【技术实现步骤摘要】
本申请是有关于半导体领域，详细来说，是有关于一种集成电路产品检测用开盖装置。
技术介绍
1、现有技术中，若要对集成电路产品(例如但不限于，表面声波滤波器产品)进行机械开盖作业，只能通过人工方式在塑封体和基板之间进行切割，以将塑封体与基板分离，借此进行检测。然而，以人工方式进行切割容易因为切割力度不均导致产品容易损坏。另外，以人工方式进行切割耗费大量作业时间，造成效率低下。
技术实现思路
1、有鉴于此，本申请提出一种集成电路产品检测用开盖装置来解决上述问题。
2、依据本申请的一实施例，提出一种集成电路产品检测用开盖装置。所述集成电路产品检测用开盖装置包括支撑单元以及固定单元。所述支撑单元包括轨道。所述固定单元嵌入所述轨道之中。所述固定单元经配置以固持切割器并沿所述轨道移动。
3、依据本申请的一实施例，所述轨道沿第一方向直线延伸。
4、依据本申请的一实施例，所述集成电路产品检测用开盖装置还包括底座以及夹具单元。所述夹具单元设置于所述底座之上。所述夹具单元经配置以夹持集成电路产品。
5、依据本申请的一实施例，所述集成电路产品检测用开盖装置还包括控制单元。所述控制单元经配置以控制所述固定单元沿第一方向运动。
6、依据本申请的一实施例，所述集成电路产品检测用开盖装置还包括夹具调节单元。所述夹具调节单元经配置以调节所述夹具单元的开度。
7、依据本申请的一实施例，所述底座包括沿第二方向延伸的移动槽。依据本申请的一实施例，所述
8、依据本申请的一实施例，所述支撑单元安装于所述移动槽之中。
9、依据本申请的一实施例，所述控制单元另经配置以调节所述夹具单元和所述支撑单元的相对位置。
10、依据本申请的一实施例，所述固定单元包括切割器架以及切割器更换部，所述切割器架的两端分别嵌入两个所述轨道之中，所述切割器更换部经配置以调节所述切割器架的松紧以夹持和替换所述切割器。
11、通过本申请提出的集成电路产品检测用开盖装置，可以大幅节省开盖作业时间，同时避免人工切割的力度不均造成产品损坏等问题。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种集成电路产品检测用开盖装置，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的集成电路产品检测用开盖装置，其特征在于，所述轨道沿第一方向直线延伸。
3.根据权利要求2所述的集成电路产品检测用开盖装置，其特征在于，还包
4.根据权利要求3所述的集成电路产品检测用开盖装置，其特征在于，还包括：
5.根据权利要求3所述的集成电路产品检测用开盖装置，其特征在于，所述底座包括沿第二方向延伸的移动槽。
6.根据权利要求5所述的集成电路产品检测用开盖装置，其特征在于，所述夹具单元安装于所述移动槽之中。
7.根据权利要求5或6所述的集成电路产品检测用开盖装置，其特征在于，所述支撑单元安装于所述移动槽之中。
8.根据权利要求7所述的集成电路产品检测用开盖装置，其特征在于，所述控制单元另经配置以调节所述夹具单元和所述支撑单元的相对位置。
9.根据权利要求1所述的集成电路产品检测用开盖装置，其特征在于，所述固定单元包括切割器架以及切割器更换部，所述切割器架的两端分别嵌入两个所述轨道之中，所述切割器更换部经
...【技术特征摘要】
1.一种集成电路产品检测用开盖装置，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的集成电路产品检测用开盖装置，其特征在于，所述轨道沿第一方向直线延伸。
3.根据权利要求2所述的集成电路产品检测用开盖装置，其特征在于，还包
4.根据权利要求3所述的集成电路产品检测用开盖装置，其特征在于，还包括：
5.根据权利要求3所述的集成电路产品检测用开盖装置，其特征在于，所述底座包括沿第二方向延伸的移动槽。
6.根据权利要求5所述的集成电路产品检测用开盖装置，其特征在于，所述...
【专利技术属性】
技术研发人员：孟淼飞，潘奎，沈春，黄宇峰，
申请(专利权)人：日月新检测科技苏州有限公司，
类型：新型
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。