箔状物的表面检验系统技术方案

本发明专利技术主要提出一种箔状物的表面检验系统，包括：具有一顶部开口和一底部开口的一箱体、一转接单元、一第一光源、一第二光源、具有一第一摄像机的第一电子装置、以及具有一第一摄像机的一第二电子装置，其中该第一光源、该第二光源、该第一电子装置、和该第二电子装置皆容置在该箱体之内，且透过该转接单元与外部的一控制盒信息连接。本发明专利技术的箔状物的瑕疵检测系统可整合在例如为铝化成箔(即，箔状物)的自动化产线之中，用以对金属箔的微观形貌及/或缺陷进行线上即时观测。或缺陷进行线上即时观测。或缺陷进行线上即时观测。

【技术实现步骤摘要】
箔状物的表面检验系统


[0001]本专利技术是关于自动光学检查(AOI)的
，尤指一种箔状物瑕疵检测系统。

技术介绍

[0002]铝化成箔(Formed Al foil)为具有多用途的电子铝箔，其制程技术融合了机械、电子、化工、及金属科学，且已被广泛地应用在各式电子元件的制造。举例而言，电子铝箔用于制造电解电容器。
[0003]应知道，电解电容器用于储存电荷，而电子铝箔作为电解电容器的电极材料，其表面积的大小直接关系到电解电容器的电荷储存能力。目前，用以提升电子铝箔的表面积的工序包括腐蚀和化成，其中腐蚀工序用以使高纯铝箔在特定的溶液中接收电化学腐蚀，从而在铝箔的表面形成包含大量微细孔洞的微观粗糙结构。之后，化成工序利用电化学处理在具有微观粗糙结构的铝箔表面形成致密的氧化铝薄膜，从而形成铝化成箔(Formed Al foil)。
[0004]在利用自动化产线连续、批次地大量生产铝化成箔(即，电子铝箔)的过程中，原材料、设备状态、环境因素等都可能使所述微观粗糙结构出现不同形式的变化，从而影响最终制成的铝化成箔的比表面积及比容。因此，在电子铝箔的生产和研发中，为了分析比表面积及/或比容发生变化的原因，有必要对电子铝箔的微观形貌进行线上即时观测，从而为实际的制程参数控制提供有益的参考数据。
[0005]有鉴于此，本案的专利技术人是极力加以研究专利技术，而终于研发完成本专利技术的一种箔状物的表面检验系统。

