电光装置及电子设备制造方法及图纸

本发明专利技术提供电光装置以及电子设备。在电光装置的检查时进行可靠的 检查。在电光装置中，在基板10上的多个检查端子103中，关于输出检查 信号Cx1～Cx8、YEPR及YEPL的一部分检查端子103o及103y，以下述方 式进行排列，该方式为：分别与分别被输入预定频率的时钟信号CLX及反 相时钟信号CLXB以及传送开始脉冲DX的其他检查端子103i的各自相互不 相邻。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及如液晶装置等的电光装置及具备该电光装置的如液晶投影 机等电子设备的

技术介绍
就这种电光装置而言，在基H上形成多个像素部，并且设置用来驱动 多个像素部的驱动电路以及该电光装置的检查所使用的检查电路等。再者， 在基板上，还设置用来输入输出驱动电路等中的各种信号的多个端子(例 如参见专利文献1)。在多个端子中，包括电光装置的检查时输入输出驱 动电路、检查电路中的输入输出信号的检查端子，根据从检查端子输出的 输出信号进行检查。专利文献l : 特开2007-79541号公报在上述那种电光装置中，若伴随小型化，多个端子，特别是检查端子 的排列间距进行了窄间距化，则存在用来在检查时将输入输出信号对检查 端子输入输出的探针针头在相互相邻的检查端子处接近或者接近而接触的 不良状况。这种情况下，若相对于将输出信号输出的一个检查端子，相邻 配置了输入输出比较高频的输入输出信号的其他检查端子，则因上述针头 的接触或者接近，而产生高频信号的波形被混入输出信号的波形中的不佳 状况，导致发生难以可靠地进行检查的问题。
技术实现思路
本专利技术例如是鉴于上述问题而做出的，其目的为，提供能够在检查时 进行可靠的检查并且易于小型化的电光装置及具备那种电光装置的电子设 备。本专利技术的电光装置为了解决上述问题，其特征为，具备多个 像素部，排列于该基板上；驱动电路，驱动上述多个像素部；检查电路， 设置于上g板上，执行与由上述驱动电路做出的上述多个像素部驱动相 关的检查；以及多个检查端子，设置于上述J41上，当进行上述检查时， 分别输入输出上述检查电路及上述驱动电路的输入输出信号；上迷多个检 查端子以下述方式进行排列，该方式为使作为上述输入输出信号输出上 述检查所需的输出信号的一部分检查端子与作为上述输入输出信号输入输 出预定频率的输入输出信号的其他检查端子相互不相邻。根据本专利技术的电光装置，由于在其驱动时由驱动电路来驱动多个像素 部，因而图像显示工作典型的是以有源矩阵驱动方式进行。本专利技术的电光装置设置有用来对于由这种驱动电路做出的像素部的驱 动进行检查的检查电路,对多个检查端子输入输出用来进行该检查的各种 输入输出信号。例如，对多个检查端子，作为输入信号输入用来使之驱动 检查电路的信号(下述的时钟信号、起动信号等)，作为输出信号从检查 电路、驱动电路输出为了检查所生成的信号。根据从检查电路、驱动电路 输出给检查端子的信号，执行与由驱动电路做出的像素部的驱动有关的检 查。还有，检查电路及多个检查端子与多个像素部设置于相同的14l上， 并且在和它们相同的基板上，驱动电路至少被部分设置。多个检查端子在14l上沿着基tl的至少一边进行排列。在本专利技术中， 多个检查端子之中，如上所述输出检查所需的输出信号的一部分检查端子 以下述方式进行排列，该方式为分别与输入输出预定频率的输入输出信 号的其他检查端子不相邻。这里，所谓"预定频率的输入输出信号"指的是， 对检查端子输入的输入信号及输出信号，并且是取高电位电平("H电平") 及比高电位电平低的低电位电平("L电平")的2值电平，也就是说按H 电平及L电平的任一个、电位周期性变动的信号。具体而言，将输出信号输出的一部分检查端子以下述方式进行排列，该方式为分别与输入预定频率的输入信号的其他检查端子不相邻。因而， 可以使一部分检查端子分别与其他的检查端子离开，进行配置。这里，在"预定频率的输入信号"例如是用来驱动检查电路的时钟信号等的高频信号时，若相对于一部分检查端子而言，输入该时钟信号的其他检查端子相邻，则存在因端子间或者检查探针间电或电磁的相互作用等，而在一部分检查端子中由检查探针进行检测的信号中，高频的时钟信号等的波形易于作为噪声混入的趋势。