一种dTOF芯片测试系统、dTOF芯片测试方法及相关设备技术方案

本申请实施例提供了一种dTOF芯片测试系统、dTOF芯片测试方法及相关设备，用于自动化dTOF芯片功能，以尽可能地提高测试效率，并提高准确率。本申请实施例方法包括：预先设置目标测试项及测试顺序；按照测试顺序，对所述目标测试项逐一进行测试；当所述目标测试项需要外接测试设备进行测试时，则控制外接测试设备开启，控制dTOF芯片进入相应工作模式，当外接测试设备测试完成相应目标测试项后，从所述外接测试设备中读取测试数据；若当前测试数据不满足预设标准，则确定所述dTOF芯片为不合格芯片，不再执行后续测试；若当前测试数据满足预设标准，则继续执行后续测试；当测试项全部测试完成或中断执行，根据测试数据生成测试报告。告。告。

【技术实现步骤摘要】
一种dTOF芯片测试系统、dTOF芯片测试方法及相关设备


[0001]本申请实施例涉及芯片测试
，尤其涉及一种dTOF芯片测试系统、dTOF芯片测试方法及相关设备。

技术介绍

[0002]由于半导体的发展，直接飞行时间(dToF，direct time offlight)芯片应用也越来越广泛。随着dToF芯片的制造工艺不断进步，对于dToF芯片测试的需求也越来越大。但是，目前在对dToF芯片进行测试时，往往只能对dToF芯片的单一功能进行测试，在每项功能依次进行测试后才能完成dToF芯片的整体性验证测试。此种测试方式导致测试速度慢，同时精度也较低。
[0003]由此，亟需一种对于dToF芯片的测试方法，以尽可能提高测试效率，并提高准确率。

