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本实用新型涉及芯片测试技术领域，具体涉及双边联动倾斜接触结构，包括底座、安装架、驱动机构和测试针座；安装架一侧固定安装于底座上端，且安装架与底座之间形成5
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该专利属于深圳市金创图电子设备有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市金创图电子设备有限公司授权不得商用。

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