根据本专利技术，可以使一部分的检查端子与其他的检查端子离开，进行配置，防止用来检测来自 一部分检查端子的输出信号的检查探针和用来给其他检查端子输入预定频率的输入信号的检查探针接近或者接近而接触。从而，能够防止在一部分检查端子中所检测的输出信号中，对其他检查端子输入的预定频率的输入信号的波形作为噪声被混入。同样，将输出信号输出的一部分检查端子以下述方式进行排列，该方式为分别与输出预定频率的输出信号的其他检查端子不相邻。这种情况下，可以对于一部分检查端子，防止用来分别检测一个检查端子的输出信号和其他检查端子的预定频率的输出信号的检查探针相互接近或者接近而接触。从而，能够对于一部分检查端子的各自，防止在被检测的输出信号中，从其他检查端子输出的预定频率的输出信号的波形作为噪声被混入。从而，根据上面所说明的电光装置，即便伴随小型化，多个检查端子的排列间距被窄间距化，也可以根据来自一部分检查端子的输出信号，可靠地进行检查。在本专利技术的电光装置的一个方式中，上述一部分检查端子以下述方式进4亍排列，该方式为分别与作为上述输入输出信号被输入时钟信号的上述其他检查端子相互不相邻。根据该方式，时钟信号规定检查电路、驱动电路中检查时的驱动频率，作为比较高频的信号对其他的检查端子进行输入。在该方式中，可以使输出检查所需的输出信号的一部分检查端子和被输入时钟信号的其他检查端子离开，进行配置，防止一部分检查端子的检查探针和其他检查端子的检查探针接近或者接近而接触。从而，能够防止在一部分检查端子所检测的输出信号中，对其他检查端子输入的比较高频的时钟信号的波形作为噪声被混入。在该对其他检查端子输入时钟信号的方式中，进而，上述检查电路根据上述时钟信号依次传送作为上述输入输出信号被输入的起动信号，上述一部分检查端子以下述方式进行排列，该方式为分别与被输入上^动信号的上述其他检查端子相互不相邻。根据该方式，作为用来驱动检查电路的信号，对其他的检查端子输入时钟信号及起动信号。起动信号是电位周期性(例如下面详细所述按1水平期间)从L电平变动为H电平的信号，作为比时钟信号低频的信号进行输入。在该方式中，除了时钟信号之外，对于被输入起动信号的其他检查端子，也可以使^目对于输出检查所需的输出信号的一部分检查端子离开，进4亍配置。从而，与关于上述的时钟信号的情况相同地，能够防止在一部分检查端子所检测的输出信号中，起动信号的波形作为噪声被混入。在本专利技术的电光装置的其他方式中，上述一部分检查端子分别在其和上述其他检查端子之间，夹着上述多个检查端子之中的输入输出预定电位的上述输入输出信号的上述检查端子，进行排列。根据该方式，作为预定电位的输入输出信号，例如用来驱动检查电路、驱动电路的电源等在检查时对检查端子进行输入。由于夹着这种检查端子，输出检查所需的输出信号的一部分检查端子分别相对于输入输出预定频率的信号的其他检查端子进行排列，因而能够对于一部分检查端子的各自，利用该检查端子(也就是供给电源等的检查端子)屏蔽其和其他检查端子之间电石兹或电的相互作用。从而，根据该方式，能够更为可靠地防止在一部分的检查端子所检测的输出信号中，对其他检查端子输入输出的预定频率的信号的波形作为噪声被混入。在本专利技术的电光装置的其他方式中，在通过将包括多个上述^L的大型J41截断来进行制造、并且在上述大型J41上相互相邻的上述a中配置为， 一方的上述一部分检查端子各自与另一方的上述其他检查端子相互不相邻。根据该方式，当制造电本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电光装置，其特征为，　具备：　基板；　多个像素部，其排列于该基板上；　驱动电路，其驱动上述多个像素部；　检查电路，其设置于上述基板上，执行与由上述驱动电路进行的上述多个像素部的驱动相关的检查；以及　多 个检查端子，其设置于上述基板上，当进行上述检查时，分别输入输出上述检查电路及上述驱动电路的输入输出信号；　上述多个检查端子以下述方式进行排列，该方式为：作为上述输入输出信号输出上述检查所需的输出信号的一部分检查端子、与作为上述输入输出 信号输入输出预定频率的输入输出信号的其他检查端子，相互不相邻。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：吉井荣仁，
申请(专利权)人：精工爱普生株式会社，
类型：发明
国别省市：JP