面板检测装置与方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种面板检测装置，包含一承载平台、一输送平台以及一面板检测总成。输送平台设置于承载平台上方，且输送平台上具有用来推送面板的一推料模块。面板检测总成包含多个光源模块以及与多个光源模块相对应的多个取像模块。多个光源模块包含一正光光源、一第一水平光光源及一背光光源，多个取像模块具有一正光取像模块、一水平光取像模块及一背光取像模块，且推料模块适于推送面板横越过承载平台，使多个光源模块所发射的多个光束可扫描面板进行检测。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术关于一种面板检测装置，特别指一种可以连续针对多个面板各自的上表面、下表面、两个水平侧表面及两个垂直侧表面进行检测的面板检测装置。
技术介绍
随着消费性显示装置技术的增进以及需求量的增长，凡手机、平板电脑、电视等显示装置，为寻求更高品质的显示效果，除了具备尖端的面板制程技术以外，面板成品良率的检测更是提高产品价值的关键技术。由于面板在制作过程中，时常伴随着清洗、切割或是输送等步骤，故在面板的表面或周缘处很容易出现脏污、裂痕、刮伤或是毛屑等缺陷。而在面板前期的检测过程中，若上述缺陷未能被检测出来，除了将造成后续组装成品的良率受到考验外，在组装过程中亦有可能因为上述的面板缺陷，导致后端组装用机械设备的损坏。因此，为了针对面板的各表面，即：上表面、下表面及前、后、左、右等四个侧表面进行检测，在现有的检测过程中，乃是通过使检测设备分别针对面板的不同表面，采用分段检测的方式来获得相关检测结果。此外，部份机械设备则采用多个机械手臂的配置方式，使其除了用来传递待测物-即面板以外，亦可通过翻转、置换工作区域等方式，以获取前述各表面的信息。另一方面，获取面板表面信息的检测方式，除了采用光学技术以外，亦可能采用其他物理检测方法。然而，即使通过各种物理检测方法能撷取高精准度的检测结果，但由于大部分的检测设备皆为分段检测或是必需进行复杂程序的检测步骤，故前述方式不但会拖延检测时间，亦会增加面板r>在检测过程中损坏的机率。有鉴于此，如何提供一种一次性的面板检测作业，使其可仅在单一检测流程中即完成各表面的检测，以提高检测效率并降低面板损坏率，乃是业界亟需克服的议题。
技术实现思路
本专利技术之一目的在于提供一种单次性(或称：一次性)的面板检测装置及面板检测方法，藉以提高面板的检测效率、检测良率，并降低面板损坏率。为达上述目的，本专利技术提供的一种面板检测装置，包含一承载平台、一输送平台及一面板检测总成。输送平台设置于承载平台上，并具有一推料模块。面板检测总成具有多个光源模块及与多个光源模块相互对应的多个取像模块。其中，多个光源模块包含一正光光源、一第一水平光光源及一背光光源，多个取像模块具有一正光取像模块、一第一水平光取像模块及一背光取像模块，且推料模块适于推送面板横越过承载平台，使多个光源模块所发射的多个光束可扫描面板进行检测。为达上述目的，本专利技术的面板检测装置所具有的多个光束包含一正光光束、一第一水平光光束及一背光光束，且正光光源、第一水平光光源及背光光源适于分别发射该正光光束、该第一水平光光束及该背光光束。为达上述目的，本专利技术的面板检测装置所具有的多个光源模块还包含一倾斜光光源以发射一倾斜光光束，多个取像模块还包含一倾斜光取像模块，且倾斜光取像模块相应倾斜光光源设置，以接收被面板所反射的倾斜光光束。为达上述目的，本专利技术的面板具有一上表面、一下表面、两个水平侧表面及两个垂直侧表面。为达上述目的，本专利技术的面板检测装置所具有的承载平台具有两个对位模块，以使面板可相对于承载平台进行对位。为达上述目的，本专利技术的面板检测装置所具有的推料模块具有两个推料装置，该两个推料装置分别抵靠于面板相对的两个垂直侧边，并以一等速度方式共同推送面板。为达上述目的，本专利技术的面板检测装置所具有的推料模块具有两个推料装置，该两个推料装置分别抵靠于面板相对的两个垂直侧边，并以一变速度方式共同推送面板。为达上述目的，本专利技术的面板检测装置所具有的推料模块还包含多个第二水平光光源以分别发射一第二水平光束，当推料模块推送面板时，水平光束适于照射面板相对的两个侧边。为达上述目的，本专利技术之面板检测装置所具有的多个第二水平光光源嵌设于两个推料装置内。为达上述目的，本专利技术的面板检测装置所具有的多个第二水平光光源为一线光源。为达上述目的，本专利技术的面板检测装置所具有的输送平台定义多个工作区，相邻的各工作区之间分别设置至少一间隙，且各至少一间隙可供多个光源模块所发射的多个光束通过。为达上述目的，本专利技术的面板检测装置所具有的承载平台上设置有多个气浮装置，使面板在检测过程中始终呈现一气浮状态。为达上述目的，本专利技术的面板检测装置所具有的至少一间隙具有一第一间隙、一第二间隙及一第三间隙，以分别供多个光源模块所发射的多个光束通过。为达上述目的，本专利技术的面板检测装置所具有的多个光源模块所具有的正光光源、背光光源及/或倾斜光光源为一线光源。本专利技术亦包含一种面板检测方法，包含下列步骤：(a)提供一输送平台于一承载平台上；(b)提供一面板至输送平台；(c)利用一对位模块进行面板的对位；(d)提供一推料模块，并利用推料模块推送面板；(e)提供多个光源模块，以在推料模块推送面板的过程中发射多个光束至面板；以及(f)利用多个取像模块撷取多个光束被面板所反射的多个影像、或撷取多个光束穿透面板的多个影像，以完成检测作业。为达上述目的，本专利技术的面板检测方法所具有的多个取像模块可用以撷取多个光束被面板的多个表面所反射的多个影像。为达上述目的，本专利技术的面板所具有的多个表面为一上表面、一下表面、两个水平侧表面及两个垂直侧表面。为达上述目的，本专利技术的面板检测方法所具有的推料模块在一气浮状态下，以一等速度方式推送面板。为达上述目的，本专利技术的面板检测方法所具有的推料模块在一气浮状态下，以一变速度方式推送面板。为了让上述的目的、技术特征和优点能够更加为本领域之人士所知悉并应用，下文以本专利技术的数个较佳实施例以及附图进行详细的说明。附图说明图1为本专利技术面板检测装置的立体图；图2为本专利技术面板检测装置的俯视图；图3为本专利技术面板检测装置的正光取像模块、第一水平光取像模块及背光取像模块的设置示意图；图4为本专利技术面板检测装置的正光光源、第一水平光光源及背光光源的设置示意图；图5、6为本专利技术面板检测装置的第一水平光光源与第二水平光光源的设置示意图；图7为本专利技术面板检测装置的倾斜光光源呈现45度时的设置示意图；图8为本专利技术面板检测装置的倾斜光光源呈现14度时的设置示意图；以及图9为本专利技术面板检测方法的步骤图。具体实施方式本专利技术的一种面板检测装置，其适于用以进行一面板的检测作业，以确保后续组装成品(如智能手机或平板电脑)的良率。如图1、2所示，本专利技术用以检测一面板200的一面板检测装置100包含一本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种面板检测装置，用以进行一面板的检测作业，包含：一承载平台；一输送平台，设置于该承载平台上，并具有一推料模块；以及一面板检测总成，并具有多个光源模块及与所述光源模块相互对应的多个取像模块；其中，所述光源模块包含一正光光源、一第一水平光光源及一背光光源，所述取像模块具有一正光取像模块、一水平光取像模块及一背光取像模块，且该推料模块适于推送该面板横越过该承载平台，使所述光源模块所发射的多个光束可扫描该面板进行检测。