技术实现思路

[0004]本申请实施例提供了一种dTOF芯片测试系统、dTOF芯片测试方法及相关设备，用于自动化dTOF芯片功能，以尽可能地提高测试效率，并提高准确率。
[0005]本申请实施例第一方面提供了一种dTOF芯片测试系统，dTOF芯片测试系统包括：控制端、FGPA主板、dTOF芯片、测试电路板及外接测试设备；
[0006]所述控制端，通过FPGA主板与所述测试电路板连接，用于生成测试信号；
[0007]所述测试电路板上设置有所述dTOF芯片；所述测试电路板，用于将所述测试信号发送给所述dTOF芯片，和从所述dTOF芯片获取所述目标测试数据；
[0008]所述dTOF芯片，用于根据所述测试信号，对第一组目标测试项进行测试，以生成与所述第一组目标测试项对应的第一目标测试数据；根据第二组目标测试项开启相应工作模式；
[0009]所述外接测试设备，用于测量所述第二组目标测试项对应的第二目标测试数据，并将所述第二目标测试数据发送给所述控制端；
[0010]所述控制端，用于获取所述第一目标测试数据和第二目标测试数据，并生成测试报告。
[0011]可选地，所述外接测试设备分别与所述控制端及所述测试电路板连接；
[0012]所述外接测试设备，用于接收所述控制端发送的开启信号，并根据所述开启信号对所述测试电路板的所述第二组目标测试项所包含的引脚进行测试，以得到第二目标测试数据。
[0013]可选地，
[0014]所述外接测试设备包括源表和测试盒；其中，所述源表及所述测试盒用于测试所述dTOP芯片相对应引脚的电压、电流。
[0015]可选地，所述芯片测试系统还包括光源，所述光源根据所述控制端发送的控制信
号，控制其发光的强度和时长。
[0016]本申请实施例第二方面提供了一种基于dTOF芯片测试系统的dTOF芯片测试方法，包括：
[0017]预先设置目标测试项及测试顺序；
[0018]按照测试顺序，对所述目标测试项逐一进行测试；
[0019]所述目标测试项需要外接测试设备进行测试时，则控制外接测试设备开启，控制dTOF芯片进入相应工作模式，当外接测试设备测试完成相应目标测试项后，从所述外接测试设备中读取测试数据；
[0020]若当前测试数据不满足预设标准，则确定所述dTOF芯片为不合格芯片；不再执行后续测试；
[0021]若当前测试数据满足预设标准，则继续执行后续测试；
[0022]当测试项全部测试完成或中断执行，根据测试数据生成测试报告。
[0023]可选地，所述当外接测试设备测试完成相应目标测试项后，从所述外接测试设备中读取测试数据，之后还包括：
[0024]当所述目标测试项不需要外接测试设备进行测试时，则控制dTOF芯片进入相应工作模式；
[0025]当dTOF芯片测试完成相应目标测试项后，从dTOF芯片读取测试数据。
[0026]可选地，所述目标测试项不需要外接测试设备进行测试，具体包括：
[0027]当所述目标测试项不需要外接测试设备进行测试，但需要控制外部光源开启时，控制dTOF芯片进入相应工作模式；
[0028]当dTOF芯片测试完成相应目标测试项后，从dTOF芯片读取测试数据。
[0029]可选地，
[0030]所述需要外接设备的目标测试项属于第二组目标测试项；
[0031]所述不需要外接测试设备的目标测试项属于第一组目标测试项；
[0032]所述不需要外接测试设备的目标测试项、但需要光源的，属于第三组目标测试项；
[0033]所述第二组目标测试项的所有第二测试数据保存在所述外接测试设备中；
[0034]所述第一组、第三组目标测试项的所有第一、第三测试数据保存在所述dTOF芯片中。
[0035]可选地，
[0036]第二组目标测试项包括：开短路测试、电压泄露测试、静态电流测试；
[0037]第一组目标测试项包括：激光发射时钟测试、击穿电压一致性测试、带隙基准电压测试；
[0038]第三组目标测试项包括：灰度图模式测试、深度图模式测试。
[0039]本申请实施例第二方面提供的用于执行第一方面所述的dTOF芯片测试系统。
[0040]本申请实施例第三方面提供了一种dTOF芯片测试装置，包括：
[0041]中央处理器，存储器，输入输出接口，有线或无线网络接口以及电源；
[0042]所述存储器为短暂存储存储器或持久存储存储器；
[0043]所述中央处理器配置为与所述存储器通信，并执行所述存储器中的指令操作以执行第二方面所述的dTOF芯片测试方法。
[0044]本申请实施例第四方面提供了一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质包括指令，当所述指令在计算机上运行时，使得计算机执行第二方面所述的dTOF芯片测试方法。
[0045]从以上技术方案可以看出，本申请实施例具有以下优点：本申请实施例公开了一种dTOF芯片测试方法，先预先设置目标测试项及测试顺序；然后，按照测试顺序，对目标测试项逐一进行测试；再当目标测试项需要外接测试设备进行测试时，则控制外接测试设备开启，控制dTOF芯片进入相应工作模式，当外接测试设备测试完成相应目标测试项后，从外接测试设备中读取测试数据；若当前测试数据不满足预设标准，则确定dTOF芯片为不合格芯片；不再执行后续测试；若当前测试数据满足预设标准，则继续执行后续测试；最后，当测试项全部测试完成或中断执行，根据测试数据生成测试报告。从而，测试电路板可基于每个测试项的排列顺序依次进行测试，而且，每个测试项所需用到的外接测试设备，可以通过对应的测试信号进行控制，从而减少不必要的耗时和耗能，以尽可能地提高测试效率。
附图说明
[0046]为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请中记载的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0047]图1为本申请实施例公开的一种dTOF芯片测本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种dTOF芯片测试系统，其特征在于，所述dTOF芯片测试系统包括：控制端、FGPA主板、dTOF芯片、测试电路板及外接测试设备；所述控制端，通过FPGA主板与所述测试电路板连接，用于生成测试信号；所述测试电路板上设置有所述dTOF芯片；所述测试电路板，用于将所述测试信号发送给所述dTOF芯片，和从所述dTOF芯片获取所述目标测试数据；所述dTOF芯片，用于根据所述测试信号，对第一组目标测试项进行测试，以生成与所述第一组目标测试项对应的第一目标测试数据；根据第二组目标测试项开启相应工作模式；所述外接测试设备，用于测量所述第二组目标测试项对应的第二目标测试数据，并将所述第二目标测试数据发送给所述控制端；所述控制端，用于获取所述第一目标测试数据和第二目标测试数据，并生成测试报告。2.根据权利要求1所述的芯片测试系统，其特征在于，所述外接测试设备分别与所述控制端及所述测试电路板连接；所述外接测试设备，用于接收所述控制端发送的开启信号，并根据所述开启信号对所述测试电路板的所述第二组目标测试项所包含的引脚进行测试，以得到第二目标测试数据。3.根据权利要求2所述的芯片测试系统，其特征在于，所述外接测试设备包括源表和测试盒；其中，所述源表及所述测试盒用于测试所述dTOP芯片相对应引脚的电压、电流。4.根据权利要求1所述的芯片测试系统，其特征在于，所述芯片测试系统还包括光源，所述光源根据所述控制端发送的控制信号，控制其发光的强度和时长。5.一种基于权利要求1至4中任一项所述的dTOF芯片测试系统的dTOF芯片测试方法，其特征在于，所述方法包括：预先设置目标测试项及测试顺序；按照测试顺序，对所述目标测试项逐一进行测试；当所述目标测试项需要外接测试设备进行测试时，则控制外接测试设备开启，控制dTOF芯片进入相应工作模式，当外接测试设备测试完成相应目标测试项后，从所述外接测试设备中读取测试数据；若当前测试数据不满足预设标准，则确定所述dTOF芯片为不合...

【专利技术属性】
技术研发人员：李思伟，赵国君，张超，
申请(专利权)人：深圳市灵明光子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：