技术实现思路

[0006]本专利技术的主要目的在于提供一种箔状物的表面检验系统，其可整合在例如为铝化成箔的箔状物的自动化产线之中，用以对金属箔(即，箔状物)的微观形貌及/或缺陷进行线上即时观测，从而为实际的制程参数控制提供有益的参考数据，确保金属箔(例如：铝箔、铜箔)的生产品质。
[0007]为达成前述本专利技术的主要目的，所述箔状物的表面检验系统的一实施例于是被提出，其包括：
[0008]一箱体，具有一顶部开口和一底部开口，使得一箔状物能够透过该顶部开口进入该箱体，并透过该底部开口离开该箱体；
[0009]一转接单元，设置于该箱体内，且该转接单元具有露出该箱体的一电源接头与一电源开关；
[0010]一第一光源，设置于该箱体内，耦接该转接单元，靠近该箱体的一第一侧边，且与该箱体的底部之间具有一第一间距；
[0011]一第二光源，设置于该箱体内，耦接该转接单元，靠近该箱体的一第二侧边，且与该箱体的底部之间具有所述第一间距；
[0012]一第一电子装置，设置于该箱体内，耦接该转接单元，靠近该箱体的该第一侧边，且与该箱体的底部之间具有一第二间距；其中，该第二间距大于该第一间距，该第一电子装置包括一第一容置体以及容置在该第一容置体内的至少一第一摄像机，且所述第一摄像机仅以其一第一镜头露出该第一容置体，从而以该第一镜头面对进入该箱体内的该箔状物的一第一表面；以及
[0013]一第二电子装置，设置于该箱体内，耦接该转接单元，靠近该箱体的该第二侧边，且与该箱体的底部之间具有所述第二间距；其中，该第二电子装置包括一第二容置体以及容置在该第二容置体内的至少一第二摄像机，且所述摄像机仅以其一第二镜头露出该第二容置体，从而以该第二镜头面对进入该箱体内的该箔状物的一第二表面。
[0014]在一实施例中，该转接单元进一步具有一第一通讯接口，且外部一控制盒以其一第二通讯接口该第一通讯接口通讯，从而信息连接该第一光源、该第二光源、该第一电子装置以及该第二电子装置。
[0015]在一实施例中，该控制盒还具有一第三通讯接口，从而利用该第三通讯接口与该箔状物的一生产系统的一控制装置进行通讯。
[0016]在一实施例中，该第一光源和该第二光源皆为一线光源。
[0017]在一实施例中，该第一通讯接口、该第二通讯接口与该第三通讯接口皆为选自于由乙太网络接口、Wi
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Fi接口、4G移动通讯接口、及5G移动通讯接口所组成群组之中的任一者。
[0018]在一实施例中，一计米器(length meter)设置在该箱体的外部或内部，用以对该箔状物的进行长度计数，且该控制盒耦接该计米器。
[0019]在一实施例中，一第一影像处理装置设置在该第一容置体之内以耦接该第一摄像机，且具有：
[0020]一第一特征处理单元，其中，在该箔状物进入/离开该箱体的过程中，该第一摄像机自该箔状物的该第一表面摄影撷取一第一表面影像，接着该第一特征处理单元对所述第一表面影像进行一特征萃取处理，获得一第一表面特征图像；
[0021]一第一瑕疵辨识单元，利用预先训练的一瑕疵辨识模型对该第一表面特征图像进行一瑕疵辨识程序，从而确定该第一表面特征图像之中是否含有至少一瑕疵；以及
[0022]一第一表面形貌建立单元，利用一表面形貌建立演算法而依据该第一表面特征图像完成一第一表面形貌图的建立。
[0023]在一实施例中，一第二影像处理装置设置在该第二容置体之内以耦接该第二摄像机，且具有：
[0024]一第二特征处理单元，其中，在该箔状物进入/离开该箱体的过程中，该第二摄像机自该箔状物的该第二表面取得一第二表面影像，接着该第二特征处理单元对所述第二表面影像进行所述特征萃取处理，获得一第二表面特征图像；
[0025]一第二瑕疵辨识单元，利用所述瑕疵辨识模型对该第二表面特征图像进行所述瑕疵辨识程序，从而确定该第二表面特征图像之中是否含有至少一所述瑕疵；以及
[0026]一第二表面形貌建立单元，利用所述表面形貌建立演算法而依据该第二表面特征图像完成一第二表面形貌图的建立。
[0027]在另一实施例中，该控制盒包括一影像处理装置，且该影像处理装置具有：
[0028]一特征处理单元，其中，在该箔状物进入/离开该箱体的过程中，该第一摄像机自该箔状物的该第一表面取得一第一表面影像，且该第二摄像机自该箔状物的该第二表面取得一第二表面影像，使得该特征处理单元对所述第一表面影像以及所述第二表面影像进行一特征萃取处理，获得一第一表面特征图像和一第二表面特征图像；
