一种集成电路用震动测试设备制造技术

本实用新型专利技术公开了一种集成电路用震动测试设备，涉及到集成电路检测技术领域，包括测试主体，设置在所述测试主体上的检测腔，所述测试主体的一侧设置有对照单元，所述对照单元的一侧设置有显示器，所述对照单元的另一侧设置有两对控制按钮和若干组检测组件，所述检测腔的腔内顶部设置有横向导轨，所述横向导轨的顶部垂直滑接有纵向导轨，所述纵向导轨的底部滑动连接有安装座，所述安装座的底部安装有摄像头，所述检测腔的腔内两侧均设置有布线板，所述测试主体的另一侧设置有控制器。本实用新型专利技术增加了震动测试设备对集成电路各引脚电压检测的检测便捷性，提高震动测试设备的使用效果，具有实用性。具有实用性。具有实用性。

【技术实现步骤摘要】
一种集成电路用震动测试设备


[0001]本技术涉及集成电路检测
，特别涉及一种集成电路用震动测试设备。

技术介绍

[0002]集成电路是一种微型电子器件或部件。采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构；其中所有元件在结构上已组成一个整体，使电子元件向着微小型化、低功耗、智能化和高可靠性方面迈进了一大步。
[0003]其中集成电路的加工过程中通常会进行震动检测，用以集成电路的质量检测。检测时，集成电路板放置在测试设备中，通过震动检测设备中振动电机对集成电路进行X轴、Y轴和Z轴方向上的多次震动，震动后的集成电路再使用万用表对其各个引脚进行检测，当检测数值满足合格数值时，则该集成电路的质量合格，进而可进行集成电路下一步骤的加工。
[0004]而现有的震动测试设备需要人工对集成电路板的各引脚进行检测，检测成本较高，检测速度较慢，使得集成电路的震动测试设备的使用效果较差，实用性低，因此，本申请提供了本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种集成电路用震动测试设备，包括测试主体(1)，设置在所述测试主体(1)上的检测腔(11)，其特征在于：所述测试主体(1)的一侧设置有对照单元(2)，所述对照单元(2)的一侧设置有显示器(21)，所述对照单元(2)的另一侧设置有两对控制按钮(22)和若干组检测组件(3)，所述检测腔(11)的腔内顶部设置有横向导轨(4)，所述横向导轨(4)的顶部垂直滑接有纵向导轨(41)，所述纵向导轨(41)的底部滑动连接有安装座(42)，所述安装座(42)的底部安装有摄像头(43)，所述检测腔(11)的腔内两侧均设置有布线板(5)。2.根据权利要求1所述一种集成电路用震动测试设备，其特征在于：所述测试主体(1)的另一侧设置有控制器，所述控制器中设置有若干个集成电路电压标椎值，若干组所述检测组件(3)与若干个所述集成电路电压标椎值的数量相同。3.根据权利要求1所述一种集成电路用震动测试设备，其特征在...

【专利技术属性】
技术研发人员：叶四华，
申请(专利权)人：品欣电子深圳有限公司，
类型：新型
国别省市：