本申请提供一种发光二极管检测装置，用于对绑定在显示基板上的多个发光二极管进行检测，所述发光二极管检测装置包括：供电模组，用于同时或分别向所述多个发光二极管提供电信号，以使所述多个发光二极管发光；压力治具，用于向所述供电模组施加压力，使得所述供电模组与所述发光二极管的电极接触；探测器，设置于所述压力治具远离所述供电模组的一侧，用于检测所述发光二极管是否发光。本申请还提供一种发光二极管检测方法。发光二极管检测方法。发光二极管检测方法。
【技术实现步骤摘要】
发光二极管检测装置和发光二极管检测方法
[0001]本申请涉及显示领域，尤其涉及一种发光二极管检测装置和一种发光二极管检测方法。
技术介绍
[0002]现有的发光二极管(light emitting diode,LED)检测技术，通常包括光致发光检测和电致发光检测。具体来说，光致发光检测需要将高能激光照射到发光二极管上，再经过光学系统检查发光二极管是否在高能激光的照射下发光，从而判定发光二极管的质量；电致发光检测是通过探针向发光二极管的电极提供电信号，从而判断发光二极管是否电导通。然而，光致发光检测装置包括高能激光源、光学系统和传感器等组件，成本较高，且不易于维护；电致发光检测装置的检测会受限于探针的尺寸，通常相邻两个探针的最小间距约为100μm
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300μm，因此无法进行高精度检测，也即当相邻两个发光二极管的间距小于探针之间的最小间距时，电致发光检测装置无法进行检测。
技术实现思路
[0003]本申请一方面提供一种发光二极管检测装置，用于对绑定在显示基板上的多个发光二极管进行检测，所述发光二极管检测装置包括：
[0004]供电模组，用于同时或分别向所述多个发光二极管提供电信号，以使所述多个发光二极管发光；
[0005]压力治具，用于向所述供电模组施加压力，使得所述供电模组与所述发光二极管的电极接触；
[0006]探测器，设置于所述压力治具远离所述供电模组的一侧，用于检测所述发光二极管是否发光。
[0007]在一实施例中，所述供电模组包括透明导电膜，所述透明导电膜用于覆盖多个所述发光二极管，并向所述多个发光二极管同时传输电信号。
[0008]在一实施例中，所述透明导电膜的材料包括氧化铟锡。
[0009]在一实施例中，所述供电模组包括绝缘的透明基板和固接在所述透明基板表面的至少一个连接垫，每个所述连接垫用于对应一个所述发光二极管设置，并用于向所述发光二极管传输电信号。
[0010]在一实施例中，所述透明基板上设置有导电线路，所述导电线路用于与每一所述连接垫电连接，以向多个所述连接垫同时或分别供电。
[0011]在一实施例中，所述发光二极管检测装置还包括支撑台，所述支撑台用于承载并固定所述显示基板。
[0012]在一实施例中，所述压力治具包括压力头，所述压力头的尺寸和形状能够使其对准至少一个所述发光二极管。
[0013]在一实施例中，所述压力头为多个，多个所述压力头之间能相互更换，每个所述压
力头的尺寸和形状不同，使多个所述压力头能够对准不同数量和不同排列方式的所述发光二极管。
[0014]本申请另一方面提供一种发光二极管检测方法，用于对绑定在显示基板上的多个发光二极管进行检测，所述发光二极管检测方法包括：
[0015]将供电模组设置于所述发光二极管远离所述显示基板的一侧；
[0016]将压力治具设置于所述供电模组远离所述显示基板的一侧；
[0017]向所述供电模组施加压力，使得所述供电模组与所述发光二极管电接触；
[0018]向所述发光二极管提供电信号。
[0019]在一实施例中，将供电模组设置于所述发光二极管远离所述显示基板的一侧的步骤之前，还包括：将所述显示基板放置于支撑台上，并固定所述显示基板。
[0020]在一实施例中，将压力治具设置于所述供电模组远离所述显示基板的一侧的步骤包括：选取压力头，以用于对准至少一个所述发光二极管。
[0021]在一实施例中，向所述发光二极管提供电信号的步骤之后，还包括：检测所述发光二极管是否发光。
[0022]本申请实施例提供的发光二极管检测装置和发光二极管检测方法，通过设置供电模组，可以批量对多个发光二极管供电，从而便于批量检测多个发光二极管的质量，结构简单，节约成本，且无需考虑相邻发光二极管之间的间距。通过设置压力治具，可以确保供电模组能够与发光二极管充分接触，从而避免供电模组同时覆盖多个发光二极管时与个别发光二极管之间存在间隙，造成个别发光二极管因未获得供电模组的检测电信号，进而误判。
附图说明
[0023]图1为本申请一实施例的发光二极管检测装置的结构示意图。
[0024]图2为本申请另一实施例的发光二极管检测装置的结构示意图。
[0025]图3为本申请一实施例中压力治具的工作范围示意图。
[0026]图4为本申请一实施例的发光二极管检测方法的流程图。
[0027]主要元件符号说明
[0028]发光二极管检测装置
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100、200
[0029]供电模组
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[0030]电源
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[0031]透明导电膜
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[0032]透明基板
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[0033]连接垫
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[0034]压力治具
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30
[0035]压力头
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31、31A、31B、31C
[0036]机械臂
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[0037]探测器
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[0038]图像传感器
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[0039]处理器
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[0040]支撑台
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70
[0041]显示基板
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910
[0042]发光二极管
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930、950
[0043]电极
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931、933、951、953
[0044]粘合层
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970
[0045]步骤
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S1、S2、S3、S4、S5
[0046]如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本申请。
具体实施方式
[0047]下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本申请的一部分实施例，而不是全部的实施例。
[0048]除非另有定义，本申请所使用的所有的技术和本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种发光二极管检测装置，用于对绑定在显示基板上的多个发光二极管进行检测，其特征在于，所述发光二极管检测装置包括：供电模组，用于同时或分别向所述多个发光二极管提供电信号，以使所述多个发光二极管发光；压力治具，用于向所述供电模组施加压力，使得所述供电模组与所述发光二极管的电极接触；探测器，设置于所述压力治具远离所述供电模组的一侧，用于检测所述发光二极管是否发光。2.如权利要求1所述的发光二极管检测装置，其特征在于，所述供电模组包括透明导电膜，所述透明导电膜用于覆盖多个所述发光二极管，并向所述多个发光二极管同时传输电信号。3.如权利要求2所述的发光二极管检测装置，其特征在于，所述透明导电膜的材料包括氧化铟锡。4.如权利要求1所述的发光二极管检测装置，其特征在于，所述供电模组包括绝缘的透明基板和固接在所述透明基板表面的至少一个连接垫，每个所述连接垫用于对应一个所述发光二极管设置，并用于向所述发光二极管传输电信号。5.如权利要求4所述的发光二极管检测装置，其特征在于，所述透明基板上设置有导电线路，所述导电线路用于与每一所述连接垫电连接，以向多个所述连接垫同时或分别供电。6.如权利要求1所述的发光二极管检测装置，其特征在于，还包括支撑台，所述支撑台用于承载并固定所述显示基板。7.如权利要求1至6任意一项所...
【专利技术属性】
技术研发人员：刘光华，
申请(专利权)人：深超光电深圳有限公司，
类型：发明
国别省市：
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