芯片动态老炼实验的老炼板和老炼实验方法技术

本发明专利技术提供了一种芯片动态老炼实验老炼板和老炼实验方法，芯片动态老炼实验老炼板，包括输入信号单元、降压限流单元、信号滤波单元以及输出和回检信号单元，输入信号单元接收上位机下发的电源电压信号和老炼向量信号；降压限流单元对接收到的信号的降压限流并加载到待测芯片上以使其在高温环境下进行动态老炼；信号滤波单元与待测芯片连接用于接收待测芯片动态老炼的输出信号并进行滤波；输出和回检信号单元与信号滤波单元连接用于将滤波后的输出信号发送到上位机以直观展示待测芯片的运行状态。从而解决了现有技术中的老炼板没有动态老炼能力或只能进行简单的静态老炼试验，不能最大化地激发电路的潜在缺陷的问题。不能最大化地激发电路的潜在缺陷的问题。不能最大化地激发电路的潜在缺陷的问题。

【技术实现步骤摘要】
芯片动态老炼实验的老炼板和老炼实验方法


[0001]本专利技术涉及芯片动态老炼实验领域，具体而言，涉及一种芯片动态老炼实验老炼板和老炼实验方法。

技术介绍

[0002]军用电子产品和设备的元器件在生产过程中由于制造工艺、流程、材料等原因不可避免的会留下缺陷。工程上主要通过老炼试验剔除早期失效产品，提高系统可靠性。一般情况下的老炼试验系统的没有动态老炼能力或者按照器件详细规范只进行简单的静态老炼试验，信号输入引脚不提供老炼向量，这时内部晶体管基本没有翻转，不能最大化地激发电路的潜在缺陷。

