一种具有定位功能的样品台制造技术

本实用新型专利技术公开了一种具有定位功能的样品台，涉及扫描电镜观测样品技术领域，针对目前用扫描电镜SEM观测样品时，对于样品中的细微颗粒在第一次观测完取出样品后，再次用扫描电镜观测这个样品时，无法快速、准确的在样品上找到之前所观测的那个细微颗粒，造成很多实验结果难以复核，使用效果不够理想的问题，现提出如下方案，包括扫描电镜底座，所述扫描电镜底座的顶侧开设有插孔，所述扫描电镜底座的顶侧设有样品台，所述样品台的底侧固定设置有插杆。本实用新型专利技术设计合理，将样品粘贴在导电胶片上，通过X轴与Y轴辅助判断，可以快速、准确的在样品上找到之前所观测的那个细微颗粒，便于对实验结果进行复核，使用效果好。使用效果好。使用效果好。

【技术实现步骤摘要】
一种具有定位功能的样品台


[0001]本技术涉及扫描电镜观测样品
，尤其涉及一种具有定位功能的样品台。

技术介绍

[0002]扫描电镜SEM即扫描电子显微镜，是一种用于电子与通信技术学科领域的仪器。扫描电镜SEM具备观察纳米材料、进行材料断口的分析、直接观察大试样的原始表面、观察厚试样与进行从高倍到低倍的连续观察等功能，已被广泛应用于生命科学、物理学、化学、司法、地球科学、材料学以及工业生产等领域的微观研究，是一种多功能的仪器、具有很多优越的性能、是用途最为广泛的一种仪器。
[0003]但是，目前用扫描电镜SEM观测样品时，对于样品中的细微颗粒在第一次观测完取出样品后，再次用扫描电镜观测这个样品时，无法快速、准确的在样品上找到之前所观测的那个细微颗粒，造成很多实验结果难以复核，使用效果不够理想。

技术实现思路

[0004]本技术的目的是为了解决目前用扫描电镜SEM观测样品时，对于样品中的细微颗粒在第一次观测完取出样品后，再次用扫描电镜观测这个样品时，无法快速、准确的在样品上找到之前所观测的那个细微颗粒，造成很多实验结果难以复核，使用效果不够理想的缺点，而提出的一种具有定位功能的样品台。
[0005]为了实现上述目的，本技术采用了如下技术方案：
[0006]一种具有定位功能的样品台，包括扫描电镜底座，所述扫描电镜底座的顶侧开设有插孔，所述扫描电镜底座的顶侧设有样品台，所述样品台的底侧固定设置有插杆，所述插杆卡装在所述插孔内，所述扫描电镜底座的顶侧开设有定位槽，所述样品台的底侧固定设置有定位针，所述定位针位于所述定位槽内，所述样品台的顶侧粘贴有导电胶片。
[0007]在一个优选的实施方式中，所述扫描电镜底座的顶侧设有X轴与Y轴，所述X轴与所述Y轴为垂直设置。
[0008]本技术中，所述的一种具有定位功能的样品台，将插杆插在插孔内，定位针位于定位槽内对样品台进行定位，将导电胶片粘贴在样品台上，再将样品粘在导电胶片上，样品台和扫描电镜底座就嵌入了同一个由X轴和Y轴形成的定位坐标系中，在扫描电镜SEM观测样品时，通过X轴与Y轴坐标系统，标定出样品内某细微颗粒(微米或纳米级)的具体X轴Y轴坐标值，观测完取出样品后，要再次在扫描电镜SEM下观测该样品时，按上述方法将粘有该样品的样品台底侧的插杆插入插孔内，输入某细微颗粒之前所标记的X轴Y轴坐标值，就可以快速、准确的找到这个细微颗粒；
[0009]本技术设计合理，将样品粘贴在导电胶片上，通过X轴与Y轴辅助判断，可以快速、准确的在样品上找到之前所观测的那个细微颗粒，便于对实验结果进行复核，使用效果好。
附图说明
[0010]图1为本技术提出的一种具有定位功能的样品台的立体结构示意图；
[0011]图2为本技术提出的一种具有定位功能的样品台的主视的剖视结构示意图。
[0012]图中：1、扫描电镜底座；2、插孔；3、样品台；4、插杆；5、定位槽；6、定位针；7、导电胶片。
具体实施方式
[0013]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。
[0014]参照图1
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2，本方案提供的一种实施例：一种具有定位功能的样品台，包括扫描电镜底座1，扫描电镜底座1的顶侧开设有插孔2，扫描电镜底座1的顶侧设有样品台3，样品台3的底侧固定设置有插杆4，插杆4卡装在插孔2内，扫描电镜底座1的顶侧开设有定位槽5，样品台3的底侧固定设置有定位针6，定位针6位于定位槽5内，样品台3的顶侧粘贴有导电胶片7。
[0015]参照图1，本实施例中，扫描电镜底座1的顶侧设有X轴与Y轴，X轴与Y轴为垂直设置，便于定位使用。
[0016]工作原理，样品在扫描电镜下观测前，将插杆4插在插孔2内，定位针6位于定位槽5内对样品台3进行定位，将导电胶片7粘贴在样品台3上，再将样品粘在导电胶片7上，样品台3和扫描电镜底座1就嵌入了同一个由X轴和Y轴形成的定位坐标系中，在扫描电镜SEM观测样品时，通过X轴与Y轴坐标系统，标定出样品内某细微颗粒(微米或纳米级)的具体X轴Y轴坐标值，观测完取出样品后，要再次在扫描电镜SEM下观测该样品时，按上述方法将粘有该样品的样品台3底侧的插杆4插入插孔2内，输入某细微颗粒之前所标记的X轴Y轴坐标值，就可以快速、准确的找到这个细微颗粒。
[0017]在本技术的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的设备或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。
[0018]此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本技术的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。
[0019]以上公开的本技术优选实施例只是用于帮助阐述本技术。优选实施例并没有详尽叙述所有的细节，也不限制该技术仅为所述的具体实施方式。显然，根据本说明书的内容，可作很多的修改和变化。本说明书选取并具体描述这些实施例，是为了更好地解释本技术的原理和实际应用，从而使所属
技术人员能很好地理解和利用本技术。本技术仅受权利要求书及其全部范围和等效物的限制。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种具有定位功能的样品台，其特征在于，包括：扫描电镜底座(1)，所述扫描电镜底座(1)的顶侧开设有插孔(2)，所述扫描电镜底座(1)的顶侧设有样品台(3)，所述样品台(3)的底侧固定设置有插杆(4)，所述插杆(4)卡装在所述插孔(2)内，所述扫描电镜底座(1)的顶侧开设有定位槽(...

【专利技术属性】
技术研发人员：胡孙林，周润，陈秋平，莫玉叶，
申请(专利权)人：广州竞赢科学仪器有限公司，
类型：新型
国别省市：