集成电路测试装置制造方法及图纸

一种集成电路测试装置。所述集成电路测试装置包括：若干产品插座、连接座以及电路板。所述产品插座包括多个引脚位。所述连接座包括多个引脚接点。所述产品插座以及所述连接座设置在所述电路板上。所述电路板包括图案化导电层。所述图案化导电层经配置以将所述多个引脚接点的每一者与对应的所述引脚位电性连接。接点的每一者与对应的所述引脚位电性连接。接点的每一者与对应的所述引脚位电性连接。

【技术实现步骤摘要】
集成电路测试装置


[0001]本申请是有关于半导体领域，详细来说，是有关于一种集成电路测试装置。

技术介绍

[0002]在现有技术中，每种集成电路产品的引脚数或引脚所需接收的信号不同。因此，当需要进行可靠性偏压试验时，需要对每一种集成电路产品设计测试电路板，以进行电压测试。如此一来将大幅提高作业成本。

技术实现思路

[0003]有鉴于此，本申请提出一种集成电路测试装置来解决上述问题。
[0004]依据本申请的一实施例，提出一种集成电路测试装置。所述集成电路测试装置包括：若干产品插座、连接座以及电路板。所述产品插座包括多个引脚位。所述连接座包括多个引脚接点。所述产品插座以及所述连接座设置在所述电路板上。所述电路板包括图案化导电层。所述图案化导电层经配置以将所述多个引脚接点的每一者与对应的所述引脚位电性连接。
[0005]依据本申请的一实施例，所述多个引脚接点在所述电路板上呈现直线排列并且彼此电性绝缘。
[0006]依据本申请的一实施例，所述连接座还包括电位引脚接点，所述电位引脚接点电性连接至所述电路板的电位接收端。
[0007]依据本申请的一实施例，多个所述电位引脚接点在所述电路板上呈现直线排列并且彼此电性连接。
[0008]依据本申请的一实施例，所述连接座还包括接地引脚接点，所述接地引脚接点电性连接至所述电路板的接地端。
[0009]依据本申请的一实施例，多个所述接地引脚接点在所述电路板上呈现直线排列并且彼此电性连接。
[0010]依据本申请的一实施例，集成电路测试装置还包括连接器。所述连接器根据所述多个引脚位选择性地将所述多个引脚接点的其中之一连接至所述电位引脚接点或所述接地引脚接点。
[0011]依据本申请的一实施例，所述图案化导电层另经配置以将所述电位引脚接点电性连接至所述电位接收端。
[0012]依据本申请的一实施例，所述图案化导电层另经配置以将所述接地引脚接点电性连接至所述接地端。
[0013]在本申请提出的集成电路测试装置中，当集成电路产品放置于产品插座上后，根据每个引脚位需要接收的信号，在连接座上设置连接器或者直接提供信号至引脚接点。如此一来，不需针对每一种集成电路产品设计一种测试电路板，可大幅减少成本，提高产品适用性以及作业效率。
附图说明
[0014]附图是用来提供对本申请的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与下面的具体实施方式一起用于解释本申请，但并不构成对本申请的限制。在附图中：
[0015]图1演示依据本申请一实施例的集成电路测试装置的示意图。
[0016]图2演示依据本申请一实施例的连接座的示意图。
[0017]图3演示依据本申请一实施例的产品插座和连接座的连接示意图。
[0018]图4演示依据本申请一实施例的电位引脚接点与电位接收端的连接示意图。
[0019]图5演示依据本申请一实施例的接地引脚接点与接地端的连接示意图。
[0020]图6演示依据本申请另一实施例的连接座的示意图。
具体实施方式
[0021]以下揭示内容提供了多种实施方式或例示，其能用以实现本揭示内容的不同特征。下文所述之组件与配置的具体例子系用以简化本揭示内容。当可想见，这些叙述仅为例示，其本意并非用于限制本揭示内容。举例来说，在下文的描述中，将一第一特征形成于一第二特征上或之上，可能包括某些实施例其中所述的第一与第二特征彼此直接接触；且也可能包括某些实施例其中还有额外的组件形成于上述第一与第二特征之间，而使得第一与第二特征可能没有直接接触。此外，本揭示内容可能会在多个实施例中重复使用组件符号和/或标号。此种重复使用乃是基于简洁与清楚的目的，且其本身不代表所讨论的不同实施例和/或组态之间的关系。
