【技术实现步骤摘要】
一种沾锡测试装置
[0001]本技术涉及半导体封装测试
,具体地说是一种沾锡测试装置。
技术介绍
[0002]半导体封装电镀站点需要定期做沾锡测试,以确保元器件的可焊性,沾锡测试的方法如下:1.成型后的样品放入蒸汽老化试验机,蒸煮烘干后需在2小时内完成沾锡测试。2.在室温下将样品引脚全部浸入助焊剂5
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10s,样品移出助焊剂在空中停留5
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20s晾干;3.熔锡炉打开,使用不锈钢镊子夹住样品,将样品的引脚浸入熔锡炉内,时间停留4.5
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5.5s;4.浸锡完成后,将样品至常温环境下冷却,然后浸入装有异丙酮的烧杯,清除残留的助焊剂,在10
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40倍显微镜下检查沾锡质量,要求95%以上引脚面积被锡覆盖且分布均匀。
[0003]目前的沾锡测试中,全部为人工操作,半导体芯片引脚表面在作业过程中有污染的风险,影响测试的准确性。并且测试样品沾锡测试的浸入时间使用计时器计时,浸入深度,角度使用人工目视判定,若有误差,影响测试的精度和准确性,需要返工再次测试,作业效率低。另外,在人工夹取样品时,熔锡炉的高温环境有烫伤工作人员的风险。
技术实现思路
[0004]本技术为克服现有技术的不足,提供一种沾锡测试装置。
[0005]为实现上述目的,设计一种沾锡测试装置,包括工作台,其特征在于:所述的工作台上端一侧设有左右移动模组,左右移动模组一侧连接升降模组,升降模组一侧连接夹取机构,位于夹取机构下方一侧设有熔锡炉,熔锡炉一侧设有试剂承载 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种沾锡测试装置,包括工作台,其特征在于:所述的工作台(1)上端一侧设有左右移动模组(2),左右移动模组(2)一侧连接升降模组(3),升降模组(3)一侧连接夹取机构(4),位于夹取机构(4)下方一侧设有熔锡炉(5),熔锡炉(5)一侧设有试剂承载盒(6),试剂承载盒(6)一侧设有样品载具(7),样品载具(7)上端设有插槽(7
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1)。2.根据权利要求1所述的一种沾锡测试装置,其特征在于:所述的工作台(1)与左右移动模组(2)之间通过支撑板(8)连接。3.根据权利要求1所述的一种沾锡测试装置,其特征在于:所述的试剂承载盒(6)包括异丙酮承载盒(6
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1)、助焊剂承载盒(6
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2),熔锡炉(5)一侧设有异丙...
【专利技术属性】
技术研发人员:杨杰,朱国华,吴小进,程晋红,张洪波,
申请(专利权)人:紫光宏茂微电子上海有限公司,
类型:新型
国别省市:
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