基于光度立体视觉的缺陷检测方法、系统、装置及介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开了基于光度立体视觉的缺陷检测方法、系统、装置及介质，包括：获取待测物体表面在光源不同相位下的M张目标图像；根据所述目标图像，基于光度立体算法确定所述待测物体表面的法向量和反射系数，根据所述法向量确定目标曲率图，根据所述反射系数确定目标反射率图；根据所述法向量，基于条件随机场算法确定所述待测物体表面的目标视差值，根据所述目标视差值确定目标深度图；根据所述目标曲率图、所述目标反射率图和所述目标深度图进行缺陷检测，得到所述待测物体表面的检测结果。本发明专利技术降低了对待测物体材质的要求，拓展了光度立体视觉法的应用范围，提高物体表面缺陷检测的准确性和可靠性。的准确性和可靠性。的准确性和可靠性。

【技术实现步骤摘要】
基于光度立体视觉的缺陷检测方法、系统、装置及介质


[0001]本专利技术涉及一种计算机视觉
，尤其涉及一种基于光度立体视觉的缺陷检测方法、系统、装置及介质。

技术介绍

[0002]在传统缺陷检测领域，由于被测物体的材质原因，传统的机器视觉系统或简单二维图像层面的缺陷检测无法满足对缺陷有效、准确的成像要求。
[0003]目前光度立体技术已经广泛应用于物体表面的缺陷检测，能够高效率且高准确率地检测出表面三维缺陷，但是传统的光度立体技术是假设物体为漫反射材质的基础上进行缺陷检测，即必须以漫反射的方式反射入射光，对于有镜面反射的物体使用上述方法进行表面检测会导致得到错误的检测结果。
[0004]因此，传统的光度立体技术存在待检测物体表面会有反射入射光干扰，从而导致应用范围存在局限性，降低待测物体的适用性问题。

技术实现思路

[0005]本专利技术的目的在于提供一种基于光度立体视觉的缺陷检测方法、系统、装置及介质，解决了现有技术中传统的光度立体技术存在待检测物体表面会有反射入射光干扰，从而导致应用范围存在局限性，降低本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于光度立体视觉的缺陷检测方法，其特征在于，包括：获取待测物体表面在光源不同相位下的M张目标图像，其中，M为大于等于3的正整数；根据所述目标图像，基于光度立体算法确定所述待测物体表面的法向量和反射系数，根据所述法向量确定所述待测物体表面的目标曲率图，根据所述反射系数确定所述待测物体表面的目标反射率图；根据所述法向量，基于条件随机场算法确定所述待测物体表面的目标视差值，根据所述目标视差值确定所述待测物体表面的目标深度图；根据所述目标曲率图、所述目标反射率图和所述目标深度图进行缺陷检测，得到所述待测物体表面的检测结果。2.根据权利要求1所述的基于光度立体视觉的缺陷检测方法，其特征在于，所述根据所述目标图像，基于光度立体算法确定所述待测物体表面的法向量和反射系数，根据所述法向量确定所述待测物体表面的目标曲率图，根据所述反射系数确定所述待测物体表面的目标反射率图包括：根据所述目标图像，获取所述目标图像中每个像素点的亮度和光源向量；根据每个所述像素点的亮度和所述光源向量，基于光度立体算法确定所述待测物体表面的法向量和反射系数；根据所述法向量确定所述待测物体表面的目标曲率图；根据所述反射系数确定所述待测物体表面的目标反射率图。3.根据权利要求2所述的基于光度立体视觉的缺陷检测方法，其特征在于，所述根据所述法向量确定所述待测物体表面的目标曲率图包括：根据所述法向量，利用预先设定的曲率转换模型确定所述待测物体表面的曲率值；根据所述曲率值确定所述待测物体表面的目标曲率图。4.根据权利要求1所述的基于光度立体视觉的缺陷检测方法，其特征在于，所述根据所述法向量，基于条件随机场算法确定所述待测物体表面的目标视差值，根据所述目标视差值确定所述待测物体表面的目标深度图包括：根据所述法向量，基于条件随机场的离散连续优化算法确定每个像素点的目标视差标签；根据所述每个像素点的目标视差标签，通过预先确定的视差标签和视差值对应关系确定所述待测物体表面每个像素点的目标视差值；根据所述目标视差值确定所述待测物体表面的目标深度图。5.根据权利要求4所述的基于光度立体视觉的缺陷检测方法，其特征在于，所述根据所述法向量，基于条件随机场的离散连续优化算...

【专利技术属性】
技术研发人员：丁丁，韩昭嵘，王灿，高润泽，
申请(专利权)人：杭州灵西机器人智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：