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一种Sic绝缘栅双极晶体管测试装置制造方法及图纸
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文档序号:37491040
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本实用新型公开了一种Sic绝缘栅双极晶体管测试装置,涉及电器检测技术领域,包括外壳和检测机构所述外壳的内部设有控制机构,所述外壳的顶端连接有检测机构,所述外壳的上侧设有播音器,所述器座的外侧均连接有防滑垫。本实用新型的有益效果是:一种Sic...
该专利属于上海维攀微电子有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过上海维攀微电子有限公司授权不得商用。
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