本实用新型专利技术提供一种IGBT测试装置，包括装置主体。一种IGBT测试装置，在使用时，装置主体前的智能触控数显屏可以进行智能控制检测测试情况，IGBT芯片放置在放置板上，硅胶夹块通过滑槽将IGBT芯片夹紧放置在正中央方便检测，伸缩柱从预埋桶中升高降低，调节高度方便超声扫描器进行扫描检测，对芯片进行厚度、尺寸面积以及气孔纹路等进行测试，然后IGBT芯片放置在IGBT芯片放置层进行动态特性测试，施压装置通过压力夹具对芯片进行压力测试，压力均衡装置保证压力均衡确保测试精确度，然后加热板进行加热对芯片进行热能测试，环氧树脂板控制热量的流动，减小芯片结温的误差，如果测试中出现故障，警示灯和蜂鸣器，发出警报，从而完成多功能测试，智能预警的作用。智能预警的作用。智能预警的作用。
【技术实现步骤摘要】
一种IGBT测试装置
[0001]本技术涉及半导体测试
，尤其涉及一种IGBT测试装置。
技术介绍
[0002]IGBT是由BJT(双极型三极管)和mos(绝缘栅型场效应管)组成的复合全控型电压驱动式功率半导体器件，兼有MOSFET的高输入阻抗和GTR的低导通压降两方面的优点，而被电子电路应用，在使用IGBT时通常会对其进行测试，故此，特别需要一种IGBT测试装置。
[0003]但是现有的一种IGBT测试装置，在进行使用时，大部分装置只进行单一测试，需要进行其他测试时，要转移到其他测试装置进行测试，而且在放置调整芯片位置大多数是人工操作，会出现一定误差，在进行压力测试时压力不均衡导致数据出现误差，同时热能测试过程中直接进行加热，芯片结温导致数据精确度下降。
技术实现思路
[0004]本技术的目的在于提供一种IGBT测试装置，以解决上述
技术介绍
中提出，在进行使用时，大部分装置只进行单一测试，需要进行其他测试时，要转移到其他测试装置进行测试，而且在放置调整芯片位置大多数是人工操作，会出现一定误差，在进行压力测试时压力不均衡导致数据出现误差，同时热能测试过程中直接进行加热，芯片结温导致数据精确度下降的问题。
[0005]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种IGBT测试装置，包括装置主体和多功能测试机构，多功能测试机构包括智能触控数显屏、移动轴、超声扫描器、伸缩底座、预埋桶、伸缩柱、放置板、滑槽、移动轮、硅胶夹块、动态特性测试底座、压力夹具、支撑杆、碟簧、环氧树脂板、加热板、IGBT芯片放置层、压力均衡装置、压力传感器、施压装置、警示灯和蜂鸣器，所述装置主体的前端连接有观察窗，所述装置主体的外侧内部设置有多功能测试机构。
[0006]优选的，所述多功能测试机构包括智能触控数显屏、移动轴、超声扫描器、伸缩底座、预埋桶、伸缩柱、放置板、滑槽、移动轮、硅胶夹块、动态特性测试底座、压力夹具、支撑杆、碟簧、环氧树脂板、加热板、IGBT芯片放置层、压力均衡装置、压力传感器、施压装置、警示灯和蜂鸣器，所述装置主体的前端卡槽连接有智能触控数显屏，所述装置主体的内部连接有移动轴，所述移动轴的外侧连接有超声扫描器，所述装置主体的内部设置有伸缩底座，所述伸缩底座的上方焊接有预埋桶，所述预埋桶的内部连接有伸缩柱，所述伸缩柱的上方连接有放置板，所述放置板的顶端开设有滑槽，所述滑槽的内部连接有移动轮，所述移动轮的上方连接有硅胶夹块，所述伸缩底座的一侧设置有动态特性测试底座，所述动态特性测试底座的上方设置有压力夹具，所述压力夹具的左右两端均连接有支撑杆，所述动态特性测试底座的上方连接有碟簧，所述碟簧的上方连接有环氧树脂板，所述环氧树脂板的上方连接有加热板，所述加热板的上方设置有IGBT芯片放置层，所述IGBT芯片放置层的上方设置有压力均衡装置，所述压力均衡装置的上方设置有压力传感器，所述压力夹具内侧连接
有施压装置，所述装置主体的顶端连接有警示灯，所述警示灯的一侧设置有蜂鸣器。
[0007]优选的，所述移动轴与超声扫描器之间为卡槽连接，所述移动轴与超声扫描器尺寸相匹配。
[0008]优选的，所述伸缩柱与预埋桶之间为卡槽连接，所述伸缩柱通过预埋桶与伸缩底座构成伸缩结构。
[0009]优选的，所述硅胶夹块与移动轮之间为螺钉连接，所述硅胶夹块通过滑槽与移动轮构成滑动结构。
[0010]优选的，所述压力夹具与支撑杆之间为卡槽连接，所述支撑杆设置为两组。
[0011]优选的，所述环氧树脂板与加热板之间为粘连连接，所述环氧树脂板与加热板紧密贴合。
[0012]与现有技术相比，本技术的有益效果是：该一种IGBT测试装置，通过智能触控数显屏、移动轴、超声扫描器、伸缩底座、预埋桶、伸缩柱、放置板、滑槽、移动轮、硅胶夹块、动态特性测试底座、压力夹具、支撑杆、碟簧、环氧树脂板、加热板、IGBT芯片放置层、压力均衡装置、压力传感器、施压装置、警示灯和蜂鸣器的设置，在使用时，装置主体前的智能触控数显屏可以进行智能控制，检测内部测试情况，IGBT芯片放置在放置板上，硅胶夹块通过滑槽将IGBT芯片夹紧放置在正中央方便检测，伸缩柱从预埋桶中升高降低，调节高度方便超声扫描器进行扫描检测，对芯片进行厚度、尺寸面积以及气孔纹路等进行测试，然后IGBT芯片放置在IGBT芯片放置层进行动态特性测试，施压装置通过压力夹具对芯片进行压力测试，压力均衡装置保证压力均衡确保测试精确度，然后加热板进行加热对芯片进行热能测试，环氧树脂板控制热量的流动，减小芯片结温的误差，如果测试中出现故障，警示灯和蜂鸣器，发出警报提醒操作人员，从而完成多功能测试，并进行测试辅助的作用。
