可防止瞬断的双头单动半导体测试探针制造技术

本发明专利技术公开了一种可防止瞬断的双头单动半导体测试探针，包括针管，所述针管的一端固定有固定针头，针管的另一端可伸缩地设置有活动针头，针管内设置有弹簧，所述弹簧一端抵触在固定针头尾部，弹簧的另一端始抵触在活动针头的尾部，活动针头的尾部设置有连接部，所述连接部伸入弹簧内并且始终与弹簧接触。该可防止瞬断的双头单动半导体测试探针，解决了现有半导体测试探针使用时，针头与弹簧之间产生的瞬时断开会影响半导体测试探针的测试准确度，造成不能在精密测试环境下使用的问题。造成不能在精密测试环境下使用的问题。造成不能在精密测试环境下使用的问题。

【技术实现步骤摘要】
可防止瞬断的双头单动半导体测试探针


[0001]本专利技术属于半导体测试
，具体涉及一种可防止瞬断的双头单动半导体测试探针。

技术介绍

[0002]半导体测试探针广泛应用于手机、汽车、医疗以及航天航空等
，是一种高端的电子元件。
[0003]半导体测试探针的结构通常是由针头、针管、弹簧三部分组成，针头和弹簧装在针管内部，在针管管口运用压铆缩口方式，使得针头、弹簧保持在针管内部，成为一个整体的结构。使用时，针头受力向针管内压缩弹簧，此时弹簧产生的弹力顶住针头，针头与被测件良好接触，进行测试。
[0004]但是现有半导体测试探针使用时，针头与弹簧之间产生的瞬时断开会影响半导体测试探针的测试准确度，造成不能在精密测试环境下使用的问题。

技术实现思路

[0005]本专利技术的目的是提供一种可防止瞬断的双头单动半导体测试探针，解决现有半导体测试探针使用时，针头与弹簧之间产生的瞬时断开会影响半导体测试探针的测试准确度，造成不能在精密测试环境下使用的问题。
[0006]为了解决上述技术问题，本专利技术公开了本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种可防止瞬断的双头单动半导体测试探针，其特征在于，包括针管(1)，所述针管(1)的一端固定有固定针头(2)，针管(1)的另一端可伸缩地设置有活动针头(6)，针管(1)内设置有弹簧(3)，所述弹簧(3)的一端抵触在固定针头(2)尾部，弹簧(3)的另一端始抵触在活动针头(6)的尾部，活动针头(6)的尾部设置有连接部(4)，所述连接部(4)伸入弹簧(3)内并且始终与弹簧(3)接触。2.根据权利要求1所述的可防止瞬断的双头单动半导体测试探针，其特征在于，所述固定针头(...

【专利技术属性】
技术研发人员：丁崇亮，张飞龙，
申请(专利权)人：渭南木王智能科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：