【技术实现步骤摘要】
电源模块老化试验方法及试验系统
[0001]本专利技术涉及电源模块老化试验领域,具体而言,涉及一种电源模块老化试验方法及试验系统。
技术介绍
[0002]电源模块作为各种电子产品的必备零部件,在整机中所起的作用至关重要。好的模块可以让整机安全、稳定和长时间的工作,而坏的模块却会使整机瘫痪、不能工作。老化测试是电源模块产品出厂前期筛选品质验证可靠性的一种手段,能有效的提高良品率、发现产品存在的潜在问题。随着工业化的集成,电源老化测试数据成了电源厂家必备的参数。
[0003]电源模块测试是一个耗电的过程,如何提高效率、降低能耗是一个必须考虑的问题。环境的改变往往也会造成测试结果的变化,记录环境与电源特性之间的关系能更好的提高测试质量。有的厂家对某个型号的电源模块定制测试架,测试架受限于输入、输出、负载电阻的定值,无法根据设计参数进行更改。单个测试架测一个模块占用空间较大,需要一个较大的老化车间,增加了投入成本;有的电源模块测试厂家不关注环境监测,当出现问题时,无法还原环境参数,不具备不同环境下的电源模块老化测试;有的模块在测试过程中出现异常,会损坏测试仪器,需要加上必要的保护措施。
[0004]电源老化测试要求在老化的过程中,监测并记录电源模块输出特性,设置通过/失效判定条件,筛选出不合格的产品。目前,大多厂家采用人工测试,通过表头式电压表、电流表等测试电源状态,无法做到实时记录电源模块输出特性,无法持续分析电源模块运行状态。常见的电源老化测试多注重测试,未将测试数据、过程进行记录,为后期寻找问题留下隐患 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种电源模块老化试验方法,其特征在于,包括:设定输入电压并发送至待测电源模块;向所述待测电源模块发送使能信号;监测所述待测电源模块工作时的输出电压、输出电流和自体温度值;在所述输出电压大于预设电压值和/或所述输出电流大于预设电流值和/或所述自体温度值大于预设值时关闭所述使能信号并进行报警,同时将所述输出电压、所述输出电流和所述温度值进行分析、记录和存储。2.根据权利要求1所述的电源模块老化试验方法,其特征在于,所述设定输入电压并发送至待测电源模块包括:根据所述输入电压产生输入电压向量;将所述输入电压向量发送至所述待测电源模块。3.根据权利要求1所述的电源模块老化试验方法,其特征在于,所述待测电源模块设置在老化测试板上,所述监测所述待测电源模块工作时的输出电压、输出电流和自体温度值包括:通过电压监测电路监测所述待测电源模块的所述输出电压,通过电流采集电路监测待测电源模块的所述输出电流,通过MEMS非接触温度传感器监测设置在所述老化测试板上的所有所述待测电源模块的模块温度值。4.根据权利要求3所述的电源模块老化试验方法,其特征在于,所述通过电压监测电路监测所述输出电压包括将所述电压监测电路与所述待测电源模块的VOUT引脚和GND引脚并联以监测所述待测电源模块的所述输出电压;所述通过电流采集电路监测待测电源模块的所述输出电流包括在所述待测电源模块的VOUT引脚和GND引脚之间串联采样电阻和负载电阻,并在将所述电流采集电路与所述采样电阻并联以监测待测电源模块的所述输出电流。5.根据权利要求4所述的电源模块老化试验方法,其特征在于,所述负载电阻采用电阻负载、电子负载、节能负载其中之一。6.根据权利要求3所述的电源模块老化试验方法,其特征在于,所述待测电源模块为多个,所述MEMS非接触温度传感器具有呈矩阵式布置的测温像素点,所述通过MEMS非接触温度传感器监测设置在所述老化测试板上的所有所述待测电源模块的模块温度值包括:将多个所述待测电源模块按照矩阵式布置在所述老化测试板上;将所述MEMS非接触温度传感器呈矩阵式布置的多个测温像素点分为多组并使多组所述测温像素点与多个所述待测电源模块一一对应以监测多个所述待测电源模块的自体温度值。7.根据权利要求1所述的电源模块老化试验方法,其特征在于,所述监测所述待测电源模块工作时的输出电压、输出电流和自体温度值之后,所述老化试验方法还包括:采集所述待测电源模块工作时的环境温度值、环境湿度值和环境气压值;将所述环境温度值、环境湿度值和环境气压值进行分析、记录和存储。8.一种电源模块老化试验系统,其特征在于,包括:设置单元(10),所述设置单元(10)用于设定输入电压;主控单元(20),所述主控单元(20)与所述设置单元(10)和待测电源模块均连接,所述主控单元(20)用于根...
【专利技术属性】
技术研发人员:张俊,张金伟,刘伟桢,杨兴,韩碧涛,
申请(专利权)人:西安京瀚禹电子工程技术有限公司,
类型:发明
国别省市:
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