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本发明主要涉及一种判断待测面板的方法及其系统，尤其是指一种利用判断伺服器自动判断待测面板等级的方法；该系统係由判断伺服器及工作平台组成，本发明可应用于ＣＴ２测试、面板模组组装测试。判断伺服器与工作平台连接，判断伺服器内建复数面板等级，于工作...
该专利属于深超光电（深圳）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深超光电（深圳）有限公司授权不得商用。

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