TOF芯片的功能验证方法、系统、电子设备及存储介质技术方案

本申请公开了一种TOF芯片的功能验证方法、系统、电子设备及存储介质，所属技术领域为成像测试技术。所述TOF芯片的功能验证方法包括：为原始灰度图中每一像素生成对应的目标数组；根据TOF芯片的扫描方式确定多个扫描探测区域，根据所述扫描探测区域设置所述目标数组中所述像素开关标志的状态；控制所述SPAD触发模型根据所述目标数组生成每一所述扫描探测区域对应的像素触发信号；在所述TOF芯片扫描完毕后，根据所有所述扫描探测区域的深度信息采集结果生成芯片成像图；将所述原始灰度图和所述芯片成像图进行图像比较，得到所述TOF芯片的深度成像功能验证结果。本申请能够提高对TOF芯片深度成像功能的验证精度。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及成像测试，特别涉及一种tof芯片的功能验证方法、系统、电子设备及存储介质。

技术介绍

1、tof芯片(time of flight chip)又称tof传感器芯片，是用于实现飞行时间技术(time of flight technology)的芯片。tof芯片包括光源、接收器、模拟前端电路、数字化电路和处理器等组件，以便利用光在发射端和光被目标物体反射到接收端的飞行时间差来计算目标物体的距离。

2、随着tof芯片的应用范围越来越广，用户对tof芯片的性能以及分辨率和大面阵的要求也越来越高，这就直接导致tof芯片设计越复杂，而且在某些应用场景需要大视场角，设计的面阵也越大。复杂的tof芯片设计对整个芯片的系统验证就提出了更高挑战，尤其是面阵很大时，很难验证每个像素之间是否存在相互影响的情况。

3、因此，如何提高对tof芯片深度成像功能的验证精度是本领域技术人员目前需要解决的技术问题。

技术实现思路

1、本申请的目的是提供一种tof芯片的功能验证方法、系统、电子设备及存储介质，能够本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种TOF芯片的功能验证方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述TOF芯片的功能验证方法，其特征在于，在为原始灰度图中每一像素生成对应的目标数组之前，还包括：

3.根据权利要求2所述TOF芯片的功能验证方法，其特征在于，将每一所述像素的所述实际灰度值转换为信号时间箱，包括：

4.根据权利要求1所述TOF芯片的功能验证方法，其特征在于，根据TOF芯片的扫描方式确定多个扫描探测区域，根据所述扫描探测区域设置所述目标数组中所述像素开关标志的状态，控制所述SPAD触发模型根据所述目标数组生成每一所述扫描探测区域对应的像素触发信号，以使所述TOF芯片...

【技术特征摘要】

1.一种tof芯片的功能验证方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述tof芯片的功能验证方法，其特征在于，在为原始灰度图中每一像素生成对应的目标数组之前，还包括：

3.根据权利要求2所述tof芯片的功能验证方法，其特征在于，将每一所述像素的所述实际灰度值转换为信号时间箱，包括：

4.根据权利要求1所述tof芯片的功能验证方法，其特征在于，根据tof芯片的扫描方式确定多个扫描探测区域，根据所述扫描探测区域设置所述目标数组中所述像素开关标志的状态，控制所述spad触发模型根据所述目标数组生成每一所述扫描探测区域对应的像素触发信号，以使所述tof芯片根据所述像素触发信号生成每一所述扫描探测区域的深度信息采集结果，包括：

5.根据权利要求1所述tof芯片的功能验证方法，其特征在于，所述深度信息采集结果包括每一像素的触发次数、时间箱...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨东，张超，
申请(专利权)人：深圳市灵明光子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：