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一种对磁共振成像ＲＦ线圈进行性能分析用的仿真方法，属于磁共振成像技术领域，其特征在于，先建立ＲＦ线圈空间仿真模型，并计算导体的趋肤深度，据此对仿真模型进行网格剖分，设置仿真边界条件，再用电磁场有限元数值计算软件算出各项电磁参数，由此计算出Ｒ...
该专利属于清华大学所有，仅供学习研究参考，未经过清华大学授权不得商用。

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