判断待测面板的方法及其系统技术方案

本发明专利技术主要涉及一种判断待测面板的方法及其系统，尤其是指一种利用判断伺服器自动判断待测面板等级的方法；该系统係由判断伺服器及工作平台组成，本发明专利技术可应用于ＣＴ２测试、面板模组组装测试。判断伺服器与工作平台连接，判断伺服器内建复数面板等级，于工作平台输入待测面板的缺陷资讯后，工作平台将缺陷资讯传递给判断伺服器后，由判断伺服器判断待测面板的等级，并将待测面板的等级回馈给工作平台。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种判断待测面板的系统，其包括：一判断伺服器及一工作平台，其特征在于，该判断伺服器，内建复数面板等级；又，该工作平台，与该判断伺服器连接，于该工作平台输入每一定待测面板的缺陷资讯后，该工作平台将缺陷资讯传递给该判断伺服器后，由该判断伺服器判断该待测面板的等级，并将该待测面板的等级回馈给该工作平台。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：宋尚轩，谢冠生，
申请(专利权)人：深超光电深圳有限公司，
类型：发明
国别省市：94[中国|深圳]