【技术实现步骤摘要】
本申请是有关于半导体领域,详细来说,是有关于一种集成电路产品试验装置以及集成电路产品测试部件。
技术介绍
1、在现有技术中,当要对集成电路产品的引脚进行疲劳试验时,需要在集成电路产品的引脚上增加配重物(例如砝码)来进行弯折动作以得到引脚大于疲劳应力的承受能力。然而,在集成电路产品的引脚悬挂配重物(例如砝码)进行弯折动作时,配重物的摇晃会造成试验结果不准确。
技术实现思路
1、有鉴于此,本申请提出一种集成电路产品试验装置以及集成电路产品测试部件来解决上述问题。
2、依据本申请的一实施例,提出一种集成电路产品试验装置。所述集成电路产品试验装置包括夹持部件以及测试部件。所述夹持部件包括固定集成电路产品的固定单元。所述测试部件包括夹持单元、测试件固定单元以及连接件。所述夹持单元包括夹持所述集成电路产品引脚的夹头。所述测试件固定单元从所述夹持单元延伸。所述连接件连接所述测试件固定单元以及测试件。
3、依据本申请的一实施例,所述测试件固定单元包括固定测试件的连接孔。
4、依据本申请的一实施例,所述连接孔设置在所述测试件固定单元底面。
5、依据本申请的一实施例,所述连接孔包括螺纹结构。
6、依据本申请的一实施例,所述连接件包括螺栓,所述连接件嵌入所述测试件并延伸至所述连接孔中并与所述连接孔螺纹连接。
7、依据本申请的一实施例,所述连接件包括磁吸件。所述连接件通过磁力将所述测试件连接至所述测试件固定单元。
8、依据
9、所述夹持单元还包括调节所述夹头的开度的调节单元。
10、依据本申请的一实施例,所述调节单元包括锁紧螺母。
11、依据本申请的一实施例,提出一种集成电路产品测试部件。所述集成电路产品包括:夹持单元、测试件固定单元以及连接件。所述夹持单元包括夹持集成电路产品引脚的夹头。所述测试件固定单元从所述夹持单元延伸。所述连接件连接所述测试件固定单元以及测试件。
12、本申请提出的集成电路产品试验装置通过连接件将测试件与测试件固定单元固定连接,如此一来,在对集成电路产品进行疲劳试验时,可以有效地避免测试件的晃动,造成试验结果不准确。
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1.一种集成电路产品试验装置,其特征在于,包括:
2.根据权利要求1所述的集成电路产品试验装置,其特征在于,所述测试件固定单元包括固定所述测试件的连接孔。
3.根据权利要求2所述的集成电路产品试验装置,其特征在于,所述连接孔设置在所述测试件固定单元底面。
4.根据权利要求3所述的集成电路产品试验装置,其特征在于,所述连接孔包括螺纹结构。
5.根据权利要求4所述的集成电路产品试验装置,其特征在于,所述连接件包括螺栓,所述连接件嵌入所述测试件并延伸至所述连接孔中并与所述连接孔螺纹连接。
6.根据权利要求1所述的集成电路产品试验装置,其特征在于,所述连接件包括磁吸件,所述连接件通过磁力将所述测试件连接至所述测试件固定单元。
7.根据权利要求1所述的集成电路产品试验装置,其特征在于,所述连接件包括卡扣,所述连接件夹持所述测试件与所述测试件固定单元。
8.根据权利要求1所述的集成电路产品试验装置,其特征在于,所述夹持单元还包括调节所述夹头的开度的调节单元。
9.根据权利要求8所述的集成电路产品试
10.一种集成电路产品测试部件,其特征在于,包括:
...【技术特征摘要】
1.一种集成电路产品试验装置,其特征在于,包括:
2.根据权利要求1所述的集成电路产品试验装置,其特征在于,所述测试件固定单元包括固定所述测试件的连接孔。
3.根据权利要求2所述的集成电路产品试验装置,其特征在于,所述连接孔设置在所述测试件固定单元底面。
4.根据权利要求3所述的集成电路产品试验装置,其特征在于,所述连接孔包括螺纹结构。
5.根据权利要求4所述的集成电路产品试验装置,其特征在于,所述连接件包括螺栓,所述连接件嵌入所述测试件并延伸至所述连接孔中并与所述连接孔螺纹连接。
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【专利技术属性】
技术研发人员:艾丽丽,
申请(专利权)人:日月新检测科技苏州有限公司,
类型:新型
国别省市:
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