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本实用新型公开了一种集成电路用震动测试设备，涉及到集成电路检测技术领域，包括测试主体，设置在所述测试主体上的检测腔，所述测试主体的一侧设置有对照单元，所述对照单元的一侧设置有显示器，所述对照单元的另一侧设置有两对控制按钮和若干组检测组件，所...
该专利属于品欣电子（深圳）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过品欣电子（深圳）有限公司授权不得商用。

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