双边联动倾斜接触结构制造技术

本实用新型专利技术涉及芯片测试技术领域，具体涉及双边联动倾斜接触结构，包括底座、安装架、驱动机构和测试针座；安装架一侧固定安装于底座上端，且安装架与底座之间形成5

【技术实现步骤摘要】
双边联动倾斜接触结构


[0001]本技术涉及芯片测试
，具体涉及双边联动倾斜接触结构。

技术介绍

[0002]随着集成电路技术的不断发展，使得电子产品体积越来越小型化，不仅方便人们携带，也具有强大的运算处理功能。芯片在生产时，需要经过多道繁杂的手续，成品制作完成后，进一步地需将特定功能的程序数据烧录到芯片中，以使芯片能实现特定的功能，芯片出厂前的烧录测试已经成为生产的必须步骤，现有的芯片生产均存在以下问题：
[0003]1.现有的测试为手工测试，每次测试一个产品，效率低下；
[0004]2.需要定期对测试设备进行人工检查校正，需专人处理，人员要求较多；
[0005]3.采用手工记录数据，易出错，数据保存不方便，不利于事后追溯。

技术实现思路

[0006]本技术针对现有技术存在的上述问题，提供了双边联动倾斜接触结构，利用倾斜方式来测试芯片，更加方便对位调节，且倾斜方式使探针角度更稳定接触此芯片引脚，提高效率。
[0007]本技术的基本方案为：双边联动倾斜接触结构，包括底座、安装架、驱动机构和测试针座；
[0008]所述安装架一侧固定安装于底座上端，且所述安装架与底座之间形成5
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20
°
的夹角；
[0009]所述测试针座通过驱动机构安装于安装架上端另一侧；
[0010]所述测试针座包括联动连接的第一斜探针针座和第二斜探针针座，所述第一斜探针针座安装于安装架上，且所述第一斜探针针座与安装架平行，所述第一斜探针针座和第二斜探针针座通过联动板连接；
[0011]所述第一斜探针针座底部设有第一探针，所述第二斜探针针座底部设有第二探针，且所述第一探针与第二探针呈镜像对称，且所述第一探针与第二探针的底部处于同一水平面上。
[0012]进一步，所述第一斜探针针座包括第一针座安装板、第一滑块和第一滑轨，所述第一滑轨呈纵向安装于安装架上，所述第一针座安装板通过第一滑块与该第一滑轨滑动连接，所述第一探针安装于第一针座安装板上；
[0013]所述第二斜探针针座包括固定板、第二针座安装板、第二滑块、第二滑轨；所述第二针座安装板一侧通过联动板与第一针座安装板的同侧连接，所述固定板通过调节板与安装架固定连接，所述第二滑轨呈纵向固定安装于固定板上，所述第二针座安装板通过第二滑块与第二滑轨滑动连接，且所述第二探针安装于第二针座安装板上。
[0014]进一步，所述安装架上开有纵向条状通孔，所述第一斜探针针座一侧固定连接有传递块，该所述传递块穿过该纵向条状通孔与驱动机构连接。
[0015]进一步，所述驱动机构包括压测电机和螺旋轴，所述压测电机滑动安装于安装架上，所述压测电机与螺旋轴连接，通过螺旋轴调节压测电机的高度，所述螺旋轴下端与传递块固定连接。
[0016]进一步，所述压测电机上设有高度调节旋钮，所述高度调节旋钮与螺旋轴的顶端固定连接，所述高度调节旋钮调节压测电机在安装架上的安装高度，所述高度调节旋钮上安装有调节手柄。
[0017]进一步，所述第二针座安装板的底部还设有水平调节螺丝，该水平调节螺丝水平穿过第二针座安装板和第二滑块，用于调节第二针座安装板与第一针座安装板的水平错位。
[0018]进一步，所述第一探针包括多个测试探针，且所述多个测试探针呈水平间隔均匀的安装于第一针座安装板上。
[0019]进一步，所述第二探针包括多个测试探针，且所述多个测试探针呈水平间隔均匀的安装于第二针座安装板上。
[0020]进一步，所述第一探针与第二探针的测试端相对于第一针座安装板或第二针座安装板的底部长度伸出10mm。
[0021]本技术的工作原理及优点在于：安装架与底座之间形成5
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20
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的夹角，并且底座与测试针座分别安装于安装架的两侧，即通过底座进行底部的稳定与安装，也通过两侧设计对两侧的重力进行均衡，避免安装架一侧过重，并且采用了倾斜方式来测试芯片，相对于现有设计，更方便在测试时查看芯片引脚与探针的接触，方便对位调节，提升测试精度，使探针角度更稳定接触此芯片引脚，提高效率。
附图说明
[0022]图1为本技术双边联动倾斜接触结构的立体结构示意图；
