一种对磁共振成像RF线圈进行性能分析的方法技术

一种对磁共振成像ＲＦ线圈进行性能分析用的仿真方法，属于磁共振成像技术领域，其特征在于，先建立ＲＦ线圈空间仿真模型，并计算导体的趋肤深度，据此对仿真模型进行网格剖分，设置仿真边界条件，再用电磁场有限元数值计算软件算出各项电磁参数，由此计算出ＲＦ线圈的电感、线圈自身电阻、负载涡流损耗等效电阻、磁场的均匀度和信噪比。最后，根据计算结果，选择合适的导体横截面尺寸和线圈尺寸。本发明专利技术提高了导体自身电阻、负载涡流损耗以及空间电磁场分布的计算准确性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于电磁场有限元分析领域，尤其涉及磁共振成像(MRI)射频接收线 圈的设计。
技术介绍
磁共振成像(MRI)是一种利用核磁共振现象进行成像的技术。作为共振信号 的接收天线，射频接收线圈的性能对MRI系统成像的质量有着直接的影响。 MRI图像的信噪比(SNR， Signal to Noise Ratio)、分辨率和成像速度在很大程 度上取决于射频接收线圈的SNR;而图像的均匀性则依赖于射频接收线圈和发 射线圈的均匀性。其电磁设计指标有(1)射频线圈通入单位有效值射频电流时产生的磁场的均匀度HD， Homogeneous Degree:HD = 2x max — min xl00% 5+5 ."max "mm其中Bmax、 Bmin分别是通入单位有效值射频电流时，线圈在所关心区域内产 生的磁感应强度的最大值和最小值。(2)线圈的信噪比其中，^是射频线圈通入单位有效值射频电流时在该点产生的磁感应强度的有效值；i ^是线圈的噪声电阻。噪声电阻包括线圈自身电阻以及负载中涡流损耗折合到线圈上的等效电 阻。计算线圈自身的高频电阻时，常用的方法是近似认为电流集中在趋肤深度 内，且电流密度本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种对磁共振成像ＲＦ线圈进行性能分析的方法，其特征在于所述方法是在计算机中使用电磁场有限元数值计算软件，依次按以下步骤实现的：　步骤（１），把如下设定参数输入计算机：　ＲＦ线圈的几何尺寸，线圈导体的横截面的几何尺寸，导体材料的电 导率、磁导率，通入线圈中的射频电流的幅值和频率，对于有负载的情况，还需要输入负载的空间尺寸；　步骤（２），根据实际ＲＦ线圈和负载，建立空间仿真模型：　按照步骤（１）所述线圈的空间尺寸，线圈导体的横截面的几何尺寸，负载的空间尺寸， 建立空间仿真模型，其中：空气域半径为导体和负载所在区域半径的３至５倍，从而得到一个所述的球形或圆...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：李烨，郭彦，蒋晓华，
申请(专利权)人：清华大学，
类型：发明
国别省市：11[中国|北京]