本实用新型专利技术公开了一种便于更换的IGBT模块测试装置，属于IGBT模块检测技术领域，包括基座，所述基座上设有夹持模组、定位板和探针板；所述定位板上开设有多个第一通孔和第二通孔，所述基座上固定连接有多个导柱，所述定位板外边缘处布设有与导柱数量一致的第三通孔，所述导柱通过第三通孔与定位板连接；所述探针板上设有多个探针，所述IGBT模块上的端子穿过第一通孔和第二通孔与探针接触进行电性能测试；所述探针底部连接有导线，所述探针板上的探针穿过基座通过导线电性连接于基座的插头；所述插头与外置电源连接；当遇到不同种类的IGBT模块进行电性能测试时，只需更换与待测IGBT模块型号相同的定位板和探针板即可，进一步增强了测试装置的适用性能。步增强了测试装置的适用性能。步增强了测试装置的适用性能。
【技术实现步骤摘要】
一种便于更换的IGBT模块测试装置
[0001]本技术属于IGBT模块检测
，具体涉及一种便于更换的IGBT模块测试装置。
技术介绍
[0002]绝缘栅双极型晶体管(Insulated Gate Bipolar Transistor, IGBT)是第三代电力电子器件中最具先进性的功率半导体器件，具有高频率、高电压、大电流等优点，是柔性交直流输电、新能源发电、电能质量治理等领域的核心器件，目前已在相关行业得到广泛应用。IGBT完成封装后需要对模块进行电性能测试，由于IGBT封装种类繁多，通常需要针对不同的电气结构和封装类型设计不同的测试夹具，这样才可以保证模块中每个芯片的电性能得到有效的评估；
[0003]目前都是采用一个IGBT模块采用一个测试装置的方式，一般工厂根据产品应用需求的不同，通常会设计生产几十上百款产品，大量的测试装置给日后的维护保养带来了巨大的工作量，影响检测工作效率。
技术实现思路
[0004]本技术的目的在于提供一种便于更换的IGBT模块测试装置，能够适应不同种类的IGBT模块进行电性能测试，进一步提升了IGBT模块测试装置的适用性能。
[0005]为了解决上述问题，本技术采用如下技术方案：一种便于更换的IGBT模块测试装置，包括基座，所述基座上设有用于压紧IGBT模块的夹持模组、定位板和探针板；所述定位板上开设有多个第一通孔和第二通孔，所述基座上固定连接有多个导柱，所述导柱弹性设置，所述定位板外边缘处布设有与导柱数量一致的第三通孔，所述导柱通过第三通孔与定位板连接；
[0006]所述定位板下方设置有探针板，所述探针板上设有多个探针，所述IGBT模块上的端子穿过第一通孔和第二通孔与探针接触进行电性能测试；所述探针底部连接有导线，所述探针板上的探针穿过基座通过导线电性连接于基座的插头,所述插头与外置电源连接。
[0007]优选的，所述探针板的两侧设有延伸板，所述探针包括信号探针和功率探针，所述信号探针设于探针板的面板上，且与第二通孔位置相互对应；所述功率探针设于延伸板上，且与第一通孔位置相互对应。
[0008]优选的，所述夹持模组包括沿基座竖直方向设置的安装板，所述安装板上设有肘夹，所述肘夹用于向下按压IGBT模块。
[0009]优选的，所述第一通孔和第二通孔孔径不一，所述第一通孔设置于定位板的两侧，所述第二通孔沿定位板的内侧边缘环绕设置。
[0010]优选的，所述导线上设有插孔，所述基座上设有与插孔相互匹配的插头，所述导线通过插孔连接至插头, 多个插头矩形阵列分布于所述基座的侧壁上。
[0011]优选的，所述插孔为香蕉插孔，所述插孔的直径小于或者等于4mm。
[0012]与现有技术相比，本技术所达到的有益效果是：
[0013]本技术在基座上设有用于压紧IGBT模块的夹持模组、定位板和探针板；所述定位板上开设有多个第一通孔和第二通孔，所述基座上固定连接有多个导柱，所述导柱弹性设置，所述定位板外边缘处布设有与导柱数量一致的第三通孔，所述导柱通过第三通孔与定位板连接；所述定位板下方设置有探针板，所述探针板上设有多个探针，所述IGBT模块上的端子穿过第一通孔和第二通孔与探针接触进行电性能测试；所述探针底部连接有导线，所述探针板上的探针穿过基座通过导线电性连接于基座的插头,所述插头与外置电源连接；当遇到不同种类的IGBT模块进行电性能测试时，便于根据需求更换定位板和探针板即可，增加了测试装置的适用性能，在提高测试效率的同时也节省了工装物料成本。
附图说明
[0014]图1是本技术实施例提供的一种一种便于更换的IGBT模块测试装置结构示意图；
[0015]图2是本技术实施例提供的定位板示意图；
[0016]图3是本技术实施例提供的探针板结构示意图；
[0017]图4是本技术实施例提供的插头结构示意图；
[0018]图中：1
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基座；2
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夹持模组；21
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安装板；22