[0023]图2为本技术双边联动倾斜接触结构的左视结构示意图；
[0024]图3为本技术双边联动倾斜接触结构的右视结构示意图；
[0025]附图中涉及到的附图标记有：底座1，安装架2，压测电机3，高度调节旋钮4，调节手柄5，调节板6，第一滑轨7，第一滑块8，第一针座安装板9，联动板10，第二针座安装板11，第二滑块12，第二滑轨13，固定板14，螺旋轴15，过渡板16，第一探针17，第二探针18，水平调节螺丝19。
具体实施方式
[0026]下面通过具体实施方式进一步详细的说明：
[0027]本实施例的附图中相同或相似的标号对应相同或相似的部件；在本技术的描述中，需要理解的是，若有术语“上”、“下”、“左”、“右”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此附图中描述位置关系的用语仅用于示例性说明，不能理解为对本专利的限制，对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语的具体含义。
[0028]如图1
‑
3所示，现阶段针对SOT23
‑
6芯片烧录测试有很多种，芯片本身尺寸小，烧录
测试精度要求高，现有的自动化设备针对此sot23
‑
6芯片测试和烧录的良率不高，不方便调试等问题，且生产效率不高，针对于此，本实施例提供了双边联动倾斜接触结构，包括底座1、安装架2、驱动机构和测试针座；安装架2一侧固定安装于底座1上端，且安装架2与底座1之间形成5
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的夹角；测试针座通过驱动机构安装于安装架2上端另一侧；从而安装于安装架2上的测试针座则为倾斜方式，为避免倾斜角度过大而导致安装不稳定，影响测试精度，因此将夹角定为5
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。
[0029]底座1与测试针座分别安装于安装架2的两侧，即通过底座1进行底部的稳定与安装，也通过两侧设计对两侧的重力进行均衡，避免安装架2一侧过重，并且采用了倾斜方式来测试芯片，相对于现有设计，更方便在测试时查看芯片引脚与探针的接触，方便对位调节，提升测试精度，使探针角度更稳定接触此芯片引脚，提高效率。
[0030]测试针座包括联动连接的第一斜探针针座和第二斜探针针座，第一斜探针针座安装于安装架2上，且第一斜探针针座与安装架2平行，第一斜探针针座和第二斜探针针座通过联动板10连接；第一斜探针针座底部设有第一探针17，第二斜探针针座底部设有第二探针18，且第一探针17与第二探针18呈镜像对称，且第一探本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.双边联动倾斜接触结构，其特征在于：包括底座、安装架、驱动机构和测试针座；所述安装架一侧固定安装于底座上端，且所述安装架与底座之间形成5
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20
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的夹角；所述测试针座通过驱动机构安装于安装架上端另一侧；所述测试针座包括联动连接的第一斜探针针座和第二斜探针针座，所述第一斜探针针座安装于安装架上，且所述第一斜探针针座与安装架平行，所述第一斜探针针座和第二斜探针针座通过联动板连接；所述第一斜探针针座底部设有第一探针，所述第二斜探针针座底部设有第二探针，且所述第一探针与第二探针呈镜像对称，且所述第一探针与第二探针的底部处于同一水平面上。2.根据权利要求1所述的双边联动倾斜接触结构，其特征在于：所述第一斜探针针座包括第一针座安装板、第一滑块和第一滑轨，所述第一滑轨呈纵向安装于安装架上，所述第一针座安装板通过第一滑块与该第一滑轨滑动连接，所述第一探针安装于第一针座安装板上；所述第二斜探针针座包括固定板、第二针座安装板、第二滑块、第二滑轨；所述第二针座安装板一侧通过联动板与第一针座安装板的同侧连接，所述固定板通过调节板与安装架固定连接，所述第二滑轨呈纵向固定安装于固定板上，所述第二针座安装板通过第二滑块与第二滑轨滑动连接，且所述第二探针安装于第二针座安装板上。3.根据权利要求2所述的双边联动倾斜接触结构，其特征在于：所述安装架上...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱崇建，林辉敬，
申请(专利权)人：深圳市金创图电子设备有限公司，
类型：新型
国别省市：