硬盘数据测试方法、装置、系统及介质制造方法及图纸

本申请公开了硬盘数据测试方法、装置、系统及介质，其中，硬盘数据测试方法包括：基于第一测试软件对目标硬盘整盘进行数据写入操作；在温箱中对目标硬盘进行断电烘烤测试后，在常温下对目标硬盘的数据进行数据校验；在目标硬盘通过数据校验的情况下，对目标硬盘进行格式化操作和分区操作，得到第一分区和第二分区；基于第二测试软件对第一分区进行数据写入操作，第二分区为空；在温箱中先对第一分区进行第一高温测试，再对第二分区进行第二高温测试；当第一高温测试和第二高温测试结果都通过，在常温下对第一分区进行数据校验。根据本申请的技术方案，能够适用于各种类型的硬盘，通过提供不同的测试环境，提高对硬盘测试的准确性。确性。确性。

【技术实现步骤摘要】
硬盘数据测试方法、装置、系统及介质


[0001]本申请涉及数据处理
，尤其是一种硬盘数据测试方法、装置、系统及介质。

技术介绍

[0002]硬盘是电脑主要的存储媒介之一，硬盘包括固态硬盘、机械硬盘和混合硬盘，硬盘在设计时要考虑硬盘的性能和擦除损耗等方面的影响，因此在将产品送至客户手中之前，需要对硬盘进行速度测试、质量测试等测试过程，以避免出现硬盘质量问题。
[0003]目前在硬盘尤其是工业固态硬盘的测试方面，大部分测试方法主要通过常规市售的测试软件，针对硬盘在系统下的性能表现进行测试并读取相应的数据。但是，其忽视了硬盘本身存储信息类型不同的问题。同时，现有的测试方法只是进行简单的数据层面的模拟与对比，无法对不同的数据类型进行区分对比。因此，相关技术对于硬盘的测试流程过于简单，导致对不同类型的硬盘筛选效果不好，无法对各种类型的硬盘进行测试。

