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本申请公开了一种TOF芯片的功能验证方法、系统、电子设备及存储介质,所属技术领域为成像测试技术。所述TOF芯片的功能验证方法包括:为原始灰度图中每一像素生成对应的目标数组;根据TOF芯片的扫描方式确定多个扫描探测区域,根据所述扫描探测区域设...该专利属于深圳市灵明光子科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过深圳市灵明光子科技有限公司授权不得商用。
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本申请公开了一种TOF芯片的功能验证方法、系统、电子设备及存储介质,所属技术领域为成像测试技术。所述TOF芯片的功能验证方法包括:为原始灰度图中每一像素生成对应的目标数组;根据TOF芯片的扫描方式确定多个扫描探测区域,根据所述扫描探测区域设...