一种Sic绝缘栅双极晶体管测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种Sic绝缘栅双极晶体管测试装置，涉及电器检测技术领域，包括外壳和检测机构所述外壳的内部设有控制机构，所述外壳的顶端连接有检测机构，所述外壳的上侧设有播音器，所述器座的外侧均连接有防滑垫。本实用新型专利技术的有益效果是：一种Sic绝缘栅双极晶体管测试装置，通过设置检测机构，当需要对Sic绝缘栅双极晶体管进行检查时，先将断电盒内通电器内的断电片抽离，使电可以流通，断电片可以在无需使用时将电断开，使得通电器内部不向测试极点供电，防止因误触测试极点造成使用人员伤害，接着将双极晶体管放于测试框外的测试极点上，并且可根据距离不同使用不同的测试极点，最后将测试后的数据通过数据传输器向下输送。送。送。

【技术实现步骤摘要】
一种Sic绝缘栅双极晶体管测试装置


[0001]本技术涉及电器检测
，尤其涉及一种Sic绝缘栅双极晶体管测试装置。

技术介绍

[0002]双极晶体管是一种电流控制器件，可以参与器械导电，双极晶体管具有体积小，重量轻，耗电少，寿命长，可靠性高等特点，广泛应用于广播、电视、计算机等电子机械内，而双极晶体管因结构简单，无法单凭借肉眼进行观察晶体管是否损坏，故此需要一种Sic绝缘栅双极晶体管测试装置。
[0003]在双极晶体管使用前，因为无法确定晶体管是否有损坏，并且无法确定双极晶体管内的电容电阻数据，如无法测量具体数据，容易在安装后因为电容电阻不配对，造成电子器具的损坏，造成不必要的损失。

技术实现思路

[0004]本技术提供一种Sic绝缘栅双极晶体管测试装置，用来解决上述
技术介绍
中提到的在双极晶体管使用前，因为无法确定晶体管是否有损坏，并且无法确定双极晶体管内的电容电阻数据，如无法测量具体数据，容易在安装后因为电容电阻不配对，造成电子器具的损坏，造成不必要的损失的问题。
[0005]为实现上述目的，本技术提供如下技本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种Sic绝缘栅双极晶体管测试装置，包括外壳(1)和检测机构(3)，检测机构(3)包括数据传输器(301)、断电盒(302)、通电器(303)、断电片(304)、测试框(305)和测试极点(306)，其特征在于：所述外壳(1)的内部设有控制机构(2)，所述外壳(1)的顶端连接有检测机构(3)，所述外壳(1)的上侧设有播音器(4)，所述外壳(1)的外侧均连接有防滑垫(5)。2.根据权利要求1所述的一种Sic绝缘栅双极晶体管测试装置，其特征在于，所述控制机构(2)包括数据显示屏(201)、电池(202)、数据处理器(203)、芯片(204)、控制盘(205)、信息转换器(206)和控制触点(207)，所述外壳(1)上侧设有数据显示屏(201)，所述外壳(1)内侧设有电池(202)，所述电池(202)上侧连接有数据处理器(203)，所述数据处理器(203)上侧连接有芯片(204)，所述数据显示屏(201)下侧设有控制盘(205)，所述电池(202)下侧设有信息转换器(206)，所述信息转换器(206)上侧连接有控制触点(207)。3.根据权利要求2所述的一种Sic绝缘栅双极晶体管测试装置，其特征在于，所述数据显示屏(201)与外壳(1)之间为粘连连接...

【专利技术属性】
技术研发人员：周伟伟，张志，
申请(专利权)人：上海维攀微电子有限公司，
类型：新型
国别省市：