技术实现思路

[0004]本申请实施例提供了一种硬盘数据测试方法、装置、系统及介质，适用于各种类型的硬盘，通过提供不同的测试环境，提高对硬盘测试的准确性。
[0005]第一方面，本申请实施例提供了一种硬盘数据测试方法，基于第一测试软件对目标硬盘整盘进行数据写入操作；
[0006]在温箱中对所述目标硬盘进行断电烘烤测试后，在常温下对所述目标硬盘的数据进行数据校验；
[0007]在所述目标硬盘通过数据校验的情况下，对所述目标硬盘进行格式化操作和分区操作，得到第一分区和第二分区；
[0008]基于第二测试软件对所述第一分区进行数据写入操作，所述第二分区为空；
[0009]在温箱中先对所述第一分区进行第一高温测试，再对所述第二分区进行第二高温测试；
[0010]当第一高温测试和第二高温测试结果都通过，在常温下对所述第一分区进行数据校验。
[0011]在一些实施例中，所述在温箱中先对所述第一分区进行第一高温测试，再对所述第二分区进行第二高温测试，包括：
[0012]将所述温箱中的温度调节为第一预设温度，在所述第一预设温度下对所述第一分区进行断电烘烤测试；
[0013]在经过预设的第一测试周期后，将所述第一分区从所述温箱取出，并在常温下基于所述第二测试软件对所述第一分区的数据进行数据校验；
[0014]在所述第一分区通过数据校验的情况下，基于第三测试软件对所述第二分区进行随机擦写测试。
[0015]在一些实施例中，所述基于第三测试软件对所述第二分区进行随机擦写测试，包括：
[0016]将所述温箱中的温度调节为第二预设温度，基于所述第三测试软件在所述第二预设温度下对所述第二分区进行随机数写入操作，记录所述第二分区的随机数据；
[0017]在经过预设的第二测试周期后，对所述随机数据进行满盘擦写操作。
[0018]在一些实施例中，所述在温箱中对所述目标硬盘进行断电烘烤测试后，在常温下对所述目标硬盘的数据进行数据校验，包括：
[0019]将所述温箱中的温度调节为第三预设温度，在所述第三预设温度下对所述目标硬盘进行断电烘烤测试；
[0020]在经过预设的第三测试周期后，将所述目标硬盘从所述温箱中取出，并在常温下对所述目标硬盘的数据进行数据校验。
[0021]在一些实施例中，所述第一测试软件为fio软件，所述第二测试软件为H2test软件，所述第三测试软件为BIT测试软件；还包括：
[0022]当接收到所述H2test软件输出的所述第一分区进行第一高温测试通过的信息，调用所述BIT测试软件并按照预设参数设置所述BIT测试软件中的测试参数。
[0023]在一些实施例中，还包括：
[0024]对所述目标硬盘的数据校验、第一高温测试以及第二高温测试的过程进行记录，生成硬盘日志信息。
[0025]在一些实施例中，还包括：
[0026]当第一高温测试和第二高温测试中任意一个测试结果为未通过，确定测试异常信息；
[0027]将所述测试异常信息添加至所述硬盘日志信息。
[0028]第二方面，本申请实施例还提供了一种硬盘数据测试装置，包括：存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如第一方面所述的硬盘数据测试方法。
[0029]第三方面，本申请实施例还提供了一种硬盘数据测试系统，包括温箱以及如第二方面所述的硬盘数据测试装置。
[0030]第四方面，本申请实施例还提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机可执行指令，所述计算机可执行指令用于执行如第一方面所述的硬盘数据测试方法。
[0031]本申请实施例至少有如下有益效果：首先，基于第一测试软件对目标硬盘整盘进行数据写入操作，在温箱中对目标硬盘进行断电烘烤测试后，在常温下对目标硬盘的数据进行数据校验，从而能够得到目标硬盘在断电或者故障场景下数据的完整性和持久性，之后在目标硬盘通过数据校验的情况下，对目标硬盘进行格式化操作和分区操作，得到第一分区和第二分区，能够灵活地验证第一分区和第二分区，避免分区的相互影响，再基于第二测试软件对第一分区进行数据写入操作，并对第二分区不操作，使得第二分区为空，实现针对不同分区的校验，提高校验的可靠性，最后在温箱中先对第一分区进行第一高温测试，再对第二分区进行第二高温测试，实现在不同测试环境下对目标硬盘的校验，能够覆盖多种测试场景，当第一高温测试和第二高温测试结果都通过，在常温下对第一分区进行数据校
验，提高目标硬盘的数据可靠性以及完整性，提高目标硬盘的稳定性。
[0032]本专利技术的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本专利技术而了解。本专利技术的目的和其他优点可通过在说明书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。
附图说明
[0033]图1是本专利技术一个实施例提供的硬盘数据测试方法的流程图；
[0034]图2是图1中步骤S105的具体方法的流程图；
[0035]图3是图2中步骤S203的具体方法的流程图；
[0036]图4是图1中步骤S102的具体方法的流程图；
[0037]图5是本专利技术另一个实施例提供的硬盘数据测试方法的流程图；
[0038]图6是本申请一个实施例提供的硬盘数据测试装置的结构示意图。
具体实施方式
[0039]为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。
[0040]需要说明的是，虽然在流程图中示出了逻辑顺序，但是在某些情况下，可以以不同于流程图中的顺序执行所示出或描述的步骤。说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。
[0041]为了使本专利技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种硬盘数据测试方法，其特征在于，包括：基于第一测试软件对目标硬盘整盘进行数据写入操作；在温箱中对所述目标硬盘进行断电烘烤测试后，在常温下对所述目标硬盘的数据进行数据校验；在所述目标硬盘通过数据校验的情况下，对所述目标硬盘进行格式化操作和分区操作，得到第一分区和第二分区；基于第二测试软件对所述第一分区进行数据写入操作，所述第二分区为空；在温箱中先对所述第一分区进行第一高温测试，再对所述第二分区进行第二高温测试；当第一高温测试和第二高温测试结果都通过，在常温下对所述第一分区进行数据校验。2.根据权利要求1所述的硬盘数据测试方法，其特征在于，所述在温箱中先对所述第一分区进行第一高温测试，再对所述第二分区进行第二高温测试，包括：将所述温箱中的温度调节为第一预设温度，在所述第一预设温度下对所述第一分区进行断电烘烤测试；在经过预设的第一测试周期后，将所述第一分区从所述温箱取出，并在常温下基于所述第二测试软件对所述第一分区的数据进行数据校验；在所述第一分区通过数据校验的情况下，基于第三测试软件对所述第二分区进行随机擦写测试。3.根据权利要求2所述的硬盘数据测试方法，其特征在于，所述基于第三测试软件对所述第二分区进行随机擦写测试，包括：将所述温箱中的温度调节为第二预设温度，基于所述第三测试软件在所述第二预设温度下对所述第二分区进行随机数写入操作，记录所述第二分区的随机数据；在经过预设的第二测试周期后，对所述随机数据进行满盘擦写操作。4.根据权利要求1所述的硬盘数据测试方法，其特征在于，所述在温箱中对所述目标硬盘进行断电烘烤测试后，...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴之鉴，宋魏杰，赖鼐，龚晖，
申请(专利权)人：深圳市晶存科技有限公司，
类型：发明
国别省市：