【技术特征摘要】
2015.01.27 US 62/108,3781.一种面板检测装置，用以进行一面板的检测作业，包含：
一承载平台；
一输送平台，设置于该承载平台上，并具有一推料模块；
以及
一面板检测总成，并具有多个光源模块及与所述光源模
块相互对应的多个取像模块；
其中，所述光源模块包含一正光光源、一第一水平光光
源及一背光光源，所述取像模块具有一正光取像模块、一水
平光取像模块及一背光取像模块，且该推料模块适于推送该
面板横越过该承载平台，使所述光源模块所发射的多个光束
可扫描该面板进行检测。
2.如权利要求1所述的面板检测装置，其特征在于，所述光束包
含一正光光束、一第一水平光光束及一背光光束，且该正光
光源、该第一水平光光源及该背光光源适于分别发射该正光
光束、该第一水平光光束及该背光光束。
3.如权利要求1所述的面板检测装置，其特征在于，所述光源模
块还包含一倾斜光光源以发射一倾斜光光束，所述取像模块
还包含一倾斜光取像模块，且该倾斜光取像模块相应该倾斜
光光源设置，以接收被该面板所反射的该倾斜光光束。
4.如权利要求1所述的面板检测装置，其特征在于，该面板具有
一上表面、一下表面、两个水平侧表面及两个垂直侧表面。
5.如权利要求1所述的面板检测装置，其特征在于，该承载平台
具有两个对位模块，以使该面板可相对于该承载平台进行对

\t位。
6.如权利要求1所述的面板检测装置，其特征在于，该推料模块
具有两个推料装置，该两个推料装置分别抵靠于该面板相对
的两个垂直侧边，并以一等速度方式共同推送该面板。
7.如权利要求1所述的面板检测装置，其特征在于，该推料模块
具有两个推料装置，该两个推料装置分别抵靠于该面板相对
的两个侧边，并以一变速度方式共同推送该面板。
8.如权利要求1所述的面板检测装置，其特征在于，该推料模块
还包含多个第二水平光光源以分别发射一第二水平光光束，
当该推料模块推送该面板时，该第二水平光光束适于照射该
面板相对的两个侧边。
9.如权利要求8所述的面板检测装置，其...

【专利技术属性】
技术研发人员：叶肇懿，苏品铨，杨尚伦，刘智远，
申请(专利权)人：政美应用股份有限公司，
类型：发明
国别省市：中国台湾;71