【技术实现步骤摘要】
一种DMD数字光刻曝光系统及其装调检测方法
[0001]本专利技术涉及一种DMD光刻曝光系统及其装调检测方法,属于半导体集成电路或印刷电路制造
技术介绍
[0002]光刻技术是半导体器件加工的核心。随着加工器件的密度不断提升,光刻的线宽尺寸在不断减小,光刻需要的掩模板成本也在逐渐上升,寻求低成本或者无掩模的光刻技术成为研究热点。基于数字微镜器件的无掩模数字光刻技术使用DMD代替传统掩模板,更换曝光图形时不需要更换掩模板,降低了光刻制版成本,减少换版时间,提高光刻技术的灵活性,目前获得了广泛应用。曝光系统是光刻机的关键子系统,曝光系统的解析能力直接决定了光刻机曝光的最小线宽。在DMD数字光刻系统中,曝光系统包括光源、照明系统、DMD和投影系统。
[0003]为保证DMD数字刻曝光系统具有高的曝光质量,对于照明系统、投影系统的相对位置精度要求很高,对于照明系统和投影系统的镜片的间距、偏心和倾斜的位置公差要求也非常严格,两者相对位置的微小变动均会对曝光质量产生很大的影响。
[0004]对于目前业内DMD数 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种DMD数字光刻曝光系统,其特征在于,包括依次设置的光源、照明系统、DMD、投影系统、后置透镜和数码相机,所述数码相机安装在所述后置透镜的后焦面且能够在后焦面上移动;所述光源发出的光经过所述照明系统匀光准直整形照射物面DMD,DMD与像面共轭成像,DMD的图形经所述投影系统成像在像面,所述后置透镜设置在像面后。2.根据权利要求1所述的DMD数字光刻曝光系统,其特征在于,所述投影系统为双远心系统。3.根据权利要求1所述的DMD数字光刻曝光系统,其特征在于,所述投影系统的光阑面也为所述DMD数字光刻曝光系统的频谱面,在该频谱面上的光强分布为该DMD数字光刻曝光系统的频谱图像。4.根据权利要求1所述的DMD数字光刻曝光系统,其特征在于,所述后置透镜的孔径D、投影系统像方孔径角u
’
、曝光视场y
’
和后置透镜焦距f满足如下关系:D>2(f*tanu
’
+y
’
)。5.一种DMD数字光刻曝光系统装调检测方法,其特征在于,应用了权利要求1
‑
4任一项所述的DMD数字光刻曝光系统,包括以下步骤:第一步:将照明系统与投影系统通过最初设计的机械定位进行安装,再根据4F光学原理安装后置透镜的位置,并在后置透镜后焦面安装数码相机;第二步:数码相机记录曝光系统的频谱图像,分别记录频谱尺寸大小,频谱清晰程度,通过数码的灰度提取频谱的能量分布;第...
【专利技术属性】
技术研发人员:王寅,李世光,曾海峰,戢逸云,
申请(专利权)人:江苏影速集成电路装备股份有限公司,
类型:发明
国别省市:
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