光盘及光盘装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种在光盘上形成区域的方法。在从光入射侧观察位于里侧的第一信息记录层，设置再生专用的控制数据区域（３０４ａ）、第一测试区域（３０６ａ）、以及第二测试区域（３１５ａ），在位于跟前侧的第二信息记录层，在控制数据区域（３０４ａ）的对面的位置设置第三测试区域（３０４ｂ），在第二测试区域（３１５ａ）的对面的位置设置第四测试区域（３１５ｂ）。这样，在可记录的两层光盘中，在哪一层都可实现精度优良的记录学习。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及具有两个信息记录层并在各层具有测试区域的光盘。另 外，本专利技术还涉及对所述光盘进行记录的光盘装置。测试区域用于调整驱 动的各种条件、例如用于学习记录条件。
技术介绍
近年来，随着光盘的高密度化、大容量化的不断发展，确保光盘的可 靠性变得尤为重要。为了确保该可靠性，在对这种光盘进行记录或再生的 光盘装置中，进行记录学习来求得对光盘进行的记录再生条件(参照专利 文献1)。记录学习是指，使与照射到光盘上的激光脉冲相关的脉冲条件最佳的 动作。脉冲条件是指，例如包括与记录时照射到光盘上的激光脉冲的功率 值、或者激光脉冲的产生时序及长度等相关的条件。另外，正盛行如下的技术的开发相对于记录再生用的光束，在位于 跟前侧的位置还配置半透明的信息记录层，使其和里侧的信息记录层构成 两层，使记录容量倍增。即使是这样的两层光盘也需要记录学习，分别在相对于光束位于跟前侧的层(称作L1层)和里侧的层(称作L0层)，在 记录数据之前进行记录条件的学习(参照专利文献2)。但是，在以往的记录学习中，有可能会出现无法在L0层提取最佳的 记录条件的现象。具体而言，在记录学习中，还^^虑以比适于记录数据的 记录功率(设为Pwol)高很多的测试记录功率来记录测试信号。因此认 为即使是在记录功率Pwol的条件下L1层的记录的有无不会对LO层的 记录品质带来影响的光盘，在上述那样的测试记录功率下，光束通过Ll层时受到强度变化等的影响，得不到L0层的记录功率的最佳值(设为PwoO)专利文献1:特开2001—338422号公报 专利文献2:特开2000—311346号公报
技术实现思路
本专利技术鉴于上述问题而实现，目的在于提供一种光盘装置，在具有两 层可记录的信息记录层的光盘中，任一层都可以实现精度优良的记录学 习。本专利技术的另一个目的在于提供一种利用所述光盘进行记录学习的光盘装置。本专利技术的在光盘上形成区域的方法中，所述光盘具有基板、第一信息 记录层、空白层、第二信息记录层以及光透过层，在所述第一信息记录层 中形成预先记录有控制数据的读出专用的控制数据区域；位于所述控制 数据区域的外周的第一测试区域；和位于所述第一测试区域的外周的第二 测试区域，在所述第二信息记录层中至少形成位于所述控制数据区域的 半径位置的第三测试区域；和位于所述第二测试区域的半径位置的第四测 试区域。本专利技术的光盘是可以记录用户数据，且具有记录再生用光的光入射面 相同的第一和第二两个信息记录层的光盘。第一信息记录层至少包括用 于调整驱动的各种条件的位于内周的第一测试区域、用于调整驱动的各种 条件的位于外周的第二测试区域、和用于记录用户数据的第一数据记录区 域。第二信息记录层至少包括用于调整驱动的各种条件的位于内周的第 三测试区域、用于调整驱动的各种条件的位于外周的第四测试区域、和用 于记录用户数据的第二数据记录区域。第一测试区域和第三测试区域被配 置在相互不重合的半径位置。第二测试区域和第四测试区域被配置在相互 大致相同的半径位置。由此，达到上述目的。这里，例如，第一信息记录层是离光入射面远的一侧的层，第二信息 记录层是离光入射面近的一侧的层。第一测试区域和第三测试区域可以是 用于学习内周的记录条件的区域。第二测试区域和第四测试区域可以是用 于学习外周的记录条件的区域。还可以具有下述特征第一信息记录层至少包括读出专用的控制数据 区域，在控制数据区域的对面的位置，配置第三测试区域。还可以具有下述特征控制数据区域通过压纹状的凹坑、波动凹槽、 或波动凹坑，预先记录控制数据。还可以具有下述特征在第一信息记录层中，从内周侧开始按照顺序 至少形成有控制数据区域、第一测试区域、用于记录用户数据的第一数据 记录区域；在第二信息记录层中，从内周侧开始按照顺序至少形成有第三 测试区域、用于记录用户数据的第二数据记录区域。