扫描测试装置及其操作方法、电子装置制造方法及图纸

一种扫描测试装置及其操作方法、电子装置。该扫描测试装置包括：多个测试接口、选通模块、时钟偏移模块。选通模块包括与多个测试接口一一对应连接的多个选通单元，且配置为根据使能控制信号将用于扫描测试的多个时钟信号分别提供给多个测试接口，时钟偏移模块与选通模块中的至少一个选通单元连接，且配置为对提供给至少一个选通单元的初始时钟信号进行时钟偏移处理并将处理后的时钟信号提供给至少一个选通单元。该扫描测试装置可以实现错峰扫描移位，能够有效降低扫描移位时的电压降，提高扫描测试的准确度，并且可以提升扫描移位的频率，减少扫描测试的测试时间，节约测试成本。节约测试成本。节约测试成本。

【技术实现步骤摘要】
扫描测试装置及其操作方法、电子装置


[0001]本公开的实施例涉及一种扫描测试装置及其操作方法、电子装置。

技术介绍

[0002]随着集成电路制造工艺的发展，集成在芯片上的电子元件的尺寸越来越小，数量越来越多，芯片上的任何缺陷都可能会导致电路发生故障。因此，在芯片出厂前需要在测试机台上做扫描测试(scan test)来检测确保芯片没有制造上的缺陷。
[0003]由于芯片可以被看作是大量寄存器和寄存器之间的组合逻辑的集合，因此，在对芯片进行扫描测试时，需要先将这些寄存器转化为可以控制和观测的扫描寄存器，也即在普通的寄存器前加入选通器以形成扫描寄存器，然后将这些扫描寄存器首尾连接在一起，形成一个或多个扫描链。基于扫描链可以对芯片进行扫描测试。

技术实现思路

[0004]本公开至少一实施例提供一种扫描测试装置，该扫描测试装置包括：多个测试接口、选通模块、时钟偏移模块，其中，所述选通模块包括与所述多个测试接口一一对应连接的多个选通单元，且配置为根据使能控制信号将用于扫描测试的多个时钟信号分别提供给所述多个测试接口，所述时钟偏移模本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种扫描测试装置，包括：多个测试接口、选通模块、时钟偏移模块，其中，所述选通模块包括与所述多个测试接口一一对应连接的多个选通单元，且配置为根据使能控制信号将用于扫描测试的多个时钟信号分别提供给所述多个测试接口，所述时钟偏移模块与所述选通模块中的至少一个选通单元连接，且配置为对提供给所述至少一个选通单元的初始时钟信号进行时钟偏移处理并将处理后的时钟信号提供给所述至少一个选通单元。2.根据权利要求1所述的扫描测试装置，其中，提供给所述多个测试接口的用于所述扫描测试的所述多个时钟信号彼此之间存在延迟。3.根据权利要求2所述的扫描测试装置，其中，所述多个时钟信号中任意两个时钟信号之间的所述延迟大于功能时钟的周期。4.根据权利要求1所述的扫描测试装置，其中，所述多个选通单元还配置为与功能时钟信号端直接连接，且根据所述使能控制信号将多个功能时钟信号分别提供给所述多个测试接口。5.根据权利要求2所述的扫描测试装置，其中，所述多个测试接口包括第一测试接口和第二测试接口，所述选通模块包括分别与所述第一测试接口和所述第二测试接口一一对应连接的第一选通单元和第二选通单元，所述时钟偏移模块与所述第一选通单元或所述第二选通单元连接，以使得提供给所述第一测试接口的时钟信号和提供给所述第二测试接口的时钟信号之间存在所述延迟。6.根据权利要求2所述的扫描测试装置，其中，所述多个测试接口包括第一测试接口和第二测试接口，所述选通模块包括分别与所述第一测试接口和所述第二测试接口一一对应连接的第一选通单元和第二选通单元，所述时钟偏移模块与所述第一选通单元和所述第二选通单元连接，并对提供给所述第一选通单元和所述第二选通单元的初始时钟信号进行不同的时钟偏移处理，以使得提供给所述第一测试接口的时钟信号和提供给所述第二测试接口的时钟信号之间存在所述延迟。7.根据权利要求1
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6任一所述的扫描测试装置，其中，所述时钟偏移模块还配置为允许根据时钟偏移控制信号对所述时钟偏移处理进行编程设置，以改变时钟偏移的大小。8.根据权利要求6所述的扫描测试装置，其中，所述时钟偏移模块包括第一时钟偏移单元和第二时钟偏移单元，所述第一时钟偏移单元和所述第二时钟偏移单元的输入端配置为与扫描时钟端连接以接收所述初始时钟信号，所述第一时钟偏移单元和所述第二时钟偏移单元的控制端配置为分别与第一时钟偏移控制端和第二时钟偏移控制端连接，以分别接收第一时钟偏移控制信号和第二时钟偏移控制信号。9.根据权利要求8所述的扫描测试装置，其中...

【专利技术属性】
技术研发人员：王继东，
申请(专利权)人：成都海光集成电路设计有限公司，
类型：发明
国别省市：