投入。

【技术实现步骤摘要】
一种高重用率SSD验证盘片及其应用方法


[0001]本专利技术涉及SSD验证盘片
，具体而言，涉及一种高重用率SSD验证盘片及其应用方法。

技术介绍

[0002]全固态闪存盘(SSD，Solid State Disk)在研发阶段的小批量验证中，需要极大数量的SSD验证盘片物料来覆盖各种应用场景，现有的SSD验证盘片结构如图1所示，由于目前SSD验证盘片的物料成本依然居高不下，该需求会导致一笔较大的固定研发成本(可能高达数百万)投入。最关键的是一个较大的版本迭代升级(如SSD控制器升级演进到新一代或者NAND颗粒有新代次演进)，会导致上一个版本的物料在新版本中无法使用，且由于该物料已非全新，不能对外发货变现(报废或者回收)，这造成极大的物料浪费。

技术实现思路

[0003]本专利技术旨在提供一种高重用率SSD验证盘片及其应用方法，以解决现有技术中跨版本间小批量验证的SSD验证盘片物料无法重用的问题。
[0004]本专利技术提供的一种高重用率SSD验证盘片，包括SSD控制器底板和多个NAND颗粒小卡；
[0005]所述NAND颗粒小卡插拔连接在SSD控制器底板上。
[0006]在一些优选的实施方案中，所述SSD控制器底板与NAND颗粒小卡通过连接器插拔连接。
[0007]在一些优选的实施方案中，所述SSD控制器底板上具有若干与SSD控制器信号互连的连接器一，所述NAND颗粒小卡上具有与NAND颗粒信号互连的连接器二；
[0008]所述NAND颗粒小卡上的连接器二与所述SSD控制器底板上的连接器一插拔连接。
[0009]在一些优选的实施方案中，所述连接器二为金手指。
[0010]在一些优选的实施方案中，所述连接器一为M.2连接器；所述金手指为M.2的金手指。
[0011]在一些优选的实施方案中，当在对NAND颗粒演进场景应用时，所述高重用率SSD验证盘片的应用方法包括：
[0012]将用于替换的NAND颗粒小卡上的连接器二按照被替换的NAND颗粒小卡上连接器二的引脚进行定义，重新设计该用于替换的NAND颗粒小卡并加工；
[0013]将用于替换的NAND颗粒小卡插入已有的SSD控制器底板上。
[0014]在一些优选的实施方案中，当在对SSD控制器演进场景应用时，所述高重用率SSD验证盘片的应用方法包括：
[0015]重新加工用于替换的SSD控制器底板；
[0016]将已有的NAND颗粒小卡插入SSD控制器底板。
[0017]在一些优选的实施方案中，当需要不同容量的SSD验证盘片时，所述高重用率SSD
验证盘片的应用方法包括：
[0018]通过在SSD控制器底板上插入不同数量的NAND颗粒小卡，得到不同容量的SSD验证盘片。
[0019]综上所述，由于采用了上述技术方案，本专利技术的有益效果是：
[0020]本专利技术通过SSD控制器底板与NAND颗粒小卡的可拆卸设计，能够解决跨版本间小批量验证的SSD验证盘片物料无法重用的问题，节省研发成本和人力投入。
附图说明
[0021]为了更清楚地说明本专利技术实施例的技术方案，下面将对实施例中的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本专利技术的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
[0022]图1为现有的SSD验证盘片的结构示意图。
[0023]图2为本专利技术实施例中高重用率SSD验证盘片的结构示意图。
具体实施方式
[0024]为使本专利技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本专利技术实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。
[0025]因此，以下对在附图中提供的本专利技术的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本专利技术的范围，而是仅仅表示本专利技术的选定实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0026]实施例
[0027]如图2所示，本实施例提出一种高重用率SSD验证盘片，包括SSD控制器底板和多个NAND颗粒小卡；
[0028]所述NAND颗粒小卡插拔连接在SSD控制器底板上。由此，通过SSD控制器底板与NAND颗粒小卡的可拆卸设计，使得SSD验证盘片能够重复利用，节约物料成本。
[0029]本实施例中，所述SSD控制器底板与NAND颗粒小卡通过连接器插拔连接。具体地：
[0030]所述SSD控制器底板上具有若干与SSD控制器信号互连的连接器一，所述NAND颗粒小卡上具有与NAND颗粒信号互连的连接器二；
[0031]所述NAND颗粒小卡上的连接器二与所述SSD控制器底板上的连接器一插拔连接。
[0032]上述方案中连接器一和连接器二可以根据应用情况选择，本实施例优选的是：
[0033]所述连接器一采用M.2连接器；
[0034]所述连接器二采用M.2的金手指。
[0035]上述高重用率SSD验证盘片能够节约物料成本的应用方法主要有如下三种典型场景：
[0036]场景一，当在对NAND颗粒演进场景应用时，所述应用方法包括：
[0037]将用于替换的NAND颗粒小卡上的连接器二按照被替换的NAND颗粒小卡上连接器二的引脚进行定义，重新设计该用于替换的NAND颗粒小卡并加工；
[0038]将用于替换的NAND颗粒小卡插入已有的SSD控制器底板上。需要说明的是，所述SSD控制器底板上的部件能够在多版本的NAND颗粒小卡之间复用。
[0039]场景二，当在对SSD控制器演进场景应用时，所述应用方法包括：
[0040]重新加工用于替换的SSD控制器底板；
[0041]将已有的NAND颗粒小卡插入SSD控制器底板。由此，NAND颗粒小卡能够在多版本的SSD控制器底板之间复用。
[0042]场景三，当需要不同容量的SSD验证盘片时，所述应用方法包括：
[0043]通过在SSD控制器底板上插入不同数量的NAND颗粒小卡，得到不同容量的SSD验证盘片，由此能够不必单独因容量差异加工一批新的SSD验证盘片用于验证。
[0044]上述三个场景可以一次性投入，多数物料可以在多版本替代、芯片技术演进等场景重复利用，从而极大的降低SSD验证盘片需要投入的总体成本。
[0045]以上所述仅为本专利技术的优选实施例而已，并不用于限制本专利技术，对于本领域的技术人员来说，本专利技术可以有各种更改和变化。凡在本专利技术的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本专利技术的保护范围之内。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种高重用率SSD验证盘片，其特征在于，包括SSD控制器底板和多个NAND颗粒小卡；所述NAND颗粒小卡插拔连接在SSD控制器底板上。2.根据权利要求1所述的高重用率SSD验证盘片，其特征在于，所述SSD控制器底板与NAND颗粒小卡通过连接器插拔连接。3.根据权利要求2所述的高重用率SSD验证盘片，其特征在于，所述SSD控制器底板上具有若干与SSD控制器信号互连的连接器一，所述NAND颗粒小卡上具有与NAND颗粒信号互连的连接器二；所述NAND颗粒小卡上的连接器二与所述SSD控制器底板上的连接器一插拔连接。4.根据权利要求3所述的高重用率SSD验证盘片，其特征在于，所述连接器二为金手指。5.根据权利要求4所述的高重用率SSD验证盘片，其特征在于，所述连接器一为M.2连接器；所述金手指为M.2的金手指。6.一种如权利要求1
‑
5任一项所述的高重用率S...

【专利技术属性】
技术研发人员：程维，
申请(专利权)人：成都电科星拓科技有限公司，
类型：发明
国别省市：