附图说明
[0013]图1为本技术整体外观结构示意图；
[0014]图2为本技术动态测试器结构示意图；
[0015]图3为本技术伸缩夹紧结构示意图；
[0016]图4为本技术预警器结构示意图。
[0017]图中标号：1、装置主体；2、观察窗；3、多功能测试机构；301、智能触控数显屏；302、移动轴；303、超声扫描器；304、伸缩底座；305、预埋桶；306、伸缩柱；307、放置板；308、滑槽；309、移动轮；310、硅胶夹块；311、动态特性测试底座；312、压力夹具；313、支撑杆；314、碟簧；315、环氧树脂板；316、加热板；317、IGBT芯片放置层；318、压力均衡装置；319、压力传感器；320、施压装置；321、警示灯；322、蜂鸣器。
具体实施方式
[0018]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0019]请参阅图1
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4，本技术提供一种技术方案：一种IGBT测试装置，包括装置主体1
和多功能测试机构3，多功能测试机构3包括智能触控数显屏301、移动轴302、超声扫描器303、伸缩底座304、预埋桶305、伸缩柱306、放置板307、滑槽308、移动轮309、硅胶夹块310、动态特性测试底座311、压力夹具312、支撑杆313、碟簧314、环氧树脂板315、加热板316、IGBT芯片放置层317、压力均衡装置318、压力传感器319、施压装置320、警示灯321和蜂鸣器322，装置主体1的前端连接有观察窗2，装置主体1的外侧内部设置有多功能测试机构3。
[0020]进一步的，多功能测试机构3包括智能触控数显屏301、移动轴302、超声扫描器303、伸缩底座304、预埋桶305、伸缩柱306、放置板307、滑槽308、移动轮309、硅胶夹块310、动态特性测试底座311、压力夹具312、支撑杆313、碟簧314、环氧树脂板315、加热板316、IGBT芯片本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种IGBT测试装置，包括装置主体(1)和多功能测试机构(3)，多功能测试机构(3)包括智能触控数显屏(301)、移动轴(302)、超声扫描器(303)、伸缩底座(304)、预埋桶(305)、伸缩柱(306)、放置板(307)、滑槽(308)、移动轮(309)、硅胶夹块(310)、动态特性测试底座(311)、压力夹具(312)、支撑杆(313)、碟簧(314)、环氧树脂板(315)、加热板(316)、IGBT芯片放置层(317)、压力均衡装置(318)、压力传感器(319)、施压装置(320)、警示灯(321)和蜂鸣器(322)，其特征在于：所述装置主体(1)的前端连接有观察窗(2)，所述装置主体(1)的外侧内部设置有多功能测试机构(3)。2.根据权利要求1所述的一种IGBT测试装置，其特征在于，所述多功能测试机构(3)包括智能触控数显屏(301)、移动轴(302)、超声扫描器(303)、伸缩底座(304)、预埋桶(305)、伸缩柱(306)、放置板(307)、滑槽(308)、移动轮(309)、硅胶夹块(310)、动态特性测试底座(311)、压力夹具(312)、支撑杆(313)、碟簧(314)、环氧树脂板(315)、加热板(316)、IGBT芯片放置层(317)、压力均衡装置(318)、压力传感器(319)、施压装置(320)、警示灯(321)和蜂鸣器(322)，所述装置主体(1)的前端卡槽连接有智能触控数显屏(301)，所述装置主体(1)的内部连接有移动轴(302)，所述移动轴(302)的外侧连接有超声扫描器(303)，所述装置主体(1)的内部设置有伸缩底座(304)，所述伸缩底座(304)的上方焊接有预埋桶(305)，所述预埋桶(305)的内部连接有伸缩柱(306)，所述伸缩柱(306)的上方连接有放置板(307)，所述放置板(307)的顶端开设有滑槽(308)，所述滑槽(308)的内部连接...
【专利技术属性】
技术研发人员：周伟伟，张志，
申请(专利权)人：上海维攀微电子有限公司，
类型：新型
国别省市：
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