【技术实现步骤摘要】
本技术属于半导体检测，具体涉及一种可以防止瞬断的双头单动同心双弹簧半导体测试探针。
技术介绍
1、半导体测试探针广泛应用于芯片、手机、电脑、消费类电子等
，是一种对测试要求非常严格的高端电子元件。
2、半导体测试探针的结构通常是由针轴、针管、弹簧三部分组成，针轴和弹簧装在针管内部，在针管管口两端通过压铆缩口方式或使用一端压缩缩口另一端打点方式，使得针轴、弹簧保持在针管内部，成为一个整体的结构。使用时，针轴受力向针管内测试弹簧，此时弹簧产生的弹力顶住针轴，针轴与被测件良好接触，进行测试。
3、但是现有半导体测试探针使用时，测试针头与弹簧之间产生的瞬时断开现象导致测试过程电流、电阻等测试数据不精确进而严重影响半导体测试探针的测试精度以及测试可应用范围，造成不能在精密测试环境使用的问题。
技术实现思路
1、本技术的目的是提供一种可以防止瞬断的双头单动同心双弹簧半导体测试探针，解决现有半导体测试探针使用时，测试针头与弹簧之间产生的瞬时断开现象导致测试过程电流、电阻等测...
【技术保护点】
1.一种可以防止瞬断的双头单动同心双弹簧半导体测试探针，其特征在于，包括针管(1)，所述针管(1)的一端可伸缩地设置有测试针头(5)，另一端设置有固定针头(2)，针管(1)内设置有第一弹簧(4)和第二弹簧(3)，第一弹簧(4)和第二弹簧(3)布置在测试针头(5)和固定针头(2)之间，并且第一弹簧(4)同心布置在第二弹簧(3)的外部。
2.根据权利要求1所述的可以防止瞬断的双头单动同心双弹簧半导体测试探针，其特征在于，所述测试针头(5)和固定针头(2)的尾部均设置有盲孔，所述第二弹簧(3)的两端分别设置在两个盲孔中。
3.根据权利要求2所述的可以...
【技术特征摘要】
1.一种可以防止瞬断的双头单动同心双弹簧半导体测试探针，其特征在于，包括针管(1)，所述针管(1)的一端可伸缩地设置有测试针头(5)，另一端设置有固定针头(2)，针管(1)内设置有第一弹簧(4)和第二弹簧(3)，第一弹簧(4)和第二弹簧(3)布置在测试针头(5)和固定针头(2)之间，并且第一弹簧(4)同心布置在第二弹簧(3)的外部。
2.根据权利要求1所述的可以防止瞬断的双头单动同心双弹簧半导体测试探针，其特征在于，所述测试针头(5)和固定针头(2)的尾部均设置有盲孔，所述第二弹簧(3)的两端分别设置在两个盲孔中。
3.根据权利要求...
【专利技术属性】
技术研发人员：李加强，
申请(专利权)人：渭南木王智能科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：
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