用于射频杂讯的自动侦测装置制造方法及图纸

本发明专利技术是关于一种用于射频杂讯的自动侦测装置。该装置藉由天线接 收杂讯，经过一比较器，将射频讯号(输入)转换为电压讯号(输出)，再 经由一电压放大器放大该输出电压，若输出电压超过一临界电压，则驱动 后级电路，做为射频杂讯过量的警示之用。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种自动侦测装置，特别是涉及一种用于射频杂讯的自动侦测装置。
技术介绍
当射频电路中的待测元件在进行测试时， 一般客户会在量产前要求先做产线环境的检测动作，原因是产线环境常会受到射频讯号的干扰，造成测试装置在检测时的误判，有可能是有效的接脚(Pass-bin)会变成无效的接脚(Fail-bin)或是无效的接脚变成有效的接脚，而造成测试的错误。因此，通常在产线量产前，会对于无线通讯器材的使用或是其它会影响高频元件测试的条件做限制。但是一般的产线环境的检测仅对于自动化测试设备(AutoTest Equipment, ATE)室内的反射及散射等干扰做区域性的防护，对于测试元件之间的射频杂讯干扰，并没有有效的侦测方法，如此一来，就无法确切地得知是否有过量的射频杂讯，足以去影响接脚(Pin)测试的误判。换言之，上述的环测方式只是尽量去降低射频杂讯的干扰，但并没有办法做真正的^f莫拟去得知正在测试中的装置，其受环境千扰的影响程度。因此亟需想出 一种用来侦测射频杂讯的装置与方法，以警示产线是否有射频杂讯过量的情况发生。在测试载板(Load Board)或晶片测试板(ChipEvaluation Board, EVB)设计时，于印刷电路板(Print Circuit Board, PCB)上面加入天线的布局(Layout)，利用天线的特性配合测试程序，侦测扫描比较容易产生射频杂讯(如手机晶片等)或客户常用的等测元件测试频段。由于天线^艮靠近测试元件，而且测试环境也与待测元件的测试环境非常相似，因此天线几乎可以完全等同于待测元件真正在做测试时所会遇到的环境千扰。有鉴于上述现有的侦测射频杂讯的装置存在的缺陷，本专利技术人基于从事此类产品设计制造多年丰富的实务经验及专业知识，并配合学理的运用，积极加以研究创新，以期创设一种新型的用于射频杂讯的自动侦测装置，能够改进一般现有的侦测射频杂讯的装置，使其更具有实用性。经过不断的研究、设计，并经过反复试作样品及改进后，终于创设出确具实用价值的本专利技术。
技术实现思路
有鉴于上述专利技术背景中，传统的测试环境并未针对射频杂讯进行侦测所产生的缺失，本专利技术的目的在于，克服现有的侦测射频杂讯的装置存在3的缺陷，而提供一种新型的用于射频杂讯的自动侦测装置，所要解决的技术问题是使其用来侦测射频杂讯是否过量当射频杂讯未过量时，判定待测元件的测试结果是正确的；当射频杂讯过量时，判定待测元件的测试结果是错误的，从而更加适于实用。本专利技术的目的及解决其技术问题是采用以下技术方案来实现的。依据本专利技术提出的一种用于射频杂讯的自动侦测装置，其包括 一天线，用以接收该射频杂讯； 一比较器，电性连接该天线，用于接收该天线所接收的该射频杂讯并输出一讯号； 一放大器，电性连接该比较器，用于放大该比较器的该讯号；以及一后级电路，电性连接该放大器，用于接收该讯号以警示该杂讯过量的情况。本专利技术的目的及解决其技术问题还可采用以下技术措施进一步实现。前述的用于射频杂讯的自动侦测装置，其中所述的比较器外接一供应电压Vcc和一接地电压(Ground, GND),使该比较器可将该杂讯转换成该讯号并传送至该放大器。前述的用于射频杂讯的自动侦测装置，其还包括一马达，其中该马达连接该天线，是用于旋转该天线来增加该天线接收的方向性。前述的用于射频杂讯的自动侦测装置，其还包括一马达，其中该马达连接该自动侦测装置，是用于旋转该自动侦测装置来增加该天线接收的方向性。前述的用于射频杂讯的自动侦测装置，其中所述的后级电路是选自于由一计数器、 一发光二极管(light emitting diode, LED)以及一蜂鸣器所组成的群组。前述的用于射频杂讯的自动侦测装置，其还包括一阻抗，藉由控制该阻抗的大小用于控制该电压放大器的输出电压以驱动该后级电路。