[0029]一瑕疵辨识单元，利用预先训练的一瑕疵辨识模型对该第一表面特征图像和该第二表面特征图像进行一瑕疵辨识程序，从而确定该第一表面特征图像和该第二表面特征图像之中是否含有至少一瑕疵；以及
[0030]一表面形貌建立单元，利用一表面形貌建立演算法而依据该第一表面特征图像完成一第一表面形貌图的建立，且利用所述表面形貌建立演算法而依据该第二表面特征图像完成一第二表面形貌图的建立。
[0031]在一实施例中，该箱体是透过一第一安装机构而装设在该箔状物的一生产系统的一制造站的一输出侧，且包括：
[0032]由多个直梁和多个横直梁组成的一框架，具有一内部容置空间、一上开口、一下开口、一前开口、一后开口、一左开口、与一右开口，且该上开口、该下开口、该前开口、该后开口、该左开口、与该右开口接连通该内部容置空间；
[0033]一上盖板，连接至该框架以遮盖该上开口，且具有本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种箔状物的表面检验系统，其特征在于，包括：一箱体，具有一顶部开口和一底部开口，使得一箔状物能够透过该顶部开口进入该箱体，并透过该底部开口离开该箱体；一转接单元，设置于该箱体内，且具有露出该箱体的一电源接头与一电源开关；一第一光源，设置于该箱体内，耦接该转接单元，靠近该箱体的一第一侧边，且与该箱体的底部之间具有一第一间距；一第二光源，设置于该箱体内，耦接该转接单元，靠近该箱体的一第二侧边，且与该箱体的底部之间具有所述第一间距；一第一电子装置，设置于该箱体内，耦接该转接单元，靠近该箱体的该第一侧边，且与该箱体的底部之间具有一第二间距；其中，该第二间距大于该第一间距，该第一电子装置包括一第一容置体以及容置在该第一容置体内的至少一第一摄像机，且所述第一摄像机仅以其一第一镜头露出该第一容置体，从而以该第一镜头面对进入该箱体内的该箔状物的一第一表面；以及一第二电子装置，设置于该箱体内，耦接该转接单元，靠近该箱体的该第二侧边，且与该箱体的底部之间具有所述第二间距；其中，该第二电子装置包括一第二容置体以及容置在该第二容置体内的至少一第二摄像机，且所述摄像机仅以其一第二镜头露出该第二容置体，从而以该第二镜头面对进入该箱体内的该箔状物的一第二表面。2.如权利要求1所述的箔状物的表面检验系统，其特征在于，该箔状物为选自于由金属箔、软性基材、纸、和覆有胶层的软性基材所组成群组之中的任一者。3.如权利要求1所述的箔状物的表面检验系统，其特征在于，该转接单元进一步具有一第一通讯接口。4.如权利要求1所述的箔状物的表面检验系统，其特征在于，该第一光源和该第二光源皆为一线光源。5.如权利要求3所述的箔状物的表面检验系统，其特征在于，还包括一控制盒，其具有一第二通讯接口，且利用该第二通讯接口与该第一通讯接口通讯，从而电性连接该第一光源、该第二光源、该第一电子装置以及该第二电子装置。6.如权利要求5所述的箔状物的表面检验系统，其特征在于，该控制盒还具有一第三通讯接口，从而利用该第三通讯接口与该箔状物的一生产系统的一控制装置进行通讯。7.如权利要求6所述的箔状物的表面检验系统，其特征在于，一计米器设置在该箱体的外部或内部，用以对该箔状物的进行长度计数，且该控制盒耦接该计米器。8.如权利要求6所述的箔状物的表面检验系统，其特征在于，一第一影像处理装置设置在该第一容置体之内以耦接该第一摄像机，且具有：一第一特征处理单元，其中，在该箔状物进入/离开该箱体的过程中，该第一摄像机自该箔状物的该第一表面摄影撷取一第一表面影像，接着该第一特征处理单元对所述第一表面影像进行一特征萃取处理，获得一第一表面特征图像；一第一瑕疵辨识单元，利用预先训练的一瑕疵辨识模型对该第一表面特征图像进行一瑕疵辨识程序，从而确定该第一表面特征图像之中是否含有至少一瑕疵；以及一第一表面形貌建立单元，利用一表面形貌建立演算法而依据该第一表面特征图像完成一第一表面形貌图的建立。
9.如权利要求8所述的箔状物的表面检验系统，其特征在于，一第二影像处理装置设置在该第二容置体之内以耦接该第二摄像机，且具有：一第二特征处理单元，其中，在该箔状物进入/离开该箱体的过程中，该第二摄像机自该箔状物的该第二表面取得一第二表面影像，接着该第二特征处理单元对所述第二表面影像进行所述特征萃取处理，获得一第二表面特征图像；一第二瑕疵辨识单元，利用所述瑕疵辨识模型对该第二表面特征图像进行所述瑕疵辨识程序，从而确定该第二表面特征图像之中是否含有至少...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙逢佐，叶怡婷，孙逢佑，洪祥恩，周博翰，张惠普，陈允毅，黄俊堂，
申请(专利权)人：孙逢佐叶怡婷孙逢佑，
类型：发明
国别省市：