还可以具有下述特征第一测试区域的最内周的半径R1和第三测试 区域的最外周的半径R2之间的差，在第一信息记录层的轨道的偏心量和 第二信息记录层的轨道的偏心量之和以上。还可以具有下述特征将与第一信息记录层的轨道的偏心量和第二信 息记录层的轨道的偏心量之和相当的距离、和读出光被汇聚于第一信息记 录层时第二信息记录层中的读出光的光束半径相加而得到一距离，半径 Rl和半径R2之间的差在所得到的距离以上。还可以具有下述特征将与第一信息记录层的轨道的偏心量和第二信 息记录层的轨道的偏心量之和相当的距离、和第一信息记录层的轨道始端 的半径位置公差与第二信息记录层的轨道始端的半径位置公差之和相加而得到一距离，半径R1和半径R2之间的差在所得到的距离以上。还可以具有下述特征从光入射面至第一信息记录层的距离，与具有 单一的信息记录层的光盘中的、光入射面与单一的信息记录层之间的距离 相等。还可以具有下述特征控制数据是与第一信息记录层相关的控制数 据，和与第二信息记录层相关的控制数据。还可以具有下述特征从内周侧向外周侧或从外周侧向内周侧连续地 进行向测试区域的写入。还可以具有下述特征数据的写入从第一信息记录层向第二信息记录 层连续地进行，第一信息记录层是相对于光入射面在里侧的层，第二信息 记录层是相对于光入射面在跟前侧的层。另外本专利技术的光盘装置，是用于对光盘进行记录的光盘装置，包括光头、光头驱动机构和控制机构。光头将光照射到光盘，并输出与来自光 盘的反射光相对应的信号。光头驱动机构根据规定的记录条件来驱动光 头。控制机构根据从光头输出的信号来控制光头驱动机构。控制机构在第 一测试区域和第三测试区域进行记录学习，确定对第一信息记录层和第二 信息记录层的每一个的最佳记录条件。 (专利技术效果)根据本专利技术的两层光盘，由于是第一测试区域和第三测试区域不重合 的结构，所以即使当因位于光入射侧跟前位置的信息记录层的记录状态使 得透过的光束的强度受到影响时，也可以在里侧的信息记录层进行适当的 记录学习。另外，由于是在数据记录区域的外周设置第二测试区域和第四测试区 域，所以即使在外周也可以进行记录学习，能够遍及数据记录区域整个面 进行良好的记录。另外，由于是第二测试区域和第四测试区域重叠的结构，所以可以减 少数据记录区域的记录容量的縮小。附图说明图1是表示本专利技术实施方式一的光盘101的结构的示意图； 图2是表示本专利技术实施方式一的两层光盘的结构的图；. 图3是表示本专利技术实施方式一的两层光盘的区域结构的图； 图4是表示本专利技术实施方式一的光盘区域主要部分的半径位置关系的配置图5是表示轨道的偏心量与(R1—R2)的关系的图； 图6是表示轨道始端位置的公差与(R1—R2)的关系的图； 图7是表示激光的光束半径与(R1—R2)的关系的图； 图8是表示本专利技术实施方式二的光盘区域主要部分的半径位置关系的 配置图9是表示光盘装置的概要的框图； 图IO是对记录学习进行说明的流程图。图中101—光盘；102 —轨道；201—基板；202 —第一信息记录层；7203 —空白层；204 —第二信息记录层；205 —光透过层；304a—控制数据 区域；306a—第一测试区域；304b—第三测试区域；315a—第二测试区域； 315b —第四测试区域。具体实施例方式本专利技术的光盘在LO层和Ll层双方都具有测试区域，在成为基准面的 LO层具有压纹(本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种在光盘上形成区域的方法，所述光盘具有基板、第一信息记录层、空白层、第二信息记录层以及光透过层，　在所述第一信息记录层中形成：预先记录有控制数据的读出专用的控制数据区域；位于所述控制数据区域的外周的第一测试区域；和位于所述第一测试区域的外周的第二测试区域，　在所述第二信息记录层中至少形成：位于所述控制数据区域的半径位置的第三测试区域；和位于所述第二测试区域的半径位置的第四测试区域。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：石田隆，
申请(专利权)人：松下电器产业株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]