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本发明公开了一种新型磁环外表瑕疵检测结构，包括上料装置、检测装置、下料装置和PC端；磁环从上料装置运输至检测装置，检测装置对磁环进行磁环外表瑕疵检测并将检测结果上传至PC端，检测完的磁环从检测装置运输至下料装置并根据PC端判定结果对磁环进行...
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