技术实现思路

[0003]本专利技术的主要目的在于提供一种芯片动态老炼实验老炼板和老炼实验方法，以至少解决现有技术中的老炼板没有动态老炼能力或只能进行简单的静态老炼试验，不能最大化地激发电路的潜在缺陷的问题。
[0004]为了实现上述目的，本专利技术提供了一种芯片动态老炼板，包括：输入信号单元、降压限流单元、信号滤波单元以及输出和回检信号单元，输入信号单元与老炼机台上位机连接，输入信号单元用于接收老炼机台上位机下发的电源电压信号和老炼向量信号；降压限流单元与信号输入单元和待测芯片均连接，降压限流单元用于对电源电压信号和老炼向量信号的降压限流并加载到待测芯片上以使待测芯片在高温环境下进行动态老炼实验；信号滤波单元与待测芯片连接，信号滤波单元用于接收待测芯片动态老炼实验的输出信号并进行滤波；输出和回检信号单元与信号滤波单元连接，输出和回检信号单元用于将经过信号滤波单元滤波的输出信号发送到老炼机台上位机以使老炼机台上位机直观展示待测芯片的运行状态。
[0005]进一步地，输入信号单元接收的电源电压信号为两个，降压限流单元包括：限流模块、滤波模块以及稳压芯片模块，限流模块为多个，多个限流模块与输入信号单元和待测芯片均连接，多个限流模块用于对多个动态老炼信号进行限流并加载到待测芯片；滤波模块为多个，多个滤波模块与输入信号单元和待测芯片均连接，多个滤波模块用于对两个电源电压信号进行滤波并加载到待测芯片；稳压芯片模块与输入信号单元与芯片均连接，其中一个电源电压信号通过稳压芯片模块调整变压并加载到待测芯片。
[0006]进一步地，限流模块包括限流电阻，限流电阻为多个，多个限流电阻与输入信号单元和待测芯片均连接，多个限流电阻用于对多个动态老炼信号进行限流。
[0007]进一步地，滤波模块包括滤波电容，滤波电容为多个，多个滤波电容与输入信号单元和待测芯片均连接，多个滤波电容用于对两个电源电压信号进行滤波。
[0008]具体实施时，信号滤波单元还包括负载电阻，负载电阻为多个，多个负载电阻与待测芯片均连接，多个负载电阻用于接收待测芯片动态老炼实验的输出信号并进行滤波。
[0009]进一步地，输出和回检信号单元包括发光二极管，发光二极管与负载电阻连接，发光二极管用于接收负载电阻滤波的输出信号并根据输出信号进行发光，以及将输出信号反馈到老炼机台上位机进行回检。
[0010]根据本专利技术的另一方面，提供了芯片动态老炼实验老炼实验方法，首先在老炼机台上位机上输入并设定温度条件、电源电压信号和老炼向量信号，由老炼机台上位机下发电源电压信号和老炼向量至老炼板；老炼板对电源电压信号和老炼向量信号进行降压滤波；待测芯片在设定的温度条件和电源电压信号作用下根据老炼向量信号进行动态老炼实验，并将实验输出回检信号发送至老炼板；老炼板将输出回检信号回传至老炼机台上位机并在老炼机台上位机上进行回检，同时输出回检信号会通过示波器显示动态老炼实验的结果波形。
[0011]进一步地，通过老炼机台上位机上输入并设定温度条件、电源电压信号和老炼向量信号包括老炼机台上位机的试验箱控制系统上设定并监测温度条件，在老炼机台上位机的显示屏上设定电源电压信号和老炼向量信号。
[0012]进一步地，待测芯片在设定的温度条件和电源电压信号作用下根据老炼向量信号进行动态老炼实验并将实验输出信号发送至老炼板包括若待测芯片为合格品则产生输出回检信号，若待测芯片为不合格品则不产生输出回检信号。
[0013]进一步地，老炼板将输出回检信号回传至老炼机台上位机包括通过设置在老炼板上的发光二极管根据所述输出回检信号进行发亮。
[0014]应用本专利技术技术方案的芯片动态老炼实验老炼板，包括：输入信号单元、降压限流单元、信号滤波单元以及输出和回检信号单元，输入信号单元与老炼机台上位机连接，输入信号单元用于接收老炼机台上位机下发的电源电压信号和老炼向量信号；降压限流单元与信号输入单元和待测芯片均连接，降压限流单元用于对电源电压信号和老炼向量信号的降压限流并加载到待测芯片上以使待测芯片在高温环境下进行动态老炼实验；信号滤波单元与待测芯片连接，信号滤波单元用于接收待测芯片动态老炼实验的输出信号并进行滤波；输出和回检信号单元与信号滤波单元连接，输出和回检信号单元用于将经过信号滤波单元滤波的输出信号发送到老炼机台上位机以使老炼机台上位机直观展示待测芯片的运行状态。通过在老炼机台上位机上输入并设定温度条件、电源电压信号和老炼向量信号，由老炼机台上位机下发电源电压信号和老炼向量至老炼板；老炼板对电源电压信号和老炼向量信号进行降压滤波；待测芯片在设定的温度条件和电源电压信号作用下根据老炼向量信号进行动态老炼实验，并将实验输出回检信号发送至老炼板；老炼板将输出回检信号回传至老炼机台上位机并在老炼机台上位机上进行回检，同时输出回检信号会通过示波器显示动态老炼实验的结果波形。从而解决了现有技术中的老炼板没有动态老炼能力或只能进行简单的静态老炼试验，不能最大化地激发电路的潜在缺陷的问题。
附图说明
[0015]构成本申请的一部分的说明书附图用来提供对本专利技术的进一步理解，本专利技术的示意性实施例及其说明用于解释本专利技术，并不构成对本专利技术的不当限定。在附图中：
[0016]图1是根据本专利技术实施例可选的一种芯片动态老炼实验老炼板的结构示意图；
[0017]图2是根据本专利技术实施例可选的一种芯片动态老炼实验老炼板的待测芯片引脚
图；
[0018]图3是根据本专利技术实施例可选的一种芯片动态老炼实验老炼板的老炼原理图；
[0019]图4是根据本专利技术实施例可选的一种芯片动态老炼实验老炼板的另一张老炼原理图；
[0020]图5是根据本专利技术实施例可选的输入信号单元的结构示意图；
[0021]图6是根据本专利技术实施例可选的限流模块的结构示意图；
[0022]图7是根据本专利技术实施例可选的滤波模块的结构示意图；
[0023]图8是根据本专利技术实施例可选的信号滤波单元的结构示意图；
[0024]图9是根据本专利技术实施例可选的输入和回检信号单元的结构示意图；
[0025]图10是根据本专利技术实施例可选的一种芯片动态老炼实验老炼实验方法的流程图；
[0026]其中，上述附图包括以下附图标记：
[0027]10、输入信号单元；20、降压限流单元；21、限流模块；211、限流电阻；22、滤波模块；221、滤波电容；23、稳压芯本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片动态老炼实验老炼板，其特征在于，包括：输入信号单元(10)，所述输入信号单元(10)与老炼机台上位机连接，所述输入信号单元(10)用于接收所述老炼机台上位机下发的电源电压信号和老炼向量信号；降压限流单元(20)，所述降压限流单元(20)与所述输入信号单元(10)和待测芯片均连接，所述降压限流单元(20)用于对所述电源电压信号和所述老炼向量信号的降压限流并加载到所述待测芯片上以使所述待测芯片在高温环境下进行动态老炼实验；信号滤波单元(30)，所述信号滤波单元(30)与所述待测芯片连接，所述信号滤波单元(30)用于接收所述待测芯片动态老炼实验的输出信号并进行滤波；输出和回检信号单元(40)，所述输出和回检信号单元(40)与所述信号滤波单元(30)连接，所述输出和回检信号单元(40)用于将经过所述信号滤波单元(30)滤波的所述输出信号发送到所述老炼机台上位机以使所述老炼机台上位机直观展示所述待测芯片的运行状态。2.根据权利要求1所述的芯片动态老炼实验老炼板，其特征在于，所述输入信号单元(10)接收的所述电源电压信号为两个，所述降压限流单元(20)包括：限流模块(21)，所述限流模块(21)为多个，多个所述限流模块(21)与所述输入信号单元(10)和所述待测芯片均连接，多个所述限流模块(21)用于对多个所述动态老炼信号进行限流并加载到所述待测芯片；滤波模块(22)，所述滤波模块(22)为多个，多个所述滤波模块(22)与所述输入信号单元(10)和所述待测芯片均连接，多个所述滤波模块(22)用于对两个所述电源电压信号进行滤波并加载到所述待测芯片；稳压芯片模块(23)，所述稳压芯片模块(23)与所述输入信号单元(10)与所述待测芯片均连接，其中一个所述电源电压信号通过所述稳压芯片模块(23)调整变压并加载到所述待测芯片。3.根据权利要求2所述的芯片动态老炼实验老炼板，其特征在于，所述限流模块(21)包括：限流电阻(211)，所述限流电阻(211)为多个，多个所述限流电阻(211)与所述输入信号单元(10)和所述待测芯片均连接，多个所述限流电阻(211)用于对多个所述动态老炼信号进行限流。4.根据权利要求2所述的芯片动态老炼实验老炼板，其特征在于，所述滤波模块(22)包括：滤波电容(221)，所述滤波电容(221)为多个，多个所述滤波电容(...

【专利技术属性】
技术研发人员：张金伟，康海斌，夏国英，张俊，
申请(专利权)人：西安京瀚禹电子工程技术有限公司，
类型：发明
国别省市：