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肘夹；3
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定位板；31
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导柱；32
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第一通孔；33
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第二通孔；34
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第三通孔；4
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探针板；41
‑
延伸板；42
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信号探针；43
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功率探针；5
‑
导线；6
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插孔；7
‑
插头。
具体实施方式
[0019]下面结合附图对本技术作进一步描述，以下实施例仅用于更加清楚地说明本技术的技术方案，而不能以此来限制本技术的保护范围。
[0020]在本技术的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、
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底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。
[0021]此外，在本技术的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。
[0022]在本技术的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以通过具体情况理解上述术语在本技术中的具体含义。
[0023]如图1所示，本技术实施例提供一种便于更换的IGBT模块测试装置，包括基座1，所述基座1上设有用于夹持IGBT模块的夹持模组2，定位板3和探针板4；所述夹持模组2包括沿基座竖直方向设置的安装板21，所述安装板21上设有肘夹22，所述肘夹22用于向下按压IGBT模块，将IGBT模块与探针板4接触；
[0024]如图2所示，所述定位板3与安装板21垂直，所述定位板3用于装载IGBT模块，所述
基座1上固定连接有多个导柱31，所述导柱31与定位板3连接；所述导柱31弹性设置，使肘夹22下压时保持压紧力，所述定位板3外边缘处布设有多个第三通孔34，所述导柱31通过第三通孔34与定位板3固定连接，当需要更换定位板3时，将定位板3套设于导向柱31上即可；所述定位板3上开设有多个第一通孔32和第二通孔33，所述第一通孔32和第二通孔33孔径不一，本实施例中，所述第一通孔32设置于定位板3的两侧，所述第二通孔33沿定位板3的内侧边缘环绕设置；
[0025]如图3所示，所述定位板3下方设置有探针板4，所述探针板4的两侧设有延伸板41，所述探针板4上设有多个探本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种便于更换的IGBT模块测试装置，其特征在于，包括基座（1），所述基座（1）上设有用于压紧IGBT模块的夹持模组（2）、定位板（3）和探针板（4）；所述定位板（3）上开设有多个第一通孔（32）和第二通孔（33），所述基座（1）上固定连接有多个导柱（31），所述导柱（31）弹性设置，所述定位板（3）外边缘处布设有与导柱（31）数量一致的第三通孔（34），所述导柱（31）通过第三通孔（34）与定位板（3）连接；所述定位板（3）下方设置有探针板（4），所述探针板（4）上设有多个探针， IGBT模块上的端子穿过第一通孔（32）和第二通孔（33）与探针接触进行电性能测试；所述探针底部连接有导线（5），所述探针板（4）上的探针穿过基座（1）通过导线（5）电性连接于基座（1）的插头（7）；所述插头（7）与外置电源连接。2.根据权利要求1所述的一种便于更换的IGBT模块测试装置，其特征在于，所述探针板（4）的两侧设有延伸板（41），所述探针包括信号探针（42）和功率探针（43），所述信号探针（42）设于探针板（...
【专利技术属性】
技术研发人员：臧传龙，姚晨阳，苗硕，
申请(专利权)人：南瑞联研半导体有限责任公司，
类型：新型
国别省市：
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