[0022]再者，在此处使用空间上相对的词汇，譬如「之下」、「下方」、「低于」、「之上」、「上方」及与其相似者，可能是为了方便说明图中所绘示的一组件或特征相对于另一或多个组件或特征之间的关系。这些空间上相对的词汇其本意除了图中所绘示的方位之外，还涵盖了装置在使用或操作中所处的多种不同方位。可能将所述设备放置于其他方位(如，旋转90度或处于其他方位)，而这些空间上相对的描述词汇就应该做相应的解释。
[0023]虽然用以界定本申请较广范围的数值范围与参数皆是约略的数值，此处已尽可能精确地呈现具体实施例中的相关数值。然而，任何数值本质上不可避免地含有因个别测试方法所致的标准偏差。在此处，「约」通常系指实际数值在一特定数值或范围的正负10％、5％、1％或0.5％之内。或者是，「约」一词代表实际数值落在平均值的可接受标准误差之内，视本申请所属
中具有通常知识者的考虑而定。当可理解，除了实施例之外，或除非另有明确的说明，此处所用的所有范围、数量、数值与百分比(例如用以描述材料用量、时间长短、温度、操作条件、数量比例及其他相似者)均经过「约」的修饰。因此，除非另有相反的说明，本说明书与附随权利要求书所揭示的数值参数皆为约略的数值，且可视需求而更动。至少应将这些数值参数理解为所指出的有效位数与套用一般进位法所得到的数值。在此处，将数值范围表示成由一端点至另一端点或介于二端点之间；除非另有说明，此处所述的数值范围皆包括端点。
[0024]图1演示依据本申请一实施例的集成电路测试装置2的示意图。在某些实施例中，集成电路测试装置2经配置以对集成电路产品进行可靠性偏压试验。在某些实施例中，集成电路测试装置2包括电路板20、产品插座21以及连接座22。在某些实施例中，产品插座21以及连接座22设置于电路板20之上。在某些实施例中，电路板20可以是一种PCB板，所述PCB板
上包括用以实现电性连接的图案化导电层。
[0025]在某些实施例中，多个产品插座21矩阵设置在电路板20之上。在某些实施例中，每个产品插座21经配置以接收集成电路产品。需说明的是，图1所示的产品插座21的数量仅为范例说明。在本申请中，产品插座21的数量并非一限制，可以依据需要测试的集成电路产品的数量进行调整。
[0026]在某些实施例中，每个产品插座21包括多个引脚位210。在某些实施例中，每个引脚位210经配置以容纳集成电路产品的引脚。需说明的是，图1所示的引脚位210的数量仅为范例说明，根据不同的集成电路产品，产品插座21可以包括不同数量的引脚位210。
[0027]在某些实施例中，连接座22设置在电路板20的一端。在某些实施例中，连接座22设置于靠近电路板20的凸出端200的一端。在某些实施例中，凸出端200可以是电路板20的金手指，其上设置有多个信号端，例如但不限于，电位接收端201和接地端202。在某些实施例中，电位接收端201经配置以从外部电源(图未示)接收电压信号。在某些实施例中，接地端202经配置以接地。
[0028]参考图2，图2演示依据本申请一实施例的连接座22的示意图。在某些实施例中，连接座22包括多个引脚接点221。在某些实施例中，多个引脚接点22本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种集成电路测试装置，其特征在于，包括：若干产品插座，所述产品插座包括多个引脚位；连接座，包括多个引脚接点；以及电路板，所述产品插座以及所述连接座设置在所述电路板上；所述电路板包括图案化导电层，所述图案化导电层经配置以将所述多个引脚接点的每一者与对应的所述引脚位电性连接。2.根据权利要求1所述的集成电路测试装置，其特征在于，所述多个引脚接点在所述电路板上呈现直线排列并且彼此电性绝缘。3.根据权利要求1所述的集成电路测试装置，其特征在于，所述连接座还包括电位引脚接点，所述电位引脚接点电性连接至所述电路板的电位接收端。4.根据权利要求3所述的集成电路测试装置，其特征在于，多个所述电位引脚接点在所述电路板上呈现直线排列并且彼此电性连接。5.根据权利要...

【专利技术属性】
技术研发人员：顾文斌，
申请(专利权)人：日月新检测科技苏州有限公司，
类型：新型
国别省市：