一种新型磁环外表瑕疵检测结构制造技术

本发明专利技术公开了一种新型磁环外表瑕疵检测结构，包括上料装置、检测装置、下料装置和PC端；磁环从上料装置运输至检测装置，检测装置对磁环进行磁环外表瑕疵检测并将检测结果上传至PC端，检测完的磁环从检测装置运输至下料装置并根据PC端判定结果对磁环进行分类；磁环位于旋转治具上，磁环旋转，第一相机和第四相机将磁环内孔表面、内倒角表面和端面全部成像，第二相机则将磁环外圆柱面、两个外倒角都成像，扫描相机采集图像时，是一条线不断采集，而磁环旋转，将使得扫描线覆盖的面全部都成像出来；采用全方位扫描拍照的方法，一次性检测出磁环所有瑕疵；检测效果好，不需要很多设备调试时间，就能进行生产检测；更换磁环种类，也非常迅速容易。非常迅速容易。非常迅速容易。

【技术实现步骤摘要】
一种新型磁环外表瑕疵检测结构


[0001]本专利技术涉及磁环检测
，尤其涉及一种新型磁环外表瑕疵检测结构。

技术介绍

[0002]由于精密马达和电子行业对磁环的要求非常高，磁环在磁化前，必须确保没有裂纹、坑点、表面崩缺、氧化皮和材料结晶等缺陷存在，如是出现了一些视觉检测设备，用工业相机拍照，软件分析照片来检测有无表面瑕疵。由于磁环大多数是黑色铁氧体(四氧化三铁)烧结材料，本身材料是类似粉末冶金的材料，黑色的烧结材料表面一些裂纹等瑕疵，在普通工业相机取得的照片中，比较模糊，往往造成软件分析不出瑕疵，或者说，出现误判。这是行业难题。近几年，出现了类似人工智能的软件，用很多有瑕疵的磁环，进行拍照，储存瑕疵磁环的图像，通过成千上万的图片，进行所谓“深度学习”，大约工程师通过半年以上努力，可以达到大约70％到80％的检测效果。其缺点是不能通用不同尺寸磁环，换一种磁环，就要重新“深度学习”，时间长，耗时耗力。