前述的用于射频杂讯的自动侦测装置，其中所述的天线是选自于由一传统倒F型天线(Conventional wire element IFA)、 一平面倒F型天线(PlanarIFA)与一积体式倒F型天线(Integrated IFA)所组成的群组。前述的用于射频杂讯的自动侦测装置，其中所述的比较器为一射频比较器。前述的用于射频杂讯的自动侦测装置，其中所述的放大器为一电压放大器。前述的用于射频杂讯的自动侦测装置，其中所述的放大器为一反相放大器。本专利技术与现有技术相比具有明显的优点和有益效果。由以上可知，为了达到上述目的，本专利技术提供了一种用来侦测射频杂讯的射频环境自动侦测装置与方法。该装置藉由天线接收射频杂讯，经过一射频比较器，将射频讯号(输入)转换为电压讯号(输出)，再经由一放大器(如电压放大器)放大该输出电压，若超过一临界电压，则驱动后级电路，以做射频杂讯过量的警示之用。该装置包括一天线，用以接收射频杂讯； 一射频比较器，用以输出电压讯号； 一放大器，用以放大原本微量的输出电压，来驱动后端的电路； 一后级电路，可为计数器、LED警示灯或蜂鸣器，用以警示射频杂讯过量的情况。另一方面，为了能接收全方位的射频杂讯，因此天线或整个测试制具可安置马达来做顺时针或逆时针的旋转，以增加天线接收的方向性。借由上述技术方案，本专利技术用于射频杂讯的自动侦测装置至少具有下列优点本专利技术提供一种侦测射频杂讯的装置，利用天线，尤其是平面倒F型天线(Planar Inverted F Antenna)来接收射频杂讯，藉由后级电路来警示所接收到的射频杂讯是否过量，可利用计数器来累计过量的次数，或利用发光二极管(Light Emitting Diode, LED)显示灯的发光或闪烁来告知使用者过量的情况已发生，或利用蜂鸣器告知产线待测元件的测试结果因过量的射频杂讯而是错误的。本专利技术另提供一种侦测射频杂讯的方法，首先利用天线去接收射频杂讯，再利用一比较器(如射频比较器)将射频杂讯转换成电压讯号，经由放大器放大后，再去驱动后级电路，以达到警示射频杂讯已过量的动作。上述说明仅是本专利技术技术方案的概述，为了能够更清楚了解本专利技术的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本专利技术的上述和其他目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举较佳实施例，并配合附图，i爭细i兌明如下。附图说明图l为本专利技术一实施例的射频环境自动侦测装置；图2为射频比较器对直流准位输出转换图3为本专利技术实施例的射频输入讯号、射频比较器输出讯号及放大器输出讯号示意图4A为本专利技术另 一实施例的具马达旋转天线的射频侦测装置；图4B为本专利技术另一实施例的具马达旋转制具的射频侦测装置。100自动侦测装置102:天线104比较器106:放大器108后级电路110:阻抗202输出电压204:误差302射频llr入ifi号304:比專交器llr出讯号306:放大器输出讯号402:天线406:放大器410:马达400:自动侦测装置404:比较器408:后级电絲^具体实施例方式为更进一步阐述本专利技术为达成预定专利技术目的所釆取的技术手段及功效，以下结合附图及较佳实施例，对依据本专利技术提出的用于射频杂讯的自动侦测装置其具体实施方式、结构、特征及其功效，详细说明如后。接下来是本专利技术的详细说明。本专利技术所使用天线，特别是指倒F型天线，来做为接收杂讯(如射频杂讯)的元件，原因是本侦测装置的设计频段为900MHz、 1本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于射频杂讯的自动侦测装置，其特征在于其包括：　一天线，用以接收该射频杂讯；　一比较器，电性连接该天线，用于接收该天线所接收的该射频杂讯并输出一讯号；　一放大器，电性连接该比较器，用于放大该比较器的该讯号；以及　 一后级电路，电性连接该放大器，用于接收该讯号以警示该杂讯过量的情况。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：柯宣仲，谢辰阳，
申请(专利权)人：京元电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71