技术实现思路

[0003]本专利技术的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种新型磁环外表瑕疵检测结构。
[0004]为了实现上述目的，本专利技术采用了如下技术方案：
[0005]一种新型磁环外表瑕疵检测结构，包括上料装置、检测装置、下料装置和PC端；所述磁环从上料装置运输至所述检测装置，所述检测装置对所述磁环进行磁环外表瑕疵检测并将检测结果上传至PC端，检测完的所述磁环从所述检测装置运输至所述下料装置并根据PC端判定结果对所述磁环进行分类。
[0006]优选的，所述上料装置包括第一底座、第一推料模块、待检料仓和上料机械手，所述第一底座上设置有一滑动模块，所述待检料仓置于所述滑动模块上，所述第一推料模块位于所述待检料仓正上方；所述上料机械手置于所述第一底座上并位于所述待检料仓一侧，所述若干个磁环依次排列于所述待检料仓上。
[0007]优选的，所述检测装置包括第二底座、转盘、若干个旋转治具、第一检测模块、第二检测模块、第三检测模块和第四检测模块；所述转盘置于所述第二底座上，若干个所述旋转治具等距环绕设置于所述转盘上；所述第二底座位于每一所述旋转治具相对应的位置设置有一气动装置，所述第一检测模块、所述第二检测模块、所述第三检测模块和所述第四检测模块均置于所述转盘上方。
[0008]优选的，若干个所述旋转治具包括第一旋转治具、第二旋转治具、第三旋转治具、第四旋转治具、第五旋转治具、第六旋转治具、第七旋转治具和第八旋转治具，所述第一检测模块包括第一相机和第一线光源，所述第一线光源位于所述第三旋转治具一侧，所述第一相机位于所述第三旋转治具斜上方；所述第二检测模块包括第二相机和第二线光源，所述第二线光源位于所述第四旋转治具一侧，所述第二相机位于所述第四旋转治具正上方。
[0009]优选的，所述第三检测模块包括第三相机和一面光源，所述第三相机位于所述第六旋转治具一侧，所述面光源位于所述第六旋转治具另一侧，所述第三相机、所述面光源和所述第六旋转治具处于同一水平线上。
[0010]优选的，所述第四检测模块包括第四相机和第三线光源，所述第三线光源位于所述第七旋转治具一侧，所述第四相机位于所述第七旋转治具斜上方。
[0011]优选的，所述下料装置包括第三底座、下料机械手、传送带、存放仓和若干个第二推料模块；所述传送带一端置于所述第三底座上，所述传送带另一端置于所述第二底座上并位于所述第八旋转治具一侧；所述下料机械手置于所述第二底座上并位于所述传送带一侧，所述存放仓和若干个所述第二推料模块均置于所述第三底座上并分别位于所述传送带两侧。
[0012]优选的，所述存放仓包括若干个良品存放槽和若干个不良品存放槽，每一所述良品存放槽和每一所述不良品存放槽一侧均有一所述第二推料模块。
[0013]与现有技术相比，本专利技术的有益效果是:
[0014]本专利技术设计一种新型磁环外表瑕疵检测结构，工人将待检磁环放置在待检料仓中，第一推料模块将磁环推向转盘方向，滑动模块可带动待检料仓前后移动；上料机械手将磁环转移到转盘上的第一旋转治具上，气动装置带动旋转治具旋转，从而带动磁环在旋转治具上旋转；磁环位于旋转治具的两条旋转轴上，当旋转轴旋转时，带动磁环旋转，第一相机和第四相机将磁环内孔表面、内倒角表面以及端面全部成像，第二相机则将磁环外圆柱面、两个外倒角都成像，扫描相机采集图像时，是一条线不断采集，而磁环旋转，将使得扫描线覆盖的面全部都清晰地成像出来；采用线扫描相机在合理的光源配合下，扫描表面获得的图像中，能够非常清楚地表现出细小的裂纹、坑点、崩缺和结晶等缺陷，让视觉软件正确判断瑕疵；第三相机(普通工业相机)只负责检测磁环的厚度、外倒角大小，以及磁环材料中是否有结晶缺陷存在；检测厚度，是为了避免产品有混料，不同的产品混进来，需要检测出来；检测完毕的磁环，由下料机械手转移到传送带上，随着传送带流向良品存放槽或不良品存放槽；良品由第二推料模块推向良品存放槽，不良品由第二推料模块推向不良品存放槽；采用全方位扫描拍照的方法，一次性检测出磁环所有瑕疵；不但检测效果好，而且不需要很多时间，就能进行生产检测；更换磁环种类，也非常迅速容易。
附图说明
[0015]图1为本专利技术提出的结构示意图；
[0016]图2为本专利技术提出的检测装置的结构示意图；
[0017]图3为本专利技术提出的磁环检测示意图；
[0018]图例说明：
[0019]1、上料装置，
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2、检测装置，
[0020]3、下料装置，
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4、磁环，
[0021]11、第一底座，
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12、第一推料模块，
[0022]13、待检料仓，
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14、上料机械手，
[0023]15、滑动模块，
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21、第二底座，
[0024]22、转盘，
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23、旋转治具，
[0025]24、第一检测模块，
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25、第二检测模块，
[0026]26、第三检测模块，
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27、第四检测模块，
[0027]28、气动装置，
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31、第三底座，
[0028]32、下料机械手，
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33、传送带，
[0029]34、存放仓，
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35、第二推料模块，
[0030]231、第一旋转治具，
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232、第一旋转治具，
[0031]233、第一旋转治具，
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234、第一旋转治具，
[0032]235、第一旋转治具，
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种新型磁环外表瑕疵检测结构，其特征在于，包括上料装置、检测装置、下料装置和PC端；所述磁环从上料装置运输至所述检测装置，所述检测装置对所述磁环进行磁环外表瑕疵检测并将检测结果上传至PC端，检测完的所述磁环从所述检测装置运输至所述下料装置并根据PC端判定结果对所述磁环进行分类。2.根据权利要求1所述一种新型磁环外表瑕疵检测结构，其特征在于，所述上料装置包括第一底座、第一推料模块、待检料仓和上料机械手，所述第一底座上设置有一滑动模块，所述待检料仓置于所述滑动模块上，所述第一推料模块位于所述待检料仓正上方；所述上料机械手置于所述第一底座上并位于所述待检料仓一侧，所述若干个磁环依次排列于所述待检料仓上。3.根据权利要求2所述一种新型磁环外表瑕疵检测结构，其特征在于，所述检测装置包括第二底座、转盘、若干个旋转治具、第一检测模块、第二检测模块、第三检测模块和第四检测模块；所述转盘置于所述第二底座上，若干个所述旋转治具等距环绕设置于所述转盘上；所述第二底座位于每一所述旋转治具相对应的位置设置有一气动装置，所述第一检测模块、所述第二检测模块、所述第三检测模块和所述第四检测模块均置于所述转盘上方。4.根据权利要求3所述一种新型磁环外表瑕疵检测结构，其特征在于，若干个所述旋转治具包括第一旋转治具、第二旋转治具、第三旋转治具、第四旋转治具、第五旋转治具、第六旋转治具、第七旋转治具和第八旋转治具，所述第一检测模块包...

【专利技术属性】
技术研发人员：王亚辉，
申请(专利权)人：深圳市米米自动化有限公司，
